Чабань Володимир Якович

Спосіб контролю герметичності електровакуумних приборів

Завантаження...

Номер патенту: 9128

Опубліковано: 30.09.1996

Автори: Мартиненко Анатолій Петрович, Чабань Володимир Якович

МПК: G01M 3/00

Мітки: приборів, герметичності, електровакуумних, контролю, спосіб

Формула / Реферат:

Способ контроля герметичности электрова­куумных приборов путем измерения катодного то­ка при номинальном напряжении накала в диодном режиме, прогрева прибора, повторного измерения катодного тока после прогрева исравне-ния измеренных значений тока, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности и исключения разрушения прибора, прогрев осуще­ствляют в атмосфере водорода при 100-150° С не менее 2 ч, повторное измерение катодного тока...

Спосіб виготовлення стрічкових спіралей для ліній уповільнення лампи бігучої хвилі

Завантаження...

Номер патенту: 9374

Опубліковано: 30.09.1996

Автори: Чабань Володимир Якович, Маковій Володимир Григорович

МПК: B21F 15/00, B21F 21/00

Мітки: ліній, виготовлення, стрічкових, хвилі, лампи, бігучої, спіралей, спосіб, уповільнення

Формула / Реферат:

Способ изготовления ленточных спиралей для линий замедления ламп бегущей волны, за­ключающийся в изготовлении ленты из проволоки круглого поперечного сечения и навивки ее в спи­раль на вращающемся керне, отличающийся тем, что, с целью повышения качества готового изделия за счет уменьшения остаточных упругих напряже­ний и обеспечения точности геометрических разме­ров и расширения технологических возможностей путем получения ленты с различной...

Спосіб визначення статичних характеристик електронних пучків малого перерізу та пристрій для його здійснення

Завантаження...

Номер патенту: 4086

Опубліковано: 27.12.1994

Автори: Чабань Володимир Якович, Пушкарьов Костянтин Олексійович, Корж Вадим Георгійович, Воробйов Геннадій Савелійович, Бєлоусов Євген Вікторович

МПК: H01J 9/12

Мітки: пристрій, визначення, пучків, здійснення, характеристик, статичних, спосіб, малого, перерізу, електронних

Формула / Реферат:

1. Способ определения статических характеристик электронных пучков малого сечения, включающий формирование электронного пучка, установку подвижной мишени в заданном сечении пучка, измерение тока пучка, регистрацию оптического излучения на плоскости мишени методом макросъемки, обработку фотопленки, фотометрирование изображения по заданным координатам, определение коэффициента увеличения оптической системы и зависимости оптической плотности...