Спосіб автоматичного вимірювання комплексних параметрів мікрохвильових пристроїв
Номер патенту: 43959
Опубліковано: 15.01.2002
Автори: Гімпілевич Юрій Борисович, Вертегел Валерій Вікторович
Формула / Реферат
Спосіб автоматичного вимірювання комплексного коефіцієнта відбиття лінійних елементів мікрохвильових трактів, що полягає в формуванні високочастотних сигналів у чотирьох плечах каліброваного дванадцятиполюсника, до двох інших пліч якого підключені джерело зондувального гармонічного сигналу і вимірюваний лінійний елемент, і розрахунку реальної і уявної частин комплексного коефіцієнта відбиття за формулами
,
, який відрізняється тим, що вимірюють різниці фаз
між одним з високочастотних сформованих сигналів і трьома іншими і розраховують параметри
,
,
за формулами:
;
;
,
де ,
- постійні величини, що визначаються під час калібрування;
i=1, 2, 3; n=1…7.
Текст
Спосіб автоматичного вимірювання комплексних параметрів мікрохвильових пристроїв, що полягає в формуванні високочастотних сигналів за допомогою каліброваного дванадцятиполюсника, до якого підключені джерело зондуючого гармонічного сигналу і вимірюючий пристрій, який відрізняється тим, що вимірюють різниці фаз^>
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюMethod for automatically measuring complex parameters of microwave devices
Назва патенту російськоюСпособ автоматического измерения комплексных параметров сверхвысокочастотных устройств
МПК / Мітки
МПК: G01R 27/04
Мітки: автоматичного, комплексних, параметрів, пристроїв, вимірювання, мікрохвильових, спосіб
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/5-43959-sposib-avtomatichnogo-vimiryuvannya-kompleksnikh-parametriv-mikrokhvilovikh-pristrov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб автоматичного вимірювання комплексних параметрів мікрохвильових пристроїв</a>
Попередній патент: Фазовий виявляч цілі
Наступний патент: Пристрій для захвату диска
Випадковий патент: Спосіб хірургічної корекції косих пахвинних гриж великих розмірів у дітей