Завантажити PDF файл.

Текст

є МПК GOI BII/24 ПРИСТРІЙ ДЛЯ ВИМІРЮВАННЯ Ф ОРІШ КРЖШНІ ИІ Ж ЇІОВЖЮНЬ. Пристрій відноситься до галузі вимірювальної техніки І може бути використаний для контролю форми та розташування криволіній них поверхонь, що їлають вісь обертання , зокреліа, осесшетричних антенних дзеркал. Шдомий пристрій для вимірювання форті параболічних повер хонь антенних дзеркал контактним способом , який включає в себе « . « * > два паралельні радіальні та один параболічний ножеві шаблони . Параболічний, шаблон мае можливість переміщатись по крої жах двох паралельних: шаблонів, при цьому його робоча кромка утворює над панеллю пристрою ділянку поверхні параболоїда обертання . Вимірюючи при допоїло зі щупа Індикатора І т.п. зазор між вка, заною робочою кромкою та поверхнею дзеркала антени , визначають відхилення останнього він ; теоретичного профілю , (а.с.СРСР J&56II35, HOI GH5AG, опуб.1990, бюл.^6). Недоліками описаного пристрою є низька точність та продук тивність вимірювання, а також недостатня універсальність , пов'язана Із необхідністю виготовлення спеціальних ножевпх шаблонів під конкретну поверхню . За прототип прийнятий пристрій для безконтактного вимірю вання криволінійних поверхонь , який, містить телекамеру , два джерела Еузькоиаправленого випромінювання (лазери), розташовані на кронштейні з можливістю переміщення разом Із ним по верти кальній направляючій. Лазери встановлені на базовій ЕІдстанІ один відносно одного І Еипрог/Інюють два промені вузьконаправле ного світла, які потрапляють на вимірювану поверхню під певним кутом, а телекамера реєструє величину розходження променів І передає Інформацію в блок дешифратора (a.c.GPOP H532809, СЮІ БІІ/24, опз?б.ІЗ&9, бюл.Г48). 7 порівнянні Із попереднім цей пристрій дозволяє Я точність та продуктивність вимірювань , а також частково автоматизувати цей процес . 4 9 » • с • г * » J її Недоліками пристрою, прийнятому за прототип, с низькі експлуатаційні характеристики, пов'язані Із великим часом налагод ження системи Із двох лазерів , складністю конструкції, обмеженим застосуванням для вимірювання криволінійних поверхонь великих розмірів, так як збільшення базової відстані зменшує жорсткість системі, що в свою чергу, приводить до зменшення точності вимірю вань, а також невисокий ступінь автоматизації процесу вимірювань ^, В основу винаходу поставлено задачу - вдосконалити конструкцію вимірювального пристрою з метою покращення його експлуата ційних характеристик та підвищення ступеня автоматизації процесу обробки Інформації. Ця задача вирішена за рахунок використання одного джерела вузьконаправленого оптичного випромінювання , встановлення об'єкту вимірювання з можливістю обертання відносно власної осі, виконання оптичної системи зведення променів у вигля ді світлоділильного блоку, поворотного дзеркала та блоку призм , встановленії на заданій відстані один відносно одного І зв'язку складових частин оптичної системи Із блоком обробки Інформації при допомозі відліконих елементів . На фіг Л показании загальний вигляд пристрою для вимірювана форми криволінійних поверхоньна на фїг.2на ЙгЛ зверху по стрілці'' на фіг.З - вид по стрілці А ; фіг Д; - вид - вид на фіг.І; • • • на фіг.І; на фіг.5 - розрахункова схема для визначення відхиленн профілю об'єкту вимірювання від теоретичного*,• * * Пристрій для вимірювання форми криволінійних поверхонь сі дасться Із джерела вузьконаправленого оптичного випромінювання'. лазерного вимірювача переміщень 2, приймальної оптичної системи (теодоліт І т.