Патенти з міткою «рідкокристалічної»

Спосіб отримання ліотропної рідкокристалічної композиції

Завантаження...

Номер патенту: 63823

Опубліковано: 25.10.2011

Автори: Омельченко Мирослава Миколаївна, Капустяник Володимир Богданович

МПК: C09K 19/00

Мітки: рідкокристалічної, отримання, ліотропної, композиції, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб отримання ліотропної рідкокристалічної композиції, за яким до розчинника додають цетилпіридинхлорид та гексанол, який відрізняється тим, що як розчинник використовують водний розчин NaOH, до якого попередньо додають наночастинки ZnO, оброблені ультразвуком протягом 1±0,1 год.

Спосіб вимірювання параметрів рідкокристалічної комірки

Завантаження...

Номер патенту: 93033

Опубліковано: 10.01.2011

Автори: Валюх Сергій Іванович, Слободянюк Олександр Валентинович, Валюх Ірина Володимирівна

МПК: G02F 1/13, G01N 21/17

Мітки: рідкокристалічної, вимірювання, параметрів, комірки, спосіб

Формула / Реферат:

1. Спосіб вимірювання параметрів рідкокристалічної комірки, за яким колімований пучок лінійно поляризованого світла направляють по нормалі до поверхні рідкокристалічної комірки, розміщеної з можливістю її обертання навколо осі, що співпадає із згаданою вище нормаллю, при цьому пучок світла, яке поширюється від рідкокристалічної комірки після взаємодії з нею, а саме, пучок світла, що пройшло через рідкокристалічну комірку або відбилося від...

Спосіб формування рідкокристалічної дифракційної решітки

Завантаження...

Номер патенту: 85397

Опубліковано: 26.01.2009

Автор: Ситников Олександр Павловіч

МПК: G02F 1/13

Мітки: дифракційної, формування, рідкокристалічної, спосіб, решітки

Формула / Реферат:

Спосіб формування рідкокристалічної дифракційної решітки, заснований на дії електричного поля на рідкокристалічний шар із спіральною надмолекулярною структурою, який відрізняється тим, що за допомогою змінного електричного поля на нематичний рідкий кристал із додатною анізотропією діелектричної проникності та індукованою спіральною надмолекулярною структурою перерозподіляють енергію світлового потоку між максимумами заданих порядків, при...

Спосіб формування рідкокристалічної дифракційної решітки

Завантаження...

Номер патенту: 20008

Опубліковано: 15.01.2007

Автор: Ситников Олександр Павловіч

МПК: G02F 1/13

Мітки: формування, дифракційної, спосіб, решітки, рідкокристалічної

Формула / Реферат:

Спосіб формування рідкокристалічної дифракційної решітки, заснований на дії електричного поля на рідкокристалічний шар із спіральною надмолекулярною структурою, який відрізняється тим, що за допомогою змінного електричного поля частотою понад 1000 Гц на нематичний рідкий кристал з додатною анізотропією діелектричної проникності та індукованою спіральною надмолекулярною структурою перерозподіляють енергію світлового потоку між максимумами...

Спосіб вимірювання характеристик прозорої рідкокристалічної комірки

Завантаження...

Номер патенту: 77409

Опубліковано: 15.12.2006

Автори: Валюх Сергій Іванович, Валюх Ірина Володимирівна, Слободянюк Олександр Валентинович, Скарп Кент

МПК: G02F 1/13, G01N 21/21, G01B 11/06 ...

Мітки: характеристик, рідкокристалічної, спосіб, прозорої, вимірювання, комірки

Формула / Реферат:

1. Спосіб вимірювання характеристик прозорої рідкокристалічної комірки, за яким на спільній оптичній осі розміщують послідовно перший лінійний поляризатор, рідкокристалічну комірку, причому нормаль до поверхні рідкокристалічної комірки колінеарна оптичній осі, другий лінійний поляризатор, з можливістю зміни їх взаємної кутової орієнтації обертання навколо згаданої оптичної осі, на перший поляризатор вздовж оптичної осі спрямовують...

Спосіб вимірювання параметрів рідкокристалічної комірки

Завантаження...

Номер патенту: 74801

Опубліковано: 15.02.2006

Автори: Скарп Кент, Валюх Сергій Іванович, Слободянюк Олександр Валентинович, Сорокін Віктор Михайлович

МПК: G01N 21/45, G02F 1/13

Мітки: комірки, вимірювання, рідкокристалічної, спосіб, параметрів

Формула / Реферат:

1. Спосіб вимірювання параметрів рідкокристалічної комірки, за яким на поверхню комірки спрямовують пучок світла з неперервним спектром в широкому діапазоні частот, вимірюють розподіл потужності в спектрі дзеркально відбитого від комірки світла, визначають спектральні положення характерних особливостей інтерференційних осциляцій розподілу потужності в цьому спектрі і за цими даними розрахунковим шляхом визначають параметри рідкокристалічної...

Спосіб одержання орієнтованої в об’ємі рідкокристалічної системи зі стабілізаційною підкладкою

Завантаження...

Номер патенту: 6347

Опубліковано: 16.05.2005

Автори: Нижник Валерій Васильович, Ковіня Микола Вікторович

МПК: G02F 1/00

Мітки: орієнтованої, підкладкою, системі, одержання, об'ємі, спосіб, стабілізаційною, рідкокристалічної

Формула / Реферат:

1. Спосіб одержання системи орієнтації рідкого кристалу в об'ємі, який включає одержання підкладки, що модулює орієнтацію, та одержання стабілізаційної підкладки шляхом розчинення (ко)полімеру в розчиннику, нанесення розчину на несучу підкладку, видалення розчинника для утворення плівки, формування рідкокристалічного шару, який відрізняється тим, що як (ко)полімер обирають сполуку загальної формули (І)