Спосіб контролю гарантованої якості виробів радіоелектронної техніки

Номер патенту: 29358

Опубліковано: 16.10.2000

Автори: Жердєв Микола Костянтинович, Лучко Ігор Миколайович

Завантажити PDF файл.

Формула / Реферат

Спосіб контролю гарантованої якості виробів радіоелектронної техніки, що включає вимірювання параметрів вузлів та блоків і порівняння вимірених параметрів з допустимими, який відрізняється тим, що з числа N елементів виробу випадковим образом формують вибірку в обсязі з n елементів , причому n <<  Ν, вимірюють значення параметрів у визначені проміжки часу та отримують апріорну інформацію для поділу елементів на класи, після чого кожний елемент виробу перевіряється на належність до одного з визначених класів працездатних чи непрацездатних елементів шляхом порівняння значення виміру контрольованого параметру з допустимими.

Текст

Спосіб контролю гарантованої якості виробів радіоелектронної техніки, що включає вимірювання параметрів вузлів та блоків і порівняння вимі 29358 ролюються, і характеризують працездатність виробу (фігура). По отриманим значенням з'ясовуються математичні чекання m 1(t1), m 2(t1), m 3(t1), ... m 1(t2), m 2(t2), m 3(t2), ..., а також дисперсії D1(t1), D2(t1), D3(t1), ... D 1(t2), D2(t2), D3(t 2), ... котрі дозволяють, з заданою імовірністю, з'ясувати закони зміни цих параметрів (див. фіг.) та коефіцієнти кореляції між ними. На фігурі зони DП верх.доп. то DП ниж.доп. , в яких контрольований виріб втрачає працездатність якщо хоча б один з контрольованих параметрів попадає у ці зони. По отриманим значенням можливо отримати аналітичну залежність: ( залишаються в апаратурі, а до класу непрацездатних-замінюються. Мінімальний обсяг вибірки, необхідний для оцінки математичного чекання та середньоквадратичного відхилення при нормальному законі розподілу, визначається наступним чином: mx = (Za / d ) d2; md » 1 + 0,5 (Z a / d ) де: d - задана точність; Za = f (1- P¶ ) - табульована величина; Р¶ - довірча імовірність. У загальному випадку кожен з контрольованих параметрів вибірки представляє собою функцію: 2 2 Xsj (t ), S = 1, n; J = 1 m , ) яка приймає в моменти часу t0 , t1, ..., t i , ..., t h Î TП1 відомі значення Хsj(t0), Хsj(t 1), …, Хsj(tn),=TП1, t0

Дивитися

Додаткова інформація

Назва патенту англійською

Method for control of guaranteed quality of articles of radio-electronics engineering

Автори англійською

Zherdiev Mykola Kostiantynovych, Luchko Ihor Mykolaiovych

Назва патенту російською

Способ контроля гарантированного качества изделий радиоэлектронной техники

Автори російською

Жердев Николай Константинович, Лучко Игорь Николаевич

МПК / Мітки

МПК: G01R 35/00

Мітки: контролю, виробів, радіоелектронної, гарантованої, спосіб, якості, техніки

Код посилання

<a href="https://ua.patents.su/4-29358-sposib-kontrolyu-garantovano-yakosti-virobiv-radioelektronno-tekhniki.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб контролю гарантованої якості виробів радіоелектронної техніки</a>

Подібні патенти