Завантажити PDF файл.

Формула / Реферат

Спосіб контролю висотного положення деформаційних марок, що ґрунтується на фотоелектричній реєстрації відносного положення трьох суміжних марок, який відрізняється тим, що фотоелектричний вимірювальний прилад (ФЕП) з'єднують з посадковою конструкцією деформаційної марки, світлові випромінювачі з'єднують також з сусідніми по обидва боки від ФЕП деформаційними марками, а світлові потоки від світлових випромінювачів направляють в об'єктив ФЕП і вимірюють різницю кутових відхилень зображень світлових випромінювачів в полі зору ФЕП, потім ФЕП переставляють на сусідню марку за напрямом нівелірного ходу, а світлові випромінювачі переставляють також на сусідні по ходу марки і виконують вимірювання, аналогічне попередньому; далі повторюють описані операції по всьому нівелірному ходу, а за отриманими різницями кутових відхилень зображень світлових випромінювачів на всіх деформаційних марках, включаючи марки на опорних реперах, розраховують і зрівнюють значення висотних відміток деформаційних марок і порівнюють ці значення з отриманими у попередньому черговому циклі вимірів.

Текст

Спосіб контролю висотного положення деформаційних марок, що ґрунтується на фотоелектричній реєстрації відносного положення трьох суміжних марок, який відрізняється тим, що фотоелектричний вимірювальний прилад (ФЕП) з'єднують з посадковою конструкцією деформаційної марки, світлові випромінювачі з'єднують 3 35740 3 - скануючий блок з клином і механізмом приводу; 4 - об'єктив; 5 - дискретний фотоаналізатор(наприклад, ПЗЗ-матриця); 6 - електронний блок обробки інформації; 7 - блок індикації; 8 - блок запису і зберігання інформації. На Фіг.2 показаний схематично конструктивне виконання приладу, при цьому введені позначення: 9 - корпус фотоелектричного вимірювального приладу(ФЕП); 10 - блок шторок з механізмом почергового „відкриття-закриття"; 11 - прецизійна з'єднувальна основа приладу; 12 - прецизійна з'єднувальна основа світлового випромінювача; 13 - клавішний пристрій. Блоки ФЕП 2...11 змонтовані в одному корпусі 9. ФЕП прецизійною основою 11 встановлено і з'єднано з відповідним точним механізмом деформаційної марки(ДМ) на даній нівелірній точці. В суміжних нівелірних точках на таких же точних механізмах ДМ встановлені своїми основами 12 випромінювачі світла 1(1.1. і 1.2) Технологія контролю відносних висот ДМ по запропонованому способу здійснюється за допомогою описаного приладу наступним чином: 1. Контроль починають від опорного реперу нівелірного ходу (опорної ДМ №1), на якій встановлюють світловий випромінювач 1.1; на ДМ №2 встановлюють ФЕП; на ДМ №3 встановлюють світловий випромінювач 1.2 (рис. 2). При включенні ФЕП і світлових випромінювачів 1.1. і 1.2. світлові потоки від останніх потрапляють через світлорозподільний блок 2 і скануючий блок 3 в об'єктив 4. Об'єктив 4 формує зображення світлових випромінювачів 1.1 і 1.2. в приймальній площині фотоаналізатору 5. Блок шторок 10 почергово відчиняє шторки, пропускаючи світловий потік то від світлового випромінювача 1.1, або від світлового випромінювача 1.2. при цьому скануючий клинковий блок 3 має обертання навколо вертикальної вісі, що здійснюється механізмом приводу, який забезпечує сканування світловим променем (1.1 і 1.2. почергово) площини фотоаналізатора 5 і цим самим дозволяє суттєво 4 підвищити точність фіксації положення зображення світлових випромінювачів 1.1. і 1.2. відносно оптичної осі системи блоків 2, 4,5. Дані вимірювань положення світлових променів 1.1. і 1.2. в блоці 5 поступають в блок 6, де визначають кутові координати вертикальних напрямків «світловий випромінювач 1.1. - об'єктив 4 (через світло розподільник 2)» і « світловий випромінювач 1.2. - об'єктив 4 (через світло розподільник 2)» і обчислюють вертикальний кут між цими напрямками. Ці дані надходять в блок 8. В пам'ять блоку 6 введені дані попереднього контролю цих же ДМ, при цьому номери ДМ вводять через клавішний пристрій 13 блоку індикації 7 і на табло останнього висвітлюється величина відхилення виміряного вертикального кута від отриманого під час попереднього контролю. 2. Після виконання роботи на ДМ №№ 1, 2, 3 переставляють ФЕП і світлові випромінювачі 1.1. і 1.2. на наступні марки нівелірного ходу - на №№2, 3, 4 (ФЕП на №3). Всі описані в п. 1 операції повторюють, а потім переходять на ДМ №№ 3,4,5 ; 4,5,6 ... n-2, n-1, n, де n - опорний репер. 3. В процесі вимірювань звертають увагу на величини відхилень виміряних вертикальних кутів від кутів, отриманих на попередніх етапах контролю і порівнюють з встановленим допуском. Дані зі всього контрольному ходу (виміряні вертикальні кути) з блоку 8 вводять в комп'ютер разом з відмітками реперів ДМ №1 ДМ № n і обчислюють виправленні перевищення для кожної ДМ (з врахуванням розподілу поправок за нев'язки в ході), а також виконують оцінку точності отриманих результатів. Таким чином, запропонований спосіб дозволяє виключити трудомісткі візуальні високоточні вимірювання і замінити їх автоматичними - і за рахунок цього отримати суттєвий те хніко-економічний ефект. Література: 1. Баран П.И., Видуев Н.Г., Войтенко СП., Полищук Ю.В., Шевердин П.Г. Справочник по инженерной геодезии. Киев. „Вища школа", 1978, 376с. (с.69-88) 2. Бойко І.П., Боровий В.О. та ін. Спосіб контролю точності положення елементів споруди. Деклараційний патент на корисну модель №14992 від 15.06.2006. Бюл. №6. Державний департамент інтелектуальної власності. 5 Комп’ютерна в ерстка Л. Купенко 35740 6 Підписне Тираж 28 прим. Міністерство осв іт и і науки України Держав ний департамент інтелектуальної в ласності, вул. Урицького, 45, м. Київ , МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислов ої в ласності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601

Дивитися

Додаткова інформація

Назва патенту англійською

Method for control of elevation position of deformation marks

Автори англійською

Bilous Mykola Vasyliovych, Burachek Vsevolod Hermanovych, Kriachok Serhii Dmytrovych, Malik Tetiana Mykolaivna

Назва патенту російською

Способ контроля высотного положения деформационных марок

Автори російською

Белоус Николай Васильевич, Бурачек Всеволод Германович, Крячок Сергей Дмитриевич, Малик Татьяна Николаевна

МПК / Мітки

МПК: G01C 5/00

Мітки: марок, спосіб, деформаційних, положення, контролю, висотного

Код посилання

<a href="https://ua.patents.su/3-35740-sposib-kontrolyu-visotnogo-polozhennya-deformacijjnikh-marok.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб контролю висотного положення деформаційних марок</a>

Подібні патенти