Білоус Микола Васильович

Номер патенту: 95450

Опубліковано: 10.08.2011

Автори: Крячок Сергій Дмитрович, Малік Тетяна Миколаївна, Бурачек Всеволод Германович, Білоус Микола Васильович

МПК: G01C 5/00

Мітки: контролю, марок, пристрій, деформаційних, положення, висотного

Формула / Реферат:

Пристрій контролю висотного положення деформаційних марок, що містить двоканальний оптикоелектронний пристрій з об'єктивом та багатоелементним фотоприймачем, з каналами, розвернутими на 180°, кожний з яких має джерело світла з діафрагмою, блок обробки інформації та блок індикації, який відрізняється тим, що двоканальний оптикоелектронний пристрій містить оптичний світлорозподільний блок, робочі відбивні грані якого розташовані під кутом 45°...

Номер патенту: 95449

Опубліковано: 10.08.2011

Автори: Малік Тетяна Миколаївна, Білоус Микола Васильович, Бурачек Всеволод Германович, Крячок Сергій Дмитрович

МПК: G01C 5/00

Мітки: деформаційних, марок, спосіб, контролю, висотного, положення

Формула / Реферат:

Спосіб контролю висотних відміток деформаційних марок, що ґрунтується на фотоелектричній реєстрації відносного положення трьох суміжних марок, який відрізняється тим, що фотоелектричний вимірювальний прилад (ФЕП) з'єднують з посадковою конструкцією деформаційної марки, світлові випромінювачі з'єднують також з сусідніми по обидва боки від ФЕП деформаційними марками, а світлові потоки від світлових випромінювачів направляють в об'єктив ФЕП і...

Номер патенту: 35741

Опубліковано: 10.10.2008

Автори: Малік Тетяна Миколаївна, Крячок Сергій Дмитрович, Білоус Микола Васильович, Бурачек Всеволод Германович

МПК: G01C 5/00

Мітки: контролю, марок, деформаційних, пристрій, висотного, положення

Формула / Реферат:

Пристрій контролю висотного положення деформаційних марок, що містить двоканальний оптикоелектронний пристрій з об’єктивом та багатоелементним фотоприймачем, з каналами, розвернутими на 180°, кожний з яких має джерело світла з діафрагмою, блок обробки інформації та блок індикації, який відрізняється тим, що двоканальний оптикоелектронний пристрій містить оптичний світлорозподільний блок, робочі відбивні грані якого розташовані під кутом 45°...

Номер патенту: 35740

Опубліковано: 10.10.2008

Автори: Малік Тетяна Миколаївна, Білоус Микола Васильович, Бурачек Всеволод Германович, Крячок Сергій Дмитрович

МПК: G01C 5/00

Мітки: положення, спосіб, контролю, марок, деформаційних, висотного

Формула / Реферат:

Спосіб контролю висотного положення деформаційних марок, що ґрунтується на фотоелектричній реєстрації відносного положення трьох суміжних марок, який відрізняється тим, що фотоелектричний вимірювальний прилад (ФЕП) з'єднують з посадковою конструкцією деформаційної марки, світлові випромінювачі з'єднують також з сусідніми по обидва боки від ФЕП деформаційними марками, а світлові потоки від світлових випромінювачів направляють в об'єктив ФЕП і...