Валюх Сергій Іванович

Номер патенту: 93033

Опубліковано: 10.01.2011

Автори: Слободянюк Олександр Валентинович, Валюх Сергій Іванович, Валюх Ірина Володимирівна

МПК: G02F 1/13, G01N 21/17

Мітки: спосіб, параметрів, вимірювання, рідкокристалічної, комірки

Формула / Реферат:

1. Спосіб вимірювання параметрів рідкокристалічної комірки, за яким колімований пучок лінійно поляризованого світла направляють по нормалі до поверхні рідкокристалічної комірки, розміщеної з можливістю її обертання навколо осі, що співпадає із згаданою вище нормаллю, при цьому пучок світла, яке поширюється від рідкокристалічної комірки після взаємодії з нею, а саме, пучок світла, що пройшло через рідкокристалічну комірку або відбилося від...

Номер патенту: 83863

Опубліковано: 26.08.2008

Автори: Валюх Ірина Володимирівна, Титаренко Павло Олександрович, Комітов Лачезар, Козаченко Андрій Георгійович, Валюх Сергій Іванович

МПК: G02F 1/13, G09G 5/00, C09K 19/02 ...

Мітки: холестеричному, спосіб, рідкокристалічному, відображення, інформації, дисплеї, дисплей, рідкокристалічній

Формула / Реферат:

1. Спосіб відображення інформації на холестеричному рідкокристалічному дисплеї, за яким до сендвіч-структури рідкокристалічного дисплея, що складається з верхньої і нижньої обкладинок, на внутрішні сторони яких нанесено прозорі електроди, і розміщеного між ними шару холестеричного рідкого кристала з позитивною діелектричною анізотропією прикладають керуюче електричне поле, який відрізняється тим, що в холестеричному рідкому кристалі...

Номер патенту: 77409

Опубліковано: 15.12.2006

Автори: Валюх Ірина Володимирівна, Слободянюк Олександр Валентинович, Скарп Кент, Валюх Сергій Іванович

МПК: G01N 21/21, G02F 1/13, G01B 11/06 ...

Мітки: рідкокристалічної, спосіб, характеристик, вимірювання, прозорої, комірки

Формула / Реферат:

1. Спосіб вимірювання характеристик прозорої рідкокристалічної комірки, за яким на спільній оптичній осі розміщують послідовно перший лінійний поляризатор, рідкокристалічну комірку, причому нормаль до поверхні рідкокристалічної комірки колінеарна оптичній осі, другий лінійний поляризатор, з можливістю зміни їх взаємної кутової орієнтації обертання навколо згаданої оптичної осі, на перший поляризатор вздовж оптичної осі спрямовують...

Номер патенту: 74801

Опубліковано: 15.02.2006

Автори: Валюх Сергій Іванович, Скарп Кент, Слободянюк Олександр Валентинович, Сорокін Віктор Михайлович

МПК: G02F 1/13, G01N 21/45

Мітки: комірки, спосіб, рідкокристалічної, вимірювання, параметрів

Формула / Реферат:

1. Спосіб вимірювання параметрів рідкокристалічної комірки, за яким на поверхню комірки спрямовують пучок світла з неперервним спектром в широкому діапазоні частот, вимірюють розподіл потужності в спектрі дзеркально відбитого від комірки світла, визначають спектральні положення характерних особливостей інтерференційних осциляцій розподілу потужності в цьому спектрі і за цими даними розрахунковим шляхом визначають параметри рідкокристалічної...