Патенти з міткою «тісі4(нижній»

Номер патенту: 8618

Опубліковано: 30.09.1996

Автори: Завадовська Віра Миколаївна, Буряк Микола Іванович, Степаніщева Діна Фатихівна, Бандур Віктор Аркадійович

МПК: G01N 21/29

Мітки: спосіб, тісі4(нижній, ступіні, індекс, очистки, контролю

Формула / Реферат:

Способ контроля степени очистки ТiСl4, включающий сравнение исследуемого ТiСl4 с эта­лоном, отличающийся тем, что, с целью упроще­ния и повышения экспрессности способа и снижения затрат, готовят эталон ТiСl4 с общим содержанием примесей не более 0,002 мас. %, фик­сируют электронные спектры поглощения ТiСl4 и эталона, измеряют сдвиг края полосы поглощения ТiСl4 относительно эталона и по сдвигу судят о степени очистки ТiСl4.