Патенти з міткою «вихрострумових»
Спосіб калібрування при вихрострумових вимірюваннях питомої електропровідності матеріалу із виключенням впливу зазору
Номер патенту: 115259
Опубліковано: 10.10.2017
Автори: Луценко Геннадій Геннадійович, Тетерко Олександр Анатолійович, Тетерко Анатолій Якович
МПК: G01R 33/12, G01N 27/90
Мітки: впливу, питомої, виключенням, матеріалу, електропровідності, калібрування, зазору, вимірюваннях, вихрострумових, спосіб
Формула / Реферат:
1. Спосіб калібрування при вихрострумових вимірюваннях питомої електропровідності матеріалу із виключенням впливу зазору, за яким вихрострумовим перетворювачем на заданій робочій частоті індукують в матеріалі контрольованого об'єкта вихрові струми; формують інформаційний сигнал, для чого встановлюють вихрострумовий перетворювач із заданим максимальним значенням зазору на поверхню зразка з номінальним значенням питомої електропровідності...
Спосіб вихрострумових селективних вимірювань параметрів оболонок
Номер патенту: 102446
Опубліковано: 10.07.2013
Автори: Гутник Володимир Ігорович, Луценко Геннадій Геннадійович, Тетерко Анатолій Якович
МПК: G01N 27/90
Мітки: параметрів, спосіб, вимірювань, оболонок, вихрострумових, селективних
Формула / Реферат:
1. Спосіб вихрострумових селективних вимірювань параметрів оболонок, за яким вихрострумовий перетворювач збуджують від джерела змінного струму, формують інформаційний сигнал шляхом додавання до сигналу на виході вихрострумового перетворювача сигналу компенсації, розміщують вихрострумовий перетворювач на контрольованому об'єкті і вимірюють характеристики інформаційного сигналу, за якими визначають параметри контрольованого об'єкта, який...
Стандартний зразок для настроювання та атестації вихрострумових дефектоскопів
Номер патенту: 39189
Опубліковано: 10.02.2009
Автори: Рибачук Володимир Георгійович, Учанін Валентин Миколайович
МПК: G01N 27/90
Мітки: настроювання, дефектоскопів, стандартний, зразок, вихрострумових, атестації
Формула / Реферат:
1. Стандартний зразок для настроювання та атестації вихрострумових дефектоскопів, який складається з двох клиноподібних частин з однаковим кутом нахилу і штучного дефекту, який відрізняється тим, що клиноподібні частини зістиковані між собою таким чином, що утворюють пластину з паралельними поверхнями, а штучний дефект нанесений на одну із клиноподібних частин.2. Стандартний зразок за п. 1, який відрізняється тим, що штучний дефект...
Стандартний зразок для настроювання, калібрування та атестації вихрострумових дефектоскопів
Номер патенту: 39172
Опубліковано: 10.02.2009
Автори: Учанін Валентин Миколайович, Гогуля Олександр Миколайович, Кириченко Ірина Іванівна, Найда Володимир Львович
МПК: G01N 27/90
Мітки: зразок, калібрування, стандартний, дефектоскопів, вихрострумових, настроювання, атестації
Формула / Реферат:
1. Стандартний зразок для настроювання, калібрування та атестації вихрострумових дефектоскопів у вигляді протяжної циліндричної трубки, складеної з декількох частин, з штучним дефектом в одній з частин, який відрізняється тим, що зразок виконаний з двох циліндричних трубчастих частин, зовнішній і внутрішній діаметри яких є рівними, обидві частини зразка мають кінцеві ділянки рівної довжини, які виготовлені таким чином, що зовнішній діаметр...