Спосіб вимірювання тримірних функцій розподілу по швидкостям атомів і іонів, розпилених і розсіяних в будь-якому конкретному електронному стані
Номер патенту: 14943
Опубліковано: 04.03.1997
Автори: Дробнич Володимир Григорович, Мастюгін Віктор Олександрович, Охріменко Сергій Володимирович, Поп Степан Степанович
Формула / Реферат
Способ изменения трехмерных функций распределения по скоростям атомов и ионов, распыленных и рассеянных в любом конкретном электронном состоянии (основном, метастабильном или возбужденном), включающий ионную бомбардировку в вакууме поверхности твердого тела, а также, когда есть основное или метастабильное состояние, перевод частиц в выбранное возбужденное состояние излучением перестраиваемого лазера непрерывного действия и детектирование фотонов, спонтанно испускаемых при радиационном распаде состояния отличающийся тем, что
- перевод частиц в состояние производят излучением лазера с достаточно широкой линией генерации, перекрывающей доплеровский контур линии поглощения на радиационном переходе
- выделяют поток фотонов, испускаемых в некотором выбранном направлении при спонтанном радиационном распаде состояния которое является либо состоянием когда - исследуемое возбужденное состояние, либо состоянием когда - основное или метастабильное состояние;
- обеспечив одинаковую эффективность сбора этих фотонов из разных точек пространства, измеряют доплеровский контур эмиссионной спектральной линии выделенного потока оптического излучения и находят функцию где - проекция вектора скорости на направление - длина волны света, испускаемого неподвижной частицей, скорость света;
- изменяя и производя аналогичные операции, получают набор функций отвечающих различным достаточно полный для преобразования его с заданной точностью с помощью компьютерной томографии в трехмерную функцию где - оператор обратного трехмерного преобразования Радона;
- наконец, искомое распределение находят из соотношения
где - нормирующий множитель, а - теоретически рассчитываемая вероятность того, что движущаяся со скоростью частица в состоянии возбудится на уровень в поле лазерного излучения и спонтанно испустит фотон.
Текст
Изобретение относится к области эмиссионной электроники, а конкретно - к способам измерения дифференциальных характеристик потока атомных частиц, распыленных и рассеянных при бомбардировке поверхности твердого тела в вакууме пучком ускоренных ионов. Наиболее информативной экспериментально наблюдаемой характеристикой потока атомов или ионов, распыленных или рассеянных в электронном состоянии является их функция пропорциональна числу частиц в состоянии, движущихся внутри со скоростями, модули которых лежат внутри достаточно узкого интервала в) выполняют п.б) при различных г) выполняют пп.а) - в) при различных д) находят функцию распределения по скоростям Большой научный и практический интерес представляет разработка эффективного способа измерения которая является искомым распределением функций записанным в сферических координатах вектора т.е. отвечающих любым возможным основному состоянию метастабильным состояниям возбужденным состояниям обусловлено тем, что и Это экспериментальные исследования распределений необходимы для выяснения механизмов и создания теории различных эмиссионных явлений (распыления, рассеяния, вторичной ионной эмиссии (ВИЭ), ионно-фотонной эмиссии (ИФЭ) и др. [1]), сопровождающих ионную бомбардировку твердого тела и лежащих в основе современных методов диагностики поверхности ионными пучками: вторично-ионной масс-спектрометрии (ВИМС) [2], ионно-рассеивательной спектроскопии (ИРС) [2], ионно-фотонной спектроскопии (ИФС) [3], спектроскопии возбужденных рассеянных частиц (СВРЧ) [4], резонансной лазерно-ионизационной масс-спектроскопии (РЛИМС) [5] и др. Зная функции соответствующие различным можно определить любую дифференциальную (и, разумеется, интегральную) характеристику потока отлетающих от поверхности атомов и ионов, а также такую фундаментальную величину, как зависимость вероятности образования электронного состояния распыленной или рассеянной частицы от ее скорости [3]: Общим недостатком известных способов является то, что они не позволяют исследовать распределения для возбужденных атомов. Но эти частицы вносят основной вклад в ИФЭ и являются главным поставщиком диагностической информации о поверхности в методах ИФС и СВРЧ. Предлагаемый нами способ дает возможность исследовать функции отвечающие любым электронным состояниям, т.