Валюх Ірина Володимирівна
Спосіб вимірювання параметрів рідкокристалічної комірки
Номер патенту: 93033
Опубліковано: 10.01.2011
Автори: Валюх Ірина Володимирівна, Валюх Сергій Іванович, Слободянюк Олександр Валентинович
МПК: G01N 21/17, G02F 1/13
Мітки: вимірювання, параметрів, спосіб, рідкокристалічної, комірки
Формула / Реферат:
1. Спосіб вимірювання параметрів рідкокристалічної комірки, за яким колімований пучок лінійно поляризованого світла направляють по нормалі до поверхні рідкокристалічної комірки, розміщеної з можливістю її обертання навколо осі, що співпадає із згаданою вище нормаллю, при цьому пучок світла, яке поширюється від рідкокристалічної комірки після взаємодії з нею, а саме, пучок світла, що пройшло через рідкокристалічну комірку або відбилося від...
Спосіб відображення інформації на холестеричному рідкокристалічному дисплеї та рідкокристалічний дисплей
Номер патенту: 83863
Опубліковано: 26.08.2008
Автори: Комітов Лачезар, Валюх Сергій Іванович, Титаренко Павло Олександрович, Козаченко Андрій Георгійович, Валюх Ірина Володимирівна
МПК: G09G 5/00, G02F 1/13, C09K 19/02 ...
Мітки: інформації, дисплей, відображення, дисплеї, спосіб, холестеричному, рідкокристалічному, рідкокристалічній
Формула / Реферат:
1. Спосіб відображення інформації на холестеричному рідкокристалічному дисплеї, за яким до сендвіч-структури рідкокристалічного дисплея, що складається з верхньої і нижньої обкладинок, на внутрішні сторони яких нанесено прозорі електроди, і розміщеного між ними шару холестеричного рідкого кристала з позитивною діелектричною анізотропією прикладають керуюче електричне поле, який відрізняється тим, що в холестеричному рідкому кристалі...
Спосіб вимірювання характеристик прозорої рідкокристалічної комірки
Номер патенту: 77409
Опубліковано: 15.12.2006
Автори: Валюх Сергій Іванович, Слободянюк Олександр Валентинович, Скарп Кент, Валюх Ірина Володимирівна
МПК: G01B 11/06, G02F 1/13, G01N 21/21 ...
Мітки: спосіб, рідкокристалічної, прозорої, характеристик, комірки, вимірювання
Формула / Реферат:
1. Спосіб вимірювання характеристик прозорої рідкокристалічної комірки, за яким на спільній оптичній осі розміщують послідовно перший лінійний поляризатор, рідкокристалічну комірку, причому нормаль до поверхні рідкокристалічної комірки колінеарна оптичній осі, другий лінійний поляризатор, з можливістю зміни їх взаємної кутової орієнтації обертання навколо згаданої оптичної осі, на перший поляризатор вздовж оптичної осі спрямовують...