Завантажити PDF файл.

Формула / Реферат

Пристрій для визначення оптичних властивостей об'єктів, що містить фотометричну головку, що оптично і непорушно з'єднана з джерелом оптичного випромінювання та приймачем оптичного випромінювання, а її електрична система з'єднана з контрольно-вимірювальною системою, до складу якої входять мікроконтролер, мікропроцесор та блок пам'яті, який відрізняється тим, що він додатково містить напівпрозору скануючу систему, розташовану перед координатним приймачем випромінювання та підключену до мікропроцесора.

Текст

Пристрій для визначення оптичних властивостей об'єктів, що містить фотометричну головку, що оптично і непорушно з'єднана з джерелом оптичного випромінювання та приймачем оптичного випромінювання, а її електрична система з'єднана з контрольно-вимірювальною системою, до складу якої входять мікроконтролер, мікропроцесор та блок пам'яті, який відрізняється тим, що він додатково містить напівпрозору скануючу систему, розташовану перед координатним приймачем випромінювання та підключену до мікропроцесора. (19) (21) u200907371 (22) 13.07.2009 (24) 25.11.2009 (46) 25.11.2009, Бюл.№ 22, 2009 р. (72) БОТВИНОВСЬКИЙ ДМИТРО ВАДИМОВИЧ, ЯРИЧ АНДРІЙ ВОЛОДИМИРОВИЧ, БЕЗУГЛИЙ МИХАЙЛО ОЛЕКСАНДРОВИЧ (73) НАЦІОНАЛЬНИЙ ТЕХНІЧНИЙ УНІВЕРСИТЕТ УКРАЇНИ "КИЇВСЬКИЙ ПОЛІТЕХНІЧНИЙ ІНСТИТУТ" 3 снювати регенерацію дифузної картинки, тим самим зменшуючи вплив аберацій еліптичного дзеркала. Поставлена задача вирішується тим, що в пристрої для визначення оптичних властивостей об'єктів, що містить фотометричну головку, що оптично і непорушно з'єднана з джерелом оптичного випромінювання та приймачем оптичного випромінювання, а її електрична система з'єднана з контрольно-вимірювальною системою, до складу якої входять мікроконтролер, мікропроцесор та блок пам'яті, новим є те, що він додатково містить напівпрозору координатну скануючу систему, розташовану перед координатним приймачем випромінювання та підключену до мікропроцесора. Можливість визначення координат проходження променя досягається тим, що в пристрої, який пропонується, встановлено напівпрозору координатну скануючу систему перед координатним приймачем випромінювання, що забезпечує електронне сканування відповідно до алгоритму програмного забезпечення мікропроцесору. При цьому одночасно фіксуються координати променів, які потрапляють на координатний приймач випромінювання через відкриті елементи напівпрозорої координатної скануючої системи і запам'ятовуються. Після сканування координатним приймачем по кожному відкритому елементу напівпрозорої координатної скануючої системи виконується програмна регенерація картинки дифузно відбитого (розсіяного назад) світла об'єктом, що розташований в іншій фокальній площині. Сутність корисної моделі пояснюється кресленням, де на Фіг. зображено функціональну структурну схему пристрою для визначення оптичних властивостей об'єктів. Джерело 1 оптичного випромінювання непорушно з'єднане з фотометричною головкою 2, до складу якої входять оптичний елемент 3 і два дзеркала: плоске 4 та з поверхнею еліпсоїда обертання 6, причому джерело 1 оптичного випромінювання розташовано на одній оптичній осі з оптичним елементом 3 та плоским дзеркалом 4, розміщеним в середині еліпсоїда обертання. Фотометричну головку 2 виготовляють з необхідними конструктивними параметрами, виходячи з вирішуваних завдань. Оптично прозора кришка 7 закриває поверхню контакту фотометричної головки 2 з досліджуваною поверхнею 5, захищаючи внут 45893 4 рішні поверхні фотометричної головки 2 від забруднення, і в разі необхідності знімається. Первинну обробку сигналу з приймача 9 оптичного випромінювання здійснює мікроконтролер 10, що системно поєднаний з мікропроцесором 11 та блоком пам'яті 13, управління напівпрозорою координатною скануючою системою 8 здійснюється за допомогою мікропроцесору 11, результати визначення оптичних властивостей об'єкта відображаються за допомогою системи відображення даних 12. Живлення джерела оптичного випромінювання 1, приймача 9 оптичного випромінювання, напівпрозорої координатної скануючої системи 8, мікроконтролеру 10, мікропроцесору 11, блоку пам'яті 13 та системи відображення даних 12 здійснюється від джерела 14 живлення. Використання у складі контрольно-вимірювальної апаратури мікроконтролера 10, мікропроцесора 11, блоку пам'яті 13 та системи відображення даних 12 дозволяє виготовити цей пристрій як єдиний автономний прилад. Запропонований пристрій працює у такій послідовності. Світловий потік від джерела 1 оптичного випромінювання направляють у фотометричну головку 2 через оптичний елемент 3 і за допомогою плоского дзеркала 4 спрямовують на досліджувану поверхню 5, яка знаходиться в одній з фокальних площин еліпсоїдного дзеркала 6. Дифузно відбите зразком світло падає на поверхню еліпсоїдного дзеркала 6 та збирається в другій фокальній площині, в якій розміщено напівпрозору координатну скануючу систему 8, в ньому відповідно до алгоритму програми мікропроцесору 11 відбувається електронне сканування відповідних елементів, і випромінювання через відкриті елементи потрапляє на координатний приймач 9 оптичного випромінювання, зумовлюючи виникнення у ньому відповідного фотоструму. Далі інформаційний сигнал надходить на мікроконтролер 10, де після підсилення та аналого-цифрового перетворення обробляється та передається у мікропроцесор 11. У мікропроцесорі він оброблюється і порівнюється з даними, які зберігаються у блоці пам'яті 13. Потім результуючий сигнал відображається за допомогою системи відображення даних 12. Змінюючи кількість одночасно відкритих елементів напівпрозорої координатної скануючої системи керують співвідношенням швидкодія/точність при визначенні оптичних властивостей конкретного об'єкту. 5 Комп’ютерна верстка Л. Ціхановська 45893 6 Підписне Тираж 28 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601

Дивитися

Додаткова інформація

Назва патенту англійською

Device for determination of optical properties of objects

Автори англійською

Botvinovskyi Dmytro Vadymovych, Yarych Andrii Volodymyrovych, Bezuhlyi Mykhailo Oleksandrovych

Назва патенту російською

Устройство для определения оптических свойств объектов

Автори російською

Ботвиновский Дмитрий Вадимович, Ярич Андрей Владимирович, Безуглый Михаил Александрович

МПК / Мітки

МПК: G01N 21/47, G01N 21/55

Мітки: властивостей, об'єктів, пристрій, визначення, оптичних

Код посилання

<a href="https://ua.patents.su/3-45893-pristrijj-dlya-viznachennya-optichnikh-vlastivostejj-obehktiv.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Пристрій для визначення оптичних властивостей об’єктів</a>

Подібні патенти