е. охватывает случаи для атомов и ионов. и Известные способы получения объединяет следующий подход: а) из всего потока отлетающих от поверхности частиц в состоянии выделяют те, которые движутся внутри достаточно малого телесного угла где и - соответственно полярный и азимутальный углы вылета, отвечающие некоторому выбранному направлению векторов скоростей б) измеряют величину которая (т.е. Получение информации о распределении по скоростям вторичных ионов - современное направление исследований в области ВИМС. С помощью масс спектрометра с энергетическим разрешением измеряют распределение вторичных ионов по скоростям для различных углов вылета. ВИМС неселективен к квантовому состоянию вторичных ионов): где суммирование происходит по основному, метастабильным и возбужденным состояниям соответствующего иона. Скорости вторичных возбужденных ионов измеряют способом совпадений [6], который является аналогом предлагаемого изобретения. В этом случае регистрируются ионы, вылетевшие в данном направлении со скоростью и совпадающие по времени образования с фотонами определенной длины волны, испускаемыми при радиационном девозбуждении ионов. Измеряя зависимость числа зарегистрированных частиц от получают распределение возбужденных ионов по скоростям в телесном угле сбора частиц, т.е. Информацию о распределении по скоростям атомов и ионов в основном и метастабильном состояниях получают способом РЛИМС, который является аналогом предлагаемого изобретения, Частицы в исследуемом состоянии сначала подвергают резонансной ионизации в поле лазерного излучения. Полученные таким путем ионы затем анализируют масс-спектрометром с энергетическим разрешением и находят Для измерения распределений по скоростям частиц в основном и метастабильном состояниях применяют также оптический способ спектроскопию доплеровского сдвига индуцированной лазерным излучением флуоресценции (СДСЛФ) [7], который является прототипом предлагаемого изобретения. Способ заключается в следующем. Атомы или ионы в исследуемом состояний, движущиеся в телесном угле со скоростью селективно возбуждают (используя эффект Допплера) излучением одночастотного стабилизированного перестраиваемого лазера. Измеряя зависимость интенсивности спонтанного излучения возбужденных таким образом частиц от частоты возбуждающего их лазерного излучения получают доплеровский контур спектральной линии поглощения для частиц в исследуемом состоянии. Представляя этот контур в шкале скоростей находят СДСЛФ не позволяет получать информацию о распределении по скоростям частиц, эмиттируемых в возбужденном состоянии, так как из-за малых времен жизни (
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюMethod for measurement of three-dimensional functions of velocity distribution for atoms and ions sputtered and dissipated in any arbitrary electron state
Автори англійськоюDrobnych Volodymyr Hryhorovych, Okhrimenko Serhii Volodymyrovych, Mastiuhin Viktor Oleksandrovych, Pop Stepan Stepanovych
Назва патенту російськоюСпособ измерения трехмерных функций распределения по скоростям атомов и ионов, распыленых и рассеянных в любом конкретном электронном состоянии
Автори російськоюДробнич Владимир Григорьевич, Охрименко Сергей Владимирович, Мастюгин Виктор Александрович, Поп Степан Степанович
МПК / Мітки
МПК: G01N 21/00, G01N 23/00
Мітки: швидкостям, будь-якому, розподілу, тримірних, розсіяних, конкретному, іонів, розпилених, вимірювання, функцій, стані, атомів, спосіб, електронному
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/5-14943-sposib-vimiryuvannya-trimirnikh-funkcijj-rozpodilu-po-shvidkostyam-atomiv-i-ioniv-rozpilenikh-i-rozsiyanikh-v-bud-yakomu-konkretnomu-elektronnomu-stani.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб вимірювання тримірних функцій розподілу по швидкостям атомів і іонів, розпилених і розсіяних в будь-якому конкретному електронному стані</a>
Попередній патент: Резервований вимірювач електричної потужності
Наступний патент: Сушильно-морозильна установка
Випадковий патент: Установка для дослідження дії ударного навантаження при згині балки