Спосіб аналізу складу та якості матеріалів

Подібні патенти | МПК / Мітки | Додаткова інформація | Код посилання

Номер патенту: 11474

Опубліковано: 25.12.1996

Автор: Орел Валерій Емануїлович

Завантажити PDF файл.

Текст

Пїя V, А подлежит опубликованию ъ открытой печати А ^ f\ К а : J ь^ і і І; Г5 A-SI (01) Д О І І О . С П І !U.I!>i|OC К ПИ Г. CUM \-".\ • 770335 — (51) М. Кп (2IT с присоед'.іп-нчем заявки Х« — (23) Приоритет — * і ti'ilill СССР I I 0:а..0Б ...:ст/. .Уітер^алсз ^ :.:счет б_:гь лепользезано зс ьсех ., ;;.:-.сгс хсзя.:стьа ^лл і^л_:за состава ;і качества д JT ..J~.O3, ТЄКСТЛЛЬЬІІХ ; сіірзделеп;;.] .../. pj3H3pc~:i:jy л ;;р. материалов. О-.ЄлТ^о^в:і^уце.. с^і іла'і'зрііалсь И . ^ЗУ. , . ; . :•: : . . ; ы и ;:Сіітролл^уе./.сгз І І З Д ^ Л І Л , ./.ог.:лО СП^ЗДЄЛІІТЬ .. . : .•: .:-.:a лзделіія, стллч::е з ХЙ:/.ЇГЧЗСКІЇХ состаьзх. . -,;.-.:-'С ьв/rj СЛСС.ІІОСТ,І СДНОБСЄ.;.ЄН;ІОГО лзі/еренйл злэктрс. . с...* с : зсе.і лоьехінссті; изучаемого ^атеріала и влияния г .. • с„.::з;.ь.-:огс прлос^а этот спсссб ;:^.ает невысокую чув-. к пр-эдлс::ЭпНОА/.у явллется способ анализа з путей трибозлектріізашкі поверх,.-.j.V Тип Харьк фил. пред. . 3979 г^ з. 854—50 000 - 2 но ста исследуемого образна с ПС;.:ОЩЬРЭ пробного эле. еата л лз і..е^ег.ля тр^болю^лнзсиеви.:^ [ J J . Стот способ таи^в соладует от.:ече:-;і^*:/. ;:елсстзс:^;,.л. Хрс.с того, сп кз обладает дос^а'. ..о. у_-:лз5^сальность:з, гсс.; трлбол.аоінессзни:!" ;,:тедс... счета КЬЗІІГОЬ лр^бьогс х і ^ к ^ с д ^ в течение ICc ' - C T C U - J : ;.0r.r._:.'. у.ч.лОг-мтзіз.,. в спектрзлькоі.'. діапазоне 130—ЗСО ь-. о;^^ І-шк показал:; ,;СІІ'Г?СІІ^;Л и^^,лЛс;'Оііі-: слсссбд а..^ сест.-за 'А кзчзстьа і/.атз^^и.іов обгсиачль ьоз.\*.сь..хстъ ОЧііО теч о слрзде^ілть елзд;;; з.ц.;е х І. СсСТаЬ ь.бТиЛЛОБ. 2 . Состав тзкетлльиніс :..атер:;алоБ, с ^зьзстны:и л v.i;:rзасален. Форгг/ла ІЗзебретзішя І . Спссоб э.^зллзз сост-аза л качества материалов п,7тз:*с -зктр;ззлий;: лсворхностл исследуемого образна с лсь.Оил^із огс элЗм.-тНта л азі.*.ереиля трибсліі\.ішесиени:іл, отлачаі>ТІ.^, что, с ::ель:з поьи^е.і/»я точности анализа и унлвер т с - , ГЦ^СЛ^СКІЇЛ,.. из ^терспласта и іізглеряют ио л4.сінсго элемента. ^ - 4 Лл_ 2. Способ по п. І , отлп .аощі ся таг/., что изь.ере^з тр, < с 3 с-ізнп:..; осулествляїзт {отозлектролілгк ушюклтедоа. озш • єі:ьіь

Дивитися

Додаткова інформація

Назва патенту англійською

Method for analysis of content and quality of materials

Автори англійською

Orel Valerii Emanuilovych

Назва патенту російською

Способ анализа состава и качества материалов

Автори російською

Орел Валерий Эммануилович

МПК / Мітки

МПК: G01N 21/66

Мітки: аналізу, складу, матеріалів, спосіб, якості

Код посилання

<a href="https://ua.patents.su/4-11474-sposib-analizu-skladu-ta-yakosti-materialiv.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб аналізу складу та якості матеріалів</a>

Подібні патенти