Патенти з міткою «діелектриків»

Метод лазерної обробки шаруватих діелектриків

Завантаження...

Номер патенту: 67157

Опубліковано: 10.02.2012

Автори: Котляров Валерій Павлович, Гніліцький Ярослав Миколайович

МПК: B23K 26/00

Мітки: діелектриків, обробки, шаруватих, лазерної, метод

Формула / Реферат:

Метод лазерної обробки шаруватих діелектриків, що виконується в режимі випару матеріалу, шари якого заздалегідь стискують, який відрізняється тям, що для ефективного обтискання матеріалу, заготівку розташовують на полірованій поверхні підкладки, виготовленої із струмопровідного матеріалу з високим коефіцієнтом віддзеркалення лазерного випромінювання, через плівку із фторопласту, а на поверхню заготівки наносять електричний заряд.

Спосіб очищення рідких діелектриків, переважно поліметилсилоксанової рідини пмс-10

Завантаження...

Номер патенту: 20693

Опубліковано: 15.02.2007

Автори: Онищенко Лідія Іванівна, Гребенников Ігор Юрійович, Фещук Тетяна Анатоліївна, Дмитрішин Олексій Ярославович, Гунько Віктор Іванович

МПК: H01G 4/018

Мітки: рідини, очищення, переважно, поліметилсилоксанової, діелектриків, пмс-10, рідких, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб очищення рідких діелектриків, переважно поліметилсилоксанової рідини ПМС-10, адсорбентом, що включає використання як адсорбенту активного окису алюмінію, прожарювання активного окису алюмінію при температурі 450-500 °С і охолодження його до температури навколишнього середовища, змішування з нагрітою поліметилсилоксановою рідиною ПМС-10, відстоювання отриманої суміші і її наступне фільтрування, який відрізняється тим, що перед...

Пристрій для вимірювання параметрів діелектриків

Завантаження...

Номер патенту: 78053

Опубліковано: 15.02.2007

Автори: Коваленко Олексій Григорович, Шамшин Олександр Петрович

МПК: G01N 22/00, G01R 27/26

Мітки: вимірювання, параметрів, діелектриків, пристрій

Формула / Реферат:

Пристрій для вимірювання параметрів діелектриків, що містить відрізок хвилеводу та послідовно включений у хвилевід резонатор, який відрізняється тим, що резонатор виконаний у вигляді циліндричного щілинного резонатора, подовжня вісь якого паралельна подовжній осі хвилеводу, причому товщина стінки резонатора в області щілини виконана мінімально можливою, а резонатор розташований у двогранному куті, утвореному широкою і вузькою стінками...

Спосіб дослідження залежності коефіцієнта відбивання електромагнітних хвиль від параметрів приповерхневих розшарувань у виробах з діелектриків

Завантаження...

Номер патенту: 28307

Опубліковано: 16.10.2000

Автор: Лящук Олег Богданович

МПК: G01N 22/00

Мітки: хвиль, виробах, спосіб, залежності, відбивання, дослідження, приповерхневих, електромагнітних, параметрів, діелектриків, розшарувань, коефіцієнта

Формула / Реферат:

Спосіб дослідження залежності коефіцієнта відбивання електромагнітних хвиль від параметрів приповерхневих розшарувань у виробах з діелектриків шляхом опромінювання досліджуваного зразка плоскими електромагнітними хвилями надвисокої частоти і реєстрації відбитого сигналу, який відрізняється тим, що на шляху до бездефектного зразка встановлюють еталонний пластинчастий клин на підпірках, виготовлений як і підпірки з того ж матеріалу, що і...

Спосіб одержання адсорбенту для очищення рідких діелектриків

Завантаження...

Номер патенту: 15254

Опубліковано: 30.06.1997

Автори: Боржковський Леонард Степанович, Абрамов Володимир Борисович, СОКОЛОВ ВІКТОР ВОЛОДИМИРОВИЧ, Головань Георгій Данилович, Лавріненко Володимир Павлович, Удод Євген Іванович, Манк Валерій Веніамінович, Марцін Ігор Іванович, Гриценко Анатолій Васильович

МПК: B01J 20/12

Мітки: адсорбенту, очищення, діелектриків, одержання, спосіб, рідких

Формула / Реферат:

Способ получения адсорбента для очистки жидких диэлектриков, включающий предварительную подсушку глины, ее механическое измельчение, термоактивацию и фракционирование, отличающийся тем, что предварительную подсушку ведут до влажности 5,0 - 10,0%, а термоактивацию осуществляют при температуре 90 - 110°C до влажности адсорбента 0,1 - 0,5%.