Стандартний зразок для настроювання та метрологічної атестації структуроскопів

Завантажити PDF файл.

Формула / Реферат

1. Стандартний зразок для настроювання та метрологічної атестації структуроскопів, що складається з двох однорідних частин з матеріалів з різними електрофізичними характеристиками, який відрізняється тим, що ці частини становлять собою зрізані циліндри, які, будучи зістикованими між собою по площинах перерізу, утворюють циліндр.

2. Стандартний зразок за п. 1, який відрізняється тим, що однорідні частини виготовлені з феромагнітних матеріалів з різними магнітними властивостями.

3. Стандартний зразок за пп. 1, 2, який відрізняється тим, що однорідні частини виготовлені з матеріалів з різними значеннями коерцитивної сили.

Текст

1. Стандартний зразок для настроювання та метрологічної атестації структуроскопів, що складається з двох однорідних частин з матеріалів з різними електрофізичними характеристиками, 3 51834 4 Найбільш близьким до запропонованої корисний перетворювач, в який введено стандартний ної моделі є відомий стандартний зразок (імітатор) зразок; D - внутрішній діаметри прохідного перетдля настроювання приладів контролю фізиковорювача; d - зовнішній діаметр стандартного зрамеханічних властивостей феромагнітних матеріазка; L - довжина циліндричної ділянки частин зразлів, який виконано у вигляді пластини, яка складака; l - довжина прохідного перетворювача; - кут ється з двох частин змінної ширини з матеріалів з між площиною поверхні січення частини зразка та різними фізико-механічними властивостями, які твірною циліндричної поверхні зразка. з'єднані таким чином, що їх сумарна ширина однаСтандартний зразок складається з двох часкова по довжині зразка (імітатора) [3]. тин 1 і 2, які мають форму усічених циліндрів діаНедоліком відомого зразка є те, що він може метром d. Кожна частина має циліндричну по довзастосовуватися тільки для настроювання прилажині ділянку довжиною L та усічену ділянку. дів з накладними первинними перетворювачами, Площини поверхонь січення частин зразка знахомагнітне коло яких замикається самим зразком. дяться під заданим кутом α до твірної циліндричДля настроювання приладів з прохідними перетної поверхні. Розмір L частин стандартного зразка ворювачами круглого перерізу, магнітне коло яких більший за довжину прохідного перетворювача l відкрите (розімкнене), і призначених для контролю на стільки, що коли останній охоплює циліндричну електрофізичних властивостей виробів циліндричділянку однієї із частин 1 або 2, то він взаємодіє ної або трубчастої форми, він не придатний. тільки даною частиною зразка і не відчуває впливу Метою запропонованої корисної моделі є задругої частини стандартного зразка та його краю. безпечення настроювання та метрологічної атесПри складанні обидві частини 1, 2 зразка з'єднані тації структуроскопів з прохідними перетворювапо поверхнях січення і утворюють єдиний протяжчами кругового перерізу для контролю виробів ний циліндр. циліндричної або трубчастої форми з непереДля імітації довільних значень електрофізичрвною зміною значень електрофізичних характених характеристик у заданому діапазоні частини ристик, у тому числі магнітних характеристик, зокстандартного зразка виконані з однорідних матерірема коерцитивної сили. алів значення відповідної електрофізичної харакМета досягається тим, що стандартний зразок теристики яких дорівнюють відповідно мінімальдля настроювання та метрологічної атестації струному та максимальному значенням заданого ктуроскопів виконаний з двох однорідних частин з діапазону. Конкретне еквівалентне значення елекматеріалів з різними електрофізичними характетрофізичної характеристики вздовж довжини станристиками. По формі ці частини становлять собою дартного зразка визначається її значеннями для усічені циліндри, які будучи зістикованими між сокожної з його частин та співвідношенням їх площ у бою поверхнями січення, утворюють циліндр. поперечному перерізі, який відповідає положенню Для настроювання та метрологічної атестації прохідного перетворювача вздовж зразка. Зміною структуроскопів з прохідними перетворювачами, кута можна змінювати швидкість зміни еквівалепризначених для контролю структури виробів з нтних значень електрофізичних характеристик феромагнітних матеріалів однорідні частини виговздовж довжини стандартного зразка, тобто в затовлені з феромагнітних матеріалів з різними маглежності від конкретних потреб розтягувати або нітними властивостями. стискати його робочий діапазон. Для настроювання та метрологічної атестації Для імітації довільних значень магнітних харакоерцитиметрів з прохідними перетворювачами, ктеристик виробів циліндричної форми у певному однорідні частини виготовлені з феромагнітних діапазоні однорідні частини зразка виготовляють з матеріалів з різними значеннями коерцитивної феромагнітних матеріалів з різними магнітними сили. властивостями. Запропонований стандартний зразок дозволяє Для імітації довільних значень коерцитивними зміною положення прохідного перетворювача силами у заданому діапазоні однорідні частини структуроскопа вздовж довжини зразка відтворюзразка виготовляють з феромагнітних матеріалів з вати у процесі його настроювання та метрологічрізними коерцитивними силами. ної атестації будь-яке довільне