H01J 9/12 — фотоелектронних катодів; електродів з вторинної електронної емісією
Пристрій регулювання і контролю апертурних отворів при проколі електронним пучком
Номер патенту: 37786
Опубліковано: 15.05.2001
Автори: Яковлєв Дмитро Рудольфович, Аллахверанов Рауф Юсіфович, Лавринович Микола Антонович
МПК: H01J 9/12
Мітки: отворів, проколі, електронним, пристрій, регулювання, контролю, пучком, апертурних
Текст:
...На фігурі представлена структурна схема пристрою. Пристрій регулювання і контролю апертурних отворів при проколі електронним пучком містить загальне джерело живлення 1, електронно променевий прилад 2 з розміщеними в ньому підігрівачем 3, катодом 4, модулятором 5, прискорюючим електродом 6 з діафрагмою без отвору, фокусуючим електродом 7, анодом 8, сіткою 9 і мішенню 10 з сигнальною пластиною, високовольтне джерело живлення 11,...
Спосіб визначення статичних характеристик електронних пучків малого перерізу та пристрій для його здійснення
Номер патенту: 4086
Опубліковано: 27.12.1994
Автори: Чабань Володимир Якович, Корж Вадим Георгійович, Воробйов Геннадій Савелійович, Пушкарьов Костянтин Олексійович, Бєлоусов Євген Вікторович
МПК: H01J 9/12
Мітки: пристрій, електронних, спосіб, здійснення, визначення, малого, перерізу, характеристик, статичних, пучків
Формула / Реферат:
1. Способ определения статических характеристик электронных пучков малого сечения, включающий формирование электронного пучка, установку подвижной мишени в заданном сечении пучка, измерение тока пучка, регистрацию оптического излучения на плоскости мишени методом макросъемки, обработку фотопленки, фотометрирование изображения по заданным координатам, определение коэффициента увеличения оптической системы и зависимости оптической плотности...