Сигналізатор наявності магнітних частинок в мастилі

Сигналізатор наявності магнітних частинок в мастилі, що включає джерело оптичного випромінювання, поляризатор та магнітооптичний кристал з постійним магнітом, розташованим між полюсами насадок, аналізатор та фотоприймач, з'єднаний з реєструючим пристроєм та джерелом живлення, який відрізняється тим, що має котушку підмагнічування, розміщену на одній із насадок, яка з'єднана з генератором струму. (19) (21) u200814290 (22) 11.12.2008 (24) 25.03.2009 (46) 25.03.2009, Бюл.№ 6, 2009 р. (72) ЛІНЧЕВСЬКИЙ ІГОР ВАЛЕНТИНОВИЧ, UA, ТРОНЬКО ВОЛОДИМИР ДМИТРОВИЧ, UA (73) ЛІНЧЕВСЬКИЙ ІГОР ВАЛЕНТИНОВИЧ, UA, ТРОНЬКО ВОЛОДИМИР ДМИТРОВИЧ, UA 3 Поставлена задача вирішується тим, що, пристрій, що заявляється, має котушку підмагнічування, розміщену на одній із насадок, яка з'єднана з генератором струму, Суть запропонованої корисної моделі пояснюється кресленням, яке зображене на Фіг. На Фіг. представлена схема запропонованого сигналізатора наявності магнітних частинок 1 в мастилі, де котушка підмагнічування 2 знаходиться на одній з двох насадок 3. Сама котушка підмагнічування 2 з'єднана з генератором струму 13. Джерело оптичного випромінювання 5, поляризатор 6, магнітооптичний кристал 7, аналізатор 8 та фотоприймач 9 установлюють послідовно на одній оптичній осі. Магнітооптичний кристал 7 установлюють між насадками 3. Елементи 2,5-9 пристрою розміщені в герметичному корпусі 10. Вихід фотоприймача 9 з'єднують з входом реєструючого пристрою 11, який підключають до виходу джерела живлення 12. Пристрій, що заявляється працює наступним чином. Оптичне випромінювання джерела оптичного випромінювання 5 після проходження через поляризатор б має лінійну поляризацію. На виході аналізатора 8 інтенсивність світового потоку І 2 задається виразом I 2=I 1cos2lCB, де I 1 - інтенсивність світового потоку на вході магнітооптичного кристала 7, а 1 - довжина шляху світла в магнітооптичному кристалі 7, С - постійна Фарадея магнітооптичного кристала, В - індукція магнітного поля, В=В0+В~, де В0 - постійна складова магнітного поля, В~ - змінна складова. При цьому, для забезпечення лінійного режиму роботи магнітооптичного модулятора, осі поляризатора та аналізатора повинні бути орієнтовані паралельно один до одного, а величина постійної складової вибирається за умови IСВo=л/2, тоді при малих IСВ~, І2=I 1cos2-х=хох (1СВ~+p/2)=I 1sin2 (IСВ~)=I1 1СВ~. Модульоване оптичне випромінювання при виході із аналізатора 8 потрапляє на фотоприймач 9, де перетворюється в електричні імпульси і потрапляє на вхід реєструючого пристрою. Постійне магнітне поле Во всередині магнітооптичного кристала 7 утворюється котушкою підмагнічування 2, насадками 3 та генератором струму. Елементи 3 та 7 створюють замкнутий магнітопровід. При проходженні магнітної частинки 1 у зазорі між насадками 3 магнітна частинка 1 замикає через себе частину магнітного потоку, який створює котушка підмагнічування 2 в насадках 3. Індукція В у замкнутому магнітопроводі залежить від магнітної проникності середовища В=mm 0Но, (Но - напруженість поля, m - магнітна проникність, m 0 магнітна постійна). Тому, якщо на будь якій ділянці замкнутого кола змінити магнітну проникність це призводить до зміни магнітного поля у магніто проводі в цілому. Тому, амплітуда В~ буде визначатися розміром частинки 1 її магнітною проникністю m, та постійним магнітним полем Но яке утворює котушка підмагнічування 2. 40290 4 Генератор струму 13 на своєму виході має періодичні прямокутні однополярні імпульси. Під час подачі імпульсу виникає постійне поле Во та відбувається реєстрація магнітних частинок, що знаходяться в мастилі. Під час залишкового часу періоду, коли на виході джерела струму імпульс відсутній, магнітні частинки, які знаходяться у мастилі, періодично відпадають від полюсів насадок та змиваються маслом. Таким чином, частина часу за період джерела струму використовується саме для реєстрації магнітних частинок в мастилі, а інша - для попередження накопичення цих частинок між полюсами. Запропонований пристрій має тільки один замкнутий магнітопровід, магнітний потік не перерозподіляється між контурами, тому проходження такої самої магнітної частинки призводить до суттєвої зміни магнітного поля в магнітооптичному кристалі. Це дає можливість досягти більшої чутливості сигналізатора. Таким чином, при проходженні частинки у зазорі між насадками виникає зміна магнітної індукції в межах магнітооптичного кристалу, та відповідно модуляція оптичного випромінювання та поява електричного імпульсу на виході фотоприймача. Амплітуда та протяжність імпульсу характеризують відповідно розміри та швидкість пересування магнітної частинки, а їх кількість в одиницю часу дозволяє оцінить концентрацію частинок того чи іншого розміру у мастилі. Використання котушки підмагнічування 2 та генератора струму 13 створює умови періодичного очищення зазору між насадками, магнітні частинки які знаходяться у мастилі періодично відпадають від полюсів насадок 3 та змиваються мастилом. При практичному впровадженні пристрою, що заявляється можуть бути використані в якості джерела оптичного випромінювання світлодіод АЛ - 108, поляризатор та аналізатор - призма ГланаФуко. Магнітооптичний кристал ВМГРЭС - 5, насадки - ферит марки 3000Н, реєструючий пристрій осцилограф С1 - 72, генератор струму - генератор Г5 - 67. Використання пристрою, що заявляється дозволить значно підвищити інформативність сигналізатора наявності магнітних частинок в мастилі, що має велике значення при експлуатації двигунів, наприклад для літаків, тому що дозволяє прослідкувати швидкість виникнення магнітних частинок у часі, їх розміри та зробити правильний висновок стосовно причини їх утворення, застосувати своєчасно заходи для усунення предаварійної ситуації на борту літака. Джерела інформації: 1. Патент США №4008464, кл. 340-239К, 1977р. 2. Патент США №3432750, кл. 324-41, 1969р. 3. Патент США №3404337, кл. 324-41, 1968р. 4. Авторське свідоцтво СРСР №1822923, бюл. №23, 23.06.1993р. 5 Комп’ютерна верстка C.Литвиненко 40290 6 Підписне Тираж 28 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601