Спосіб контролю якості речовин
Номер патенту: 47427
Опубліковано: 10.02.2010
Автори: Василіна Володимир Григорович, Дупліщева Ольга Михайлівна, Данько Анатолій Федорович, Городничий Валерій Васильович, Порубаймех Володимир Ілліч, Зайцев Віктор Іванович
Формула / Реферат
Спосіб контролю якості речовин, який містить установлення вимірювального елемента у вимірювальний прилад, вимірювання початкових значень параметрів вимірювального елемента, поміщення у вимірювальний елемент посудини з визначеною кількістю еталонної речовини, вимірювання номінальних значень параметрів вимірювального елемента, поміщення у вимірювальний елемент такої ж кількості досліджуваної речовини, як й еталонної речовини, вимірювання одержаних значень параметрів вимірювального елемента і висновок про якість досліджуваної речовини за величиною відхилення одержаних значень параметрів вимірювального елемента від номінальних значень, який відрізняється тим, що поміщують визначену кількість досліджуваної еталонної недіелектричної речовини у вимірювальний елемент вимірювального приладу, вимірюють електричні параметри досліджуваної еталонної недіелектричної речовини, підбирають набір резисторів для досліджуваної недіелектричної речовини таким чином, щоб чутливість вимірювального приладу на цю речовину була максимальною, приймають підібраний набір резисторів за електричний еталон досліджуваної еталонної недіелектричної речовини, поміщують у вимірювальний елемент вимірювального приладу таку ж кількість досліджуваної недіелектричної речовини, як й еталонної недіелектричної речовини, вимірюють електричні параметри досліджуваної недіелектричної речовини і роблять висновок про якість досліджуваної недіелектричної речовини за величиною відхилення значень електричних параметрів досліджуваної недіелектричної речовини від значень параметрів електричного еталона.
Текст
Спосіб контролю якості речовин, який містить установлення вимірювального елемента у вимірювальний прилад, вимірювання початкових значень параметрів вимірювального елемента, поміщення у вимірювальний елемент посудини з визначеною кількістю еталонної речовини, вимірювання номінальних значень параметрів вимірювального елемента, поміщення у вимірювальний елемент такої ж кількості досліджуваної речовини, як й еталонної речовини, вимірювання одержаних значень параметрів вимірювального елемента і висновок про якість досліджуваної речовини за величиною від U 2 (19) 1 3 нального значення (Пат. 51717 Україна, МПК7 G01N 29/2, Бюл. №12, 2002 - прототип). Недолік цього способу полягає в тому, що він не завжди забезпечує потрібну точність контролю якості речовини під час вимірювання добротності вимірювальної котушки через вплив на вимірювальну котушку навколишнього середовища. В основу корисної моделі "Спосіб контролю якості речовин" поставлено завдання підвищення точності контролю якості речовин за рахунок виключення з контролю якості речовини операції вимірювання добротності вимірювальної котушки. Для вирішення поставленого завдання пропонується спосіб, при якому для контролю якості недіелектричної речовини поміщують визначену кількість досліджуваної еталонної недіелектричної речовини у вимірювальний елемент вимірювального приладу, вимірюють електричні параметри досліджуваної еталонної недіелектричної речовини, підбирають набір резисторів для досліджуваної недіелектричної речовини таким чином, щоб чутливість вимірювального приладу на цю речовину була максимальною, приймають підібраний набір резисторів за електричний еталон досліджуваної еталонної недіелектричної речовини, поміщують у вимірювальний елемент вимірювального приладу таку ж кількість досліджуваної недіелектричної речовини, як й еталонної недіелектричної речовини, вимірюють електричні параметри досліджуваної недіелектричної речовини і роблять висновок про якість досліджуваної недіелектричної речовини за величиною відхилення значень електричних параметрів досліджуваної недіелектричної речовини від значень параметрів електричного еталона; для контролю якості діелектричної речовини поміщують визначену кількість досліджуваної еталонної діелектричної речовини у вимірювальний елемент вимірювального приладу, вимірюють електричні параметри досліджуваної еталонної діелектричної речовини, підбирають набір електричних ємностей для досліджуваної еталонної діелектричної речовини таким чином, щоб чутливість вимірювального приладу на цю речовину була максимальною, приймають підібраний набір електричних ємностей за електричний еталон досліджуваної еталонної діелектричної речовини, поміщують у вимірювальний елемент вимірювального приладу таку ж кількість досліджуваної діелектричної речовини, як й еталонної діелектричної речовини, вимірюють електричні параметри досліджуваної діелектричної речовини і роблять висновок про якість досліджуваної діелектричної