Патенти з міткою «діелектриків»
Метод лазерної обробки шаруватих діелектриків
Номер патенту: 67157
Опубліковано: 10.02.2012
Автори: Котляров Валерій Павлович, Гніліцький Ярослав Миколайович
МПК: B23K 26/00
Мітки: діелектриків, обробки, шаруватих, лазерної, метод
Формула / Реферат:
Метод лазерної обробки шаруватих діелектриків, що виконується в режимі випару матеріалу, шари якого заздалегідь стискують, який відрізняється тям, що для ефективного обтискання матеріалу, заготівку розташовують на полірованій поверхні підкладки, виготовленої із струмопровідного матеріалу з високим коефіцієнтом віддзеркалення лазерного випромінювання, через плівку із фторопласту, а на поверхню заготівки наносять електричний заряд.
Спосіб очищення рідких діелектриків, переважно поліметилсилоксанової рідини пмс-10
Номер патенту: 20693
Опубліковано: 15.02.2007
Автори: Онищенко Лідія Іванівна, Гребенников Ігор Юрійович, Фещук Тетяна Анатоліївна, Дмитрішин Олексій Ярославович, Гунько Віктор Іванович
МПК: H01G 4/018
Мітки: рідини, очищення, переважно, поліметилсилоксанової, діелектриків, пмс-10, рідких, спосіб
Формула / Реферат:
Спосіб очищення рідких діелектриків, переважно поліметилсилоксанової рідини ПМС-10, адсорбентом, що включає використання як адсорбенту активного окису алюмінію, прожарювання активного окису алюмінію при температурі 450-500 °С і охолодження його до температури навколишнього середовища, змішування з нагрітою поліметилсилоксановою рідиною ПМС-10, відстоювання отриманої суміші і її наступне фільтрування, який відрізняється тим, що перед...
Пристрій для вимірювання параметрів діелектриків
Номер патенту: 78053
Опубліковано: 15.02.2007
Автори: Коваленко Олексій Григорович, Шамшин Олександр Петрович
МПК: G01N 22/00, G01R 27/26
Мітки: вимірювання, параметрів, діелектриків, пристрій
Формула / Реферат:
Пристрій для вимірювання параметрів діелектриків, що містить відрізок хвилеводу та послідовно включений у хвилевід резонатор, який відрізняється тим, що резонатор виконаний у вигляді циліндричного щілинного резонатора, подовжня вісь якого паралельна подовжній осі хвилеводу, причому товщина стінки резонатора в області щілини виконана мінімально можливою, а резонатор розташований у двогранному куті, утвореному широкою і вузькою стінками...
Спосіб дослідження залежності коефіцієнта відбивання електромагнітних хвиль від параметрів приповерхневих розшарувань у виробах з діелектриків
Номер патенту: 28307
Опубліковано: 16.10.2000
Автор: Лящук Олег Богданович
МПК: G01N 22/00
Мітки: хвиль, виробах, спосіб, залежності, відбивання, дослідження, приповерхневих, електромагнітних, параметрів, діелектриків, розшарувань, коефіцієнта
Формула / Реферат:
Спосіб дослідження залежності коефіцієнта відбивання електромагнітних хвиль від параметрів приповерхневих розшарувань у виробах з діелектриків шляхом опромінювання досліджуваного зразка плоскими електромагнітними хвилями надвисокої частоти і реєстрації відбитого сигналу, який відрізняється тим, що на шляху до бездефектного зразка встановлюють еталонний пластинчастий клин на підпірках, виготовлений як і підпірки з того ж матеріалу, що і...
Спосіб одержання адсорбенту для очищення рідких діелектриків
Номер патенту: 15254
Опубліковано: 30.06.1997
Автори: Боржковський Леонард Степанович, Абрамов Володимир Борисович, СОКОЛОВ ВІКТОР ВОЛОДИМИРОВИЧ, Головань Георгій Данилович, Лавріненко Володимир Павлович, Удод Євген Іванович, Манк Валерій Веніамінович, Марцін Ігор Іванович, Гриценко Анатолій Васильович
МПК: B01J 20/12
Мітки: адсорбенту, очищення, діелектриків, одержання, спосіб, рідких
Формула / Реферат:
Способ получения адсорбента для очистки жидких диэлектриков, включающий предварительную подсушку глины, ее механическое измельчение, термоактивацию и фракционирование, отличающийся тем, что предварительную подсушку ведут до влажности 5,0 - 10,0%, а термоактивацию осуществляют при температуре 90 - 110°C до влажности адсорбента 0,1 - 0,5%.