Пристрій контролю висотного положення деформаційних марок

Пристрій контролю висотного положення деформаційних марок, що містить двоканальний оптикоелектронний пристрій з об’єктивом та багатоелементним фотоприймачем, з каналами, розвернутими на 180°, кожний з яких має джерело світла з діафрагмою, блок обробки інформації та 3 35741 4 каналів і значення вертикального кута на світлові пляють через оптичний світлорозподільний блок 2 марки, чим підвищується точність вимірювань. і скануючий блок 3 в об’єктив 4. Об’єктив 4 формує Використання оптичного світлорозподільного зображення світлових випромінювачів 1.1 і 1.2. в блоку та блоку почергового відкриття та закриття приймальній площині багатоелементного фотошторок світлових каналів дозволяє почергово споприймача 5. Блок шторок 10 почергово відчиняє стерігати джерела світла з обох каналів за допошторки, пропускаючи світловий потік то від світломогою одного об’єктива та багатоелементного фового випромінювача 1.1, або від світлового випротоприймача, що спрощує конструкцію пристрою та мінювача 1.2. при цьому скануючий клинковий здешевлює його вартість. блок 3 з датчиком кута повороту має обертання Сутність запропонованої корисної моделі понавколо вертикальної вісі, що здійснюється мехаяснюється наступними кресленнями. На Фіг.1 понізмом приводу, який забезпечує сканування світказано блок-схему запропонованого приладу: ловим променем (1.1 і 1.2. почергово) площини 1 - джерела світла з діафрагмами (1.1-ліве, багатоелементного фотоприймача 5 і цим самим 1.2-праве); дозволяє суттєво підвищити точність фіксації по2 - оптичний світлорозподільний блок; ложення зображення світлових випромінювачів 3 - скануючий блок з механізмом приводу; 1.1. і 1.2. відносно оптичної осі системи блоків 2, 4, 4 - об’єктив; 5. 5 - багатоелементний фотоприймач (наприДані вимірювань положення світлових промеклад, ПЗЗ-матриця) з попереднім підсилювачем; нів 1.1. і 1.2. З блоку 5 надходять в блок 6, де ви6 - блок обліку засвічених пікселів; конується облік засвічених пікселів. Далі, в блоці 7 7 - електронний блок обробки інформації; визначаються кутові координати вертикальних 8 - блок індикації з клавішним пристроєм; напрямків « джерело світла з діафрагмою 1.1. 9 - корпус оптикоелктронного пристрою (ОЕП). об’єктив 4 (через світлорозподільний блок 2)» і На Фіг. 2 показано схематичне конструктивне «джерело світла з діафрагмою 1.2. - об’єктив 4 виконання приладу, при цьому введені позначен(через світлорозподільний блок 2)» і обчислюється ня: вертикальний кут між цими напрямками. Ці дані 10 - блок почергового відкриття та закриття надходять в блок індикації 8. З використанням шторок світлових каналів; клавіатури блоку 8 вводяться необхідні атрибути11 - прецизійна стикувальна основа приладу; вні дані та виконується керування роботою при12 - прецизійна стикувальна основа джерела строю. В блоці запису і зберігання інформації висвітла; конується запис та збереження інформації щодо 13 - блок запису і зберігання інформації. висотного положення деформаційних марок. Блоки ОЕП 2...11 змонтовані в одному корпусі Таким чином, запропонований пристрій дозво9. ОЕП прецизійною основою 11 встановлено і ляє підвищити точність визначення висотного поз’єднано з відповідним точним механізмом дефоложення деформаційних марок та зменшити варрмаційної марки (ДМ) на даній нівелірній точці. В тість конструкції. суміжних нівелірних точках на таких же точних Література: механізмах ДМ встановлені своїми основами 12 1. Баран П.И., Видуев Н.Г., Войтенко СП., Повипромінювачі світла 1(1.1. і 1.2). лищук Ю.В., Шевердин П.Г. Справочник по инжеПристрій контролю висотних відміток дефорнерной геодезии. Киев. „Вища школа", 1978, 376с. маційних марок працює наступним чином. (с.69-88). Вимірювання починають від опорного реперу 2. Боровий В.О., Бурачек В.Г., Шульц Р.В. нівелірного ходу (опорної ДМ №1), на якій встаноСпосіб контролю стабільності положення елеменвлюють джерело світла з діафрагмою 1.1; на ДМ тів споруди. Патент на винахід №79458, від №2 - встановлюють ОЕП; на ДМ №3 встановлю25.06.2007. Бюл. №9, 2007p. Державний департають джерело світла з діафрагмою 1.2 (Фіг.2). мент інтелектуальної власності. При включенні ОЕП і джерел світла з діафрагмами 1.1. і 1.2. світлові потоки від останніх потра 5 Комп’ютерна в ерстка А. Крижанівський 35741 6 Підписне Тираж 28 прим. Міністерство осв іт и і науки України Держав ний департамент інтелектуальної в ласності, вул. Урицького, 45, м. Київ , МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислов ої в ласності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601