еквівалентне знаДля виготовлення частин стандартного зразка чення електрофізичних характеристик виробів вибирають матеріали, електрофізичні характерисциліндричної форми. Це еквівалентне значення тики яких, крім імітованої характеристики, однакові конкретної електрофізичної характеристики визнаі відповідають контрольованим виробам. чається значеннями цієї характеристики для кожРозглянемо роботу із стандартним зразком ної з частин зразка та співвідношенням їх площин для загального випадку імітації довільної електу поперечному перерізі, який відповідає положенрофізичної характеристики при виконанні структуню прохідного перетворювача. Іншою перевагою роскопії виробів циліндричної форми за допомозапропонованої конструкції стандартного зразка є гою прохідних перетворювачів. Для настроювання також простота виготовлення, так як він складаструктуроскопа стандартний зразок вводять в сеється всього з двох частин у формі усічених цилінредину прохідного перетворювача 3. Діаметр зраздрів з однаковим кутом нахилу поверхней січення, ка d повинен бути меншим за діаметр D внутрішякі контактують між собою. Останнє легко забезнього отвору перетворювача. Спочатку печує щільний контакт обох частин зразка. стандартний зразок встановлюють відносно прохіНа фіг. 1 представлено стандартний зразок дного перетворювача таким чином, щоб площина для настроювання та метрологічної атестації струпоперечної симетрії с-с перетворювача (див. фіг. ктуроскопів з прохідними перетворювачами круг1) співпала з площиною перерізу зразка, якій відлого перерізу, де: 1, 2 - частини зразка; 3 - прохідповідає еквівалентне значення електрофізичної 5 51834 6 характеристики, яке дорівнює нижній межі робочорозмірами при виготовленні яких використовуютьго діапазону структуроскопа. За допомогою відпося токарні і фрезерні операції. відного регулятора встановлюють це значення на Запропонований стандартний зразок передбавідліковому пристрої структуроскопа. Потім станчається використати для настроювання та метродартний зразок переміщують вздовж поздовжньої логічної атестації коерцитиметра, який вимірює осі таким чином, щоб з площиною поперечної сиінтегральні значення коерцитивної сили твердометрії с-с прохідного перетворювача співпала сплавних виробів і магнітна система якого виконаплощина поперечного перерізу зразка, якій відпона у вигляді прохідної котушки [4]. відає еквівалентне значення електрофізичної ха1. Пат. 39172 України, МПК G01N27/90. Станрактеристики, яке дорівнює верхній межі робочого дартний зразок для настроювання, калібрування діапазону структуроскопа. Використовуючи інший та атестації вихрострумових дефектоскопів / В.М. регулятор структуроскопа (як правило це регуляУчанін, В.Л. Найда, І.І. Кириченко, О.М. Гогуля тор чутливості), встановлюють значення верхньої (Україна). - №u200810692; Заявл.27.08.2008; межі робочого діапазону структуроскопа на відліОпубл.10.02.2009, Бюл. №3. - 4с. ковому пристрої. Якщо шкала структуроскопа для 2. А.С. №781729 СССР. МКИ G01R35/00. Имиконтрольованої електрофізичної характеристики татор настроечный/В.П. Есилевский, Д.И. Косовслінійна, а регулювання меж його робочого діапакий (СССР). - 2421335/18-21; Заявлено 19.11.76; зону є незалежними, то на цьому настроювання Опубл.23.11.80, Бюл. № 43. - 188с. структуроскопу є завершеним. У протилежному 3. А.С. №900177 СССР. МКИ G01N27/90, випадку необхідно повернутися до настроювання G01R35/00. Имитатор для настройки приборов/В. нижньої межі діапазону, потім знову до верхньої і П. Есилевский, Д. И. Косовский, Ю. М. Шкарлет так кілька разів, тобто застосувати ітераційну про(СССР). - 2449989/25-28; Заявлено 03.02.77; цедуру. Якщо шкала структуроскопа для контроОпубл.23.01.82, Бюл. №3. - 3с. льованої електрофізичної характеристики є нелі4. Назарчук З.Т., Рибачук В.Г., Філюшин Б.С. нійна, то аналогічним чином роблять Прилад для вимірювання інтегрального значення настроювання структуроскопа у кількох проміжних коерцитивної сили//Фізичні методи та засоби контточках робочого діапазону. ролю середовищ, матеріалів та виробів. - Вип. Запропонований стандартний зразок є досить 11/Електромагнітний, ультразвуковий та оптичний простим у виготовленні оскільки він складається контроль матеріалів - Львів: Фізико-механічний ін-т всього з двох частин, ідентичних за формою та ім. Г. В. Карпенка НАН України. - 2006. – С. 103110. Комп’ютерна верстка В. Мацело Підписне Тираж 26 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601

Дивитися

Додаткова інформація

Назва патенту англійською

Standard model for adjustment and metrological attestation of structure-scopes

Автори англійською

Rybachuk Volodymyr Heorhiiovych, Uchanin Valentyn Mykolaiovych

Назва патенту російською

Стандартный образец для настройки и метрологической аттестации структуроскопов

Автори російською

Рибачук Владимир Георгиевич, Учанин Валентин Николаевич

МПК / Мітки

МПК: G01N 27/90

Мітки: атестації, структуроскопів, метрологічної, зразок, стандартний, настроювання

Код посилання

<a href="https://ua.patents.su/3-51834-standartnijj-zrazok-dlya-nastroyuvannya-ta-metrologichno-atestaci-strukturoskopiv.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Стандартний зразок для настроювання та метрологічної атестації структуроскопів</a>

Подібні патенти