Чепіга Валерій Миколайович

Спосіб виготовлення обтічника зі змінною відносною діелектричною проникністю стінки із склопластикових матеріалів

Завантаження...

Номер патенту: 54274

Опубліковано: 10.11.2010

Автори: Сухаревський Ілля Олегович, Рябоконь Євген Олександрович, Ставицький Олег Миколайович, Нечитайло Сергій В'ячеславович, Чепіга Валерій Миколайович, Батурін Олег Володимирович, Коломійцев Олексій Володимирович, Смірнов Олег Леонідович, Місайлов Віталій Леонідович

МПК: H01Q 1/42

Мітки: відносною, стінки, матеріалів, обтічника, діелектричною, проникністю, склопластикових, виготовлення, спосіб, змінною

Формула / Реферат:

Спосіб виготовлення обтічника зі змінною відносною діелектричною проникністю стінки із склопластикових матеріалів, що полягає у виготовленні внутрішньої та зовнішньої склопластикових обшивок обтічника, блоків стільникового заповнювача з профільованої склотканини, просоченої зв'язуючим, розрізанні блоків на панелі, скріпленні панелей між собою та з внутрішньою і зовнішньою обшивками, який відрізняється тим, що виготовляють стільниковий...

Спосіб виготовлення обтічника зі змінною відносною діелектричною проникністю стінки з заповнювачем з керамічних матеріалів

Завантаження...

Номер патенту: 47391

Опубліковано: 25.01.2010

Автори: Чепіга Валерій Миколайович, Смірнов Олег Леонідович, Ставицький Олег Миколайович, Коломійцев Олексій Володимирович, Місайлов Віталій Леонідович, Рябоконь Євген Олександрович, Кукобко Сергій Вікторович, Батурін Олег Володимирович

МПК: H01Q 1/42

Мітки: стінки, проникністю, обтічника, керамічних, матеріалів, відносною, виготовлення, діелектричною, заповнювачем, спосіб, змінною

Формула / Реферат:

Спосіб виготовлення обтічника зі змінною відносною діелектричною проникністю стінки з заповнювачем з керамічних матеріалів, який відрізняється тим, що як заповнювач використовуються керамічні стільники заданої форми, які виготовляються з матеріалів, що мають різні відносні діелектричні проникності, які розташовуються на поверхні внутрішньої обшивки відповідно до кута сканування антенної системи і відносної діелектричної проникності...