Спосіб тіньового нівелювання

Спосіб тіньового нівелювання, який полягає у тому, що встановлюють джерело світла навпроти контрольованого об'єкта, проектують положення тіні об'єкта на прямовисний екран у вигляді зрізаної тіні і визначають по краю зрізаної тіні висотне положення об'єкта, який відрізняється тим, що положення краю зрізаної тіні визначають за допомогою фотоелектричного давача, який встановлюють з можливістю вертикального переміщення у прямовисній площині, паралельній до поздовжньої осі об'єкта, при цьому початок відліку вертикального переміщення фотоелектричного давача встановлюють на рівні вільної поверхні рідини з відомою висотною відміткою. (19) (21) a200806879 (22) 19.05.2008 (24) 27.04.2009 (46) 27.04.2009, Бюл.№ 8, 2009 р. (72) ХРОПОТ СЕРГІЙ ГРИГОРОВИЧ, UA, ШЕВЧЕНКО ТАРАС ГЕОРГІЙОВИЧ, UA (73) НАЦІОНАЛЬНИЙ УНІВЕРСИТЕТ "ЛЬВІВСЬКА ПОЛІТЕХНІКА", UA (56) SU, a.c. №979852, G01C 11/00, публ. 07.12.1982. WO, заявка №9902024, H05K 13/04, публ. 14.01.1999. SU, a.c. №1007512, G01C 3/08, G01B 11/00, публ. 15.03.1985. RU, патент №2177143, G01C 5/00, публ. 20.12.2001. 3 86554 4 електричного давача, який встановлюють з можзрізаної тіні положення об'єкта 2 по висоті відносливістю вертикального переміщення у прямовисно вільної поверхні рідини у посудині 4 за допомоній площині, паралельній до поздовжньої осі об'єкгою фотоелектричного, наприклад, однокоордината, при цьому початок відліку вертикального тного давача 5. Фотоелектричний давач 5 має переміщення фотоелектричного давача встановможливість вертикального переміщення, наприлюють на рівні вільної поверхні рідини з відомою клад, мікрометричним пристроєм 7 у прямовисній висотною відміткою. площині, у якій розташована мірна штанга 6, і яка Це забезпечує можливість визначення висоторієнтована паралельно до поздовжньої осі об'єкного положення зрізаної тіні фотоелектричним та. Мікрометричним пристроєм відлічування поведавачем безпосередньо, не вдаючись до високорхні рідини 8 вводять контактний елемент мірної точного нівелювання, без передачі позначки з штанги 6 у контакт з поверхнею рідини у посудині найближчого репера, що дозволяє зменшити тру4. Мікрометричним пристроєм 7 переміщення роздомісткість способу і зменшити матеріальні витраміщують фотоелектричний давач 5 так, що його ти і часу. центр розташовується на краю зрізаної тіні, про На Фіг.1-2 зображено схему способу тіньового що свідчать покази контрольної частини давача. нівелювання (Фіг.2 - вид А). На схемі: 1 - пучок Мікрометричні пристрої 7 і 8 дають можливість світла; 2 - контрольований об'єкт; 3 - прямовисний відлічувати з точністю 0,01мм, а роздільна здатекран; 4 - посудина з рідиною, поверхня якої слуність фотоелектричного давача 5 така сама гує для відлічування і має відому висотну познач0,01мм. Початок відлічування вертикального пеку; 5 - фотоелектричний давач; 6 - мірна штанга реміщення фотоелектричного давача 5 збігається вертикального переміщення давача; 7 - мікрометз рівнем поверхні рідини у посудині 4. Посудина 4 ричний пристрій переміщення і відлічування версполучувальним шлангом 9 з'єднана з посудиною тикального переміщення фотоелектричного дава10, яку встановлено на точку, висота якої відома, ча; 8 - мікрометричний пристрій відлічування посудини 4 і 10 утворюють гідронівелір. Рівень поверхні рідини; 9 - сполучувальний шланг; 10 поверхні рідини у посудинах 4 і 10, як звичайно у посудина з рідиною на вихідній точці з відомою гідронівелірах, однаковий. Тому відлічування міквисотною відміткою. рометричним пристроєм 7 величини переміщення Спосіб тіньового нівелювання реалізують так. фотоелектричного давача 5 дає можливість виВстановлюють джерело світла навпроти контрозначати висоту краю зрізаної тіні об'єкта безпосельованого об'єкта 2. Проектують положення тіні редньо. об'єкта на прямовисний екран 3 у вигляді зрізаної Запропонований спосіб тіньового нівелювання тіні. Горизонтальний пучок світла 1 проходить часдля визначення висоти контрольованого об'єкта не тково над поверхнею контрольованого об'єкта 2 і потребує застосування високоточного нівелюваносвітлює екран 3. Інша частина пучка 1 освітлює ня. Він дає - можливість визначити висоту об'єкта контрольований об'єкт 2, проектуючи його тінь на безпосередньо і зменшує витрати матеріальні і екран 3 у вигляді зрізаної тіні. Визначають по краю часу. 5 Комп’ютерна верстка А. Крулевський 86554 6 Підписне Тираж 28 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601