Спосіб автоматичного вимірювання комплексних параметрів мікрохвильових пристроїв

Номер патенту: 43959

Опубліковано: 15.01.2002

Автори: Гімпілевич Юрій Борисович, Вертегел Валерій Вікторович

Завантажити PDF файл.

Формула / Реферат

Спосіб автоматичного вимірювання комплексного коефіцієнта відбиття лінійних елементів мікрохвильових трактів, що полягає в формуванні високочастотних сигналів у чотирьох плечах каліброваного дванадцятиполюсника, до двох інших пліч якого підключені джерело зондувального гармонічного сигналу і вимірюваний лінійний елемент, і розрахунку реальної і уявної частин комплексного коефіцієнта відбиття  за формулами , , який відрізняється тим, що вимірюють різниці фаз  між одним з високочастотних сформованих сигналів і трьома іншими і розраховують параметри , ,  за формулами:

;

;

,

де ,

- постійні величини, що визначаються під час калібрування;

i=1, 2, 3; n=1…7.

Текст

Спосіб автоматичного вимірювання комплексних параметрів мікрохвильових пристроїв, що полягає в формуванні високочастотних сигналів за допомогою каліброваного дванадцятиполюсника, до якого підключені джерело зондуючого гармонічного сигналу і вимірюючий пристрій, який відрізняється тим, що вимірюють різниці фаз^>

Дивитися

Додаткова інформація

Назва патенту англійською

Method for automatically measuring complex parameters of microwave devices

Назва патенту російською

Способ автоматического измерения комплексных параметров сверхвысокочастотных устройств

МПК / Мітки

МПК: G01R 27/04

Мітки: автоматичного, комплексних, параметрів, пристроїв, вимірювання, мікрохвильових, спосіб

Код посилання

<a href="https://ua.patents.su/5-43959-sposib-avtomatichnogo-vimiryuvannya-kompleksnikh-parametriv-mikrokhvilovikh-pristrov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб автоматичного вимірювання комплексних параметрів мікрохвильових пристроїв</a>

Подібні патенти