Патенти з міткою «структуроскопів»

Номер патенту: 101421

Опубліковано: 25.03.2013

Автори: Учанін Валентин Миколайович, Рибачук Володимир Георгійович

МПК: G01N 27/90

Мітки: стандартних, виготовлення, зразків, спосіб, настроювання, структуроскопів

Формула / Реферат:

1. Спосіб виготовлення стандартних зразків для настроювання структуроскопів, що полягає в вирізанні із заготовок з різними електрофізичними параметрами стандартних зразків з плоскопаралельними поверхнями однакової товщини, вимірюванні електрофізичного структурочутливого параметра матеріалу стандартного зразка і присвоєнні стандартному зразку визначеного значення електрофізичного параметра, який відрізняється тим, що заготовки для стандартних...

Номер патенту: 51834

Опубліковано: 10.08.2010

Автори: Рибачук Володимир Георгійович, Учанін Валентин Миколайович

МПК: G01N 27/90

Мітки: атестації, стандартний, настроювання, метрологічної, зразок, структуроскопів

Формула / Реферат:

1. Стандартний зразок для настроювання та метрологічної атестації структуроскопів, що складається з двох однорідних частин з матеріалів з різними електрофізичними характеристиками, який відрізняється тим, що ці частини становлять собою зрізані циліндри, які, будучи зістикованими між собою по площинах перерізу, утворюють циліндр.2. Стандартний зразок за п. 1, який відрізняється тим, що однорідні частини виготовлені з феромагнітних...