Пристрій для визначення параметрів деформацій підробленої товщі порід

Номер патенту: 25619

Опубліковано: 10.08.2007

Автори: Ларченко Віталій Григорович, Хоружа Наталія Вікторівна

Завантажити PDF файл.

Формула / Реферат

Пристрій для визначення параметрів деформацій підробленої товщі порід, що містить глибинні репери з дротом, обсадну трубу, замірну станцію, два направляючих блоки на шарикопідшипниках з натяжними вантажами, установлений на підставці лазерний прилад, хомут із прикріпленим штифтом, екран, який відрізняється тим, що на об'єктив лазерного приладу прикріплений направляючий пристрій із установленим на ньому рухомим повзунком зі штифтом, з'єднаним з одним із розрахункового числа кілець на дроті.

Текст

Пристрій для визначення параметрів деформацій підробленої товщі порід, що містить глибинні 3 25619 ція для спостережень за параметрами деформацій товщі порід; на Фіг.2-3 представлено схематично направляючий пристрій з повзунком і штифтом; на Фіг.4 зображення градуйованого екрана. Пристрій складається з замірної станції 1, глибинних реперів 2, з направляючими блоками 3 на шарикопідшипниках, прикріплених до обсадної труби 4, другої системи блоків 5, установлених на міцній нерухомій опорі з натяжними вантажами 6, дроту 7 зі звітним індексом 8 від глибинного репера 2. Посередині між блоками 3 і 5 установлений на підставці 9 лазерний прилад 10 з об'єктивом 11, який дотикається до дроту 7 із припаяними кільцями 12. На об'єктив 11 лазерного приладу 10 прикріплено двома хомутами 13, направляючий пристрій 14, на якому встановлений рухомий повзунок 15 зі штифтом 16, що входить у зачеплення одного з кілець 12. Для повного спостереження встановлений екран 17. Пристрій працює таким чином. Штифт 16 входить в одне з прикріплених до дроту 7 сполучних кілець 12 на горизонтальній ділянці дроту 7 між блоками 3 і 5 для спостережень за осіданням глибинного репера 2 щодо обсадної труби 4 (де формацією товщі). Сам направляючий пристрій 14 виходить за край лазерного приладу 10 (див. Фіг.2-3), щоб зменшити число з'єднуючи х кілець 12 на дроті 7, число яких складає 7 штук через інтервал, рівний 27мм. З'єднуючим кільцем 12 через штифт 16 синхронно повертається об'єктив 11 лазерного приладу 10. Для повного спостереження необхідно встановити екран 17 (див. Фіг.4), що розграфлений у виді різнокольорової сітки квадратів, для кращого спостереження руху і зсуву променя лазерного приладу 10. Промінь лазерного приладу 10 опускається на 4 один квадрат сітки екрана 17 за допомогою мікрометренного гвинта (не показаний на Фіг.). Для створення надійного механічного зв'язку штифт 16 переміщають на наступне з'єднуюче кільце 12, не перериваючи при цьому подальших спостережень. Тому досить буде вибрати екран 17 із прийнятими розмірами по горизонталі L=30м, висотою h=0,71м, відстань між квадратами сітки прийняти ΔS=100÷140мм, а зсув об'єктива лазерного приладу 10 при зміні з'єднуючих кілець 12 по висоті екранної сітки буде дорівнювати 0,1÷0,14мм. Для забезпечення надійного механічного зв'язку об'єктива 11 лазерного приладу 10 з дротом від глибинних реперів 2 необхідно прийняти висоту штифта з 15ти кратним запасом, що дорівнює 15мм. Схематичне зображення пристрою (див. Фіг.23), що забезпечує синхронність руху об'єктиву 11 лазерного приладу 10 і дроту 7 від глибинних реперів 2 з направляючим пристроєм 14, повзунком 15 зі штифтом 16 являє собою трубу лазерного приладу 10, на якій кріпиться направляючий пристрій 14 двома хомутами 13. По направляючому пристрою 14 рухається повзунок 15 зі штифтом 16 під одне зі з'єднуючих кілець 12 на дроті 7. Використання пропонованого пристрою для визначення параметрів деформацій підробленої товщі порід забезпечує в порівнянні з існуючими способами наступні переваги: 1. Синхронність руху дроту від глибинних реперів - по прямій й об'єктиву лазерного приладу по дузі окружності; 2. Зменшення довжини екрана з 190м до 30м (у 6,3 рази); 3. Надійний механічний зв'язок руху дроту з об'єктивом лазерного приладу. 5 Комп’ютерна в ерстка C.Литв иненко 25619 6 Підписне Тираж 26 прим. Міністерство осв іт и і науки України Держав ний департамент інтелектуальної в ласності, вул. Урицького, 45, м. Київ , МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислов ої в ласності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601

Дивитися

Додаткова інформація

Назва патенту англійською

Device for determining parameters characterizing deformation of developed rocks

Автори англійською

Larchenko Vitalii Hryhorovych, Khoruzha Natalia Viktorivna

Назва патенту російською

Устройство для определения параметров деформации разработанной горной породы

Автори російською

Ларченко Виталий Григорьевич, Хоружа Наталья Викторовна

МПК / Мітки

МПК: G01C 15/02

Мітки: деформацій, товщі, визначення, параметрів, порід, підробленої, пристрій

Код посилання

<a href="https://ua.patents.su/3-25619-pristrijj-dlya-viznachennya-parametriv-deformacijj-pidrobleno-tovshhi-porid.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Пристрій для визначення параметрів деформацій підробленої товщі порід</a>

Подібні патенти