Патенти з міткою «напівпровідникого»
Мікроелектронний чотиризондовий пристрій для вимірювання напівпровідникого опору
Номер патенту: 76387
Опубліковано: 10.01.2013
Автори: Осадчук Олександр Володимирович, Нікешин Юрій Ігорович
МПК: H01L 21/66, G01R 31/26
Мітки: пристрій, мікроелектронний, опору, вимірювання, напівпровідникого, чотиризондовий
Формула / Реферат:
Мікроелектронний чотиризондовий пристрій для вимірювання напівпровідникового опору, який містить котушку індуктивності, яка підключена до джерела живлення, який відрізняється тим, що в нього введено чотири зонди, причому другий та третій з'єднані з біполярним транзистором, перший та четвертий з'єднані з першим джерелом живлення, друге джерело живлення з'єднано з другою ємністю та третім резистором, перший і другий резистори з'єднанні з...