Патенти з міткою «стандартний»

Номер патенту: 80684

Опубліковано: 10.06.2013

Автори: Шантир Антон Сергійович, Володарський Євген Тимофійович

МПК: G01B 3/30

Мітки: растрового, зразок, мікроскопа, стандартний, калібрування, електронного

Формула / Реферат:

Стандартний зразок для калібрування растрового електронного мікроскопа, який містить блок крокової структури, який відрізняється тим, що додатково містить генератор прямокутних імпульсів, блок Фур'є перетворення, блок обчислення геометричних параметрів крокової структури, причому вихід генератора прямокутних імпульсів з'єднаний зі входом блока Фур'є перетворення та з входом блока крокової структури, вихід якої з'єднаний зі входом блока...

Номер патенту: 51834

Опубліковано: 10.08.2010

Автори: Учанін Валентин Миколайович, Рибачук Володимир Георгійович

МПК: G01N 27/90

Мітки: стандартний, настроювання, атестації, метрологічної, зразок, структуроскопів

Формула / Реферат:

1. Стандартний зразок для настроювання та метрологічної атестації структуроскопів, що складається з двох однорідних частин з матеріалів з різними електрофізичними характеристиками, який відрізняється тим, що ці частини становлять собою зрізані циліндри, які, будучи зістикованими між собою по площинах перерізу, утворюють циліндр.2. Стандартний зразок за п. 1, який відрізняється тим, що однорідні частини виготовлені з феромагнітних...

Номер патенту: 39189

Опубліковано: 10.02.2009

Автори: Рибачук Володимир Георгійович, Учанін Валентин Миколайович

МПК: G01N 27/90

Мітки: настроювання, атестації, стандартний, вихрострумових, дефектоскопів, зразок

Формула / Реферат:

1. Стандартний зразок для настроювання та атестації вихрострумових дефектоскопів, який складається з двох клиноподібних частин з однаковим кутом нахилу і штучного дефекту, який відрізняється тим, що клиноподібні частини зістиковані між собою таким чином, що утворюють пластину з паралельними поверхнями, а штучний дефект нанесений на одну із клиноподібних частин.2. Стандартний зразок за п. 1, який відрізняється тим, що штучний дефект...

Номер патенту: 39172

Опубліковано: 10.02.2009

Автори: Учанін Валентин Миколайович, Гогуля Олександр Миколайович, Найда Володимир Львович, Кириченко Ірина Іванівна

МПК: G01N 27/90

Мітки: зразок, настроювання, вихрострумових, дефектоскопів, атестації, калібрування, стандартний

Формула / Реферат:

1. Стандартний зразок для настроювання, калібрування та атестації вихрострумових дефектоскопів у вигляді протяжної циліндричної трубки, складеної з декількох частин, з штучним дефектом в одній з частин, який відрізняється тим, що зразок виконаний з двох циліндричних трубчастих частин, зовнішній і внутрішній діаметри яких є рівними, обидві частини зразка мають кінцеві ділянки рівної довжини, які виготовлені таким чином, що зовнішній діаметр...

Номер патенту: 52432

Опубліковано: 16.12.2002

Автор: Колбін Ігор Борисович

МПК: G01N 29/04

Мітки: виробів, основних, стандартний, способом, параметрів, визначення, контролю, циліндричних, ультразвукового, хордовим, зразок

Формула / Реферат:

1. Стандартний зразок для визначення основних параметрів ультразвукового контролю циліндричних виробів хордовим способом, що має тіло,  виготовлене з матеріалу, акустичні властивості якого відповідають властивостям контрольованого виробу, основу, бічні грані і розміщену під кутом до основи зразка похилу грань з відбивачем у вигляді плоскодонного отвору, який відрізняється тим, що тіло зразка виготовлене як півциліндр, радіус кривизни якого...

Номер патенту: 25400

Опубліковано: 30.10.1998

Автор: Завірюха Анатолій Іванович

МПК: A61K 39/00

Мітки: сибірки, сибірковий, стандартний, антиген, діагностики

Формула / Реферат:

Антиген сибірковий стандартний для діагностики сибірки на основі інактивованих мікробів вірулентного штаму збудника сибірки, який відрізняється тим, що містить продукти життєдіяльності вакцинного штаму, наприклад, Bac.anthracis K-79Z у вигляді фільтрату культуральної рідини.