п.), розташованих нерухомо на жорстких направляючих 4 станини 5. На вказаних направляючих встановлені Із можли-вістю рівномірного переміщення два столики 6 І 7, На столику 6 розташовані юстувальні діафрагми 8, світлоділильний блок у вигляді напівпрозорого дзеркала 9, розміщеного під кутом 45° до напрямку ходу променя базового лазера, мікрометричний гвинт 10 з фотоелектричним перетворювачем та поворотне дзеркало II Із кутовим відліковим пристроєм 12. На столику 7 встановлена приз ма ІЗ, яка повертає промінь лазера на кут 90° до направляючих станини, обмежуюча діафрагма 14 І відбиваюча призма 15. Пристрій для ЕШІрюзання форми криволінійних поверхонь забезпе чений блоком обробки Інформації та запису 16 на базі ЕОМ. Об'єкт вимірювання 17 встановлений на осі (на фігурах не пока-зана ) з можливістю обертання відносно неї . Вказана вісь співпа-дає Із віссю симетрії вимірюваної криволінійної поверхні обертання . Запропонованим пристрій працює таким чином . Перед початком вимірювань він виставляється так, щоб площина, утворена розділеними променями базового лазера І була паралельна лінії горизонту І перпендикулярна до плоідаи вимірюваного об'єкту 17 при різних положеннях столика 6. Два промені від поворотного дзеркала Г та призми ІЗ спрямовуються на відмірювану поверхню в наперед роз 3 раховану точку простору/ , яка відповідає теоретичному профілю об'єкту вимірювань (фіг.5). При цьому вони утворюють на поверхи дзеркала антени точки У І М . А далі, при допомозі мікрометричної гвинта 10 зводяться в одну точку на поверхні (в даному випадку це точкаН). Точність зведення контролюють при допомозі теодолІ та 3, а^відлік величини А з мікрометричного гвинта реєструється блоком Інформації -та запису. Цим же блоком реєструється величи переміщення столика та кута повороту дзеркала II. Маючи величин відліку Л Із мікрометричного гвинта, можна визначити відхилення профілю реальної поверхні від теоретичного профілю по залежною 4 1 • = A' cos cuictg де 2- J-(x (/) - формула, що оппсуе форму теоретичної поверхні; і . z: [ Aft^p/ _ значення похідної від функції 2*f()L t!})b точці Р (ХЛ ,У?) При вимірюванні параболичного рефлектора , коли поворотне дзеркало II розташоване у фокусі параболоїду обертання, $opiviyj .для визначення відхилення Л матиме вигляд: S = Д cos jде оі KVT повороту поворотного дзеркала . Пристрій дпя (рорми & поверхонь Q /2 6 / Фпі Аотоои: Сиротюк & Г. Пастернак Б, і {ІВтруиха В. Иущак Л А Баіїцький 3. Фіг. I Прис трій А о торт С (Ар о mm f/ашернак Б.м IIШруш &0. З.А. ГІристрш дм cpopw tp A 1 1 7 \ Фи. з Фа. k fl&mopu: unpomm р flempytut Фіг, 5 доя І № тори: Сиротюк л Пастернак !}В тру їла Ку ьц а к.і

Дивитися

Додаткова інформація

Назва патенту англійською

Device for measurement of form of curvilinear surfaces

Автори англійською

Syrotiuk Volodymyr Hryhorovych, Pasternak Bohdan Myronovych, Petrusha Volodymyur Oleksandrovych, Kuschak Ihor Volodymyrovych, Balitskyi Zenovii Andriiovych

Назва патенту російською

Устройство для измерения формы криволинейных поверхностей

Автори російською

Сиротюк Владимир Григорьевич, Пастернак Богдан Миронович, Петруша Владимир Александрович, Кущак Игорь Владимирович, Балицкий Зеновий Андреевич

МПК / Мітки

МПК: G01B 11/24

Мітки: пристрій, вимірювання, криволінійних, поверхонь, форми

Код посилання

<a href="https://ua.patents.su/7-31485-pristrijj-dlya-vimiryuvannya-formi-krivolinijjnikh-poverkhon.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Пристрій для вимірювання форми криволінійних поверхонь</a>

Подібні патенти