речовини за величиною відхилення значень електричних параметрів досліджуваної діелектричної речовини від значень параметрів електричного еталона. Відмітними істотними ознаками запропонованого способу є такі технологічні операції: - поміщують визначену кількість досліджуваної еталонної недіелектричної речовини у вимірювальний елемент вимірювального приладу; - вимірюють електричні параметри досліджуваної еталонної недіелектричної речовини; - підбирають набір резисторів для досліджуваної недіелектричної речовини таким чином, щоб 47427 4 чутливість вимірювального приладу на цю речовину була максимальною; - приймають підібраний набір резисторів за електричний еталон досліджуваної еталонної недіелектричної речовини; - поміщують у вимірювальний елемент вимірювального приладу таку ж кількість досліджуваної недіелектричної речовини, як й еталонної недіелектричної речовини; - вимірюють електричні параметри досліджуваної недіелектричної речовини; - роблять висновок про якість досліджуваної недіелектричної речовини за величиною відхилення значень електричних параметрів досліджуваної недіелектричної речовини від значень параметрів електричного еталона. Сукупність відомих істотних ознак: - установлення вимірювального елемента у вимірювальний прилад; - вимірювання початкових параметрів вимірювального елемента; - поміщення у вимірювальний елемент посудини з визначеною кількістю еталонної речовини; - вимірювання номінальних значень параметрів вимірювального елемента; - поміщення у вимірювальний елемент такої ж кількості досліджуваної речовини, як й еталонної речовини; - вимірювання одержаних значень параметрів вимірювального елемента; - висновок про якість досліджуваної речовини за величиною відхилення одержаних значень параметрів вимірювального елемента від номінальних значень, і нових істотних ознак підвищує точність контролю якості речовин та зменшує трудомісткість процесу контролю, пов'язану з підготовкою еталонної речовини. Спосіб здійснюється таким чином. Для проведення контролю якості недіелектричної речовини поміщують визначену кількість досліджуваної еталонної недіелектричної речовини у вимірювальний елемент вимірювального приладу, вимірюють електричні параметри досліджуваної еталонної недіелектричної речовини, підбирають набір резисторів для досліджуваної еталонної недіелектричної речовини таким чином, щоб чутливість вимірювального приладу на цю речовину була максимальною, приймають підібраний набір резисторів за електричний еталон досліджуваної еталонної недіелектричної речовини, поміщують у вимірювальний елемент вимірювального приладу таку ж кількість досліджуваної недіелектричної речовини, як й еталонної недіелектричної речовини, вимірюють електричні параметри досліджуваної недіелектричної речовини і роблять висновок про якість досліджуваної недіелектричної речовини за величиною відхилення значень електричних параметрів досліджуваної недіелектричної речовини від значень параметрів електричного еталона. Запропонований спосіб контролю якості недіелектричної речовини підвищує точність контролю за рахунок виключення впливу навколишнього середовища на точність вимірювання та зменшує трудомісткість процесу контролю, пов'язану з під 5 47427 готовкою еталонної недіелектричної речовини. Проведено серію експериментів щодо контролю якості діелектричних матеріалів (питної води, технічного спирту) та недіелектричних матеріалів (різних концентрацій харчової солі NaCl у воді), які підтвердили здійснення способу, що пропонується. Комп’ютерна верстка М. Ломалова 6 Проведені випробування показали, що запропонований спосіб забезпечує контроль якості діелектричної та недіелектричної речовин із похибкою ±1%, що задовольняє вимоги щодо точності, які ставляться під час контролю якості речовин. Підписне Тираж 28 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюMethod for control of quality of substances
Автори англійськоюVasylina Volodymyr Hryhorovych, Horodnychyi Valerii Vasyliovych, Danko Anatolii Fedorovych, Duplischeva Olha Mykhailivna, Zaitsev Viktor Ivanovych, Porubaimekh Volodymyr Illich
Назва патенту російськоюСпособ контроля качества веществ
Автори російськоюВасилина Владимир Григорьевич, Городничий Валерий Васильевич, Данько Анатолий Федорович, Дуплищева Ольга Михайловна, Зайцев Виктор Иванович, Порубаймех Владимир Ильич
МПК / Мітки
МПК: G01N 27/02
Мітки: якості, спосіб, контролю, речовин
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/3-47427-sposib-kontrolyu-yakosti-rechovin.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб контролю якості речовин</a>
Попередній патент: Спосіб прискорених випробувань групи виробів з полімерними матеріалами на старіння
Наступний патент: Мобільний пристрій охоронної сигналізації
Випадковий патент: Спосіб доочищення стічних вод від іонів важких металів у потоці перемішування