G01B 9/08 — оптичні проекційні компаратори
Пристрій для вимірювання в динамічних умовах ширини щілини з переміщуваними в мікронних межах краями
Номер патенту: 10119
Опубліковано: 15.11.2005
Автори: Вінніченко Катерина Леонідівна, Зависляк Ігор Володимирович, Поперенко Леонід Володимирович, Романюк Владислав Федорович
МПК: G01B 11/04, G01B 9/08
Мітки: мікронних, динамічних, вимірювання, краями, межах, ширини, переміщуваними, пристрій, щілини, умовах
Формула / Реферат:
Пристрій для вимірювання в динамічних умовах ширини мікрощілини з переміщуваними її краями, що містить освітлювальну систему, пристрій реєстрації з вхідним вікном світлового пучка, який відрізняється тим, що за освітлювальною системою в нього введені за ходом світлового променя формувач профілю мікрощілини, проекційна система з мікрооб'єктивом з мікрометричною сіткою та колективною лінзою, а в площині сформованого проекційною системою...
Спосіб вимірювання окремих колоїдних частинок у рідких середовищах
Номер патенту: 69818
Опубліковано: 15.09.2004
Автор: Федін Олександр Володимирович
МПК: G01N 23/00, G01B 9/08
Мітки: колоїдних, рідких, вимірювання, частинок, спосіб, середовищах, окремих
Формула / Реферат:
Спосіб вимірювання окремих колоїдних частинок у рідких середовищах, при якому через розчин пропускають монохроматичне світло, який відрізняється тим, що лазерний пучок фокусується на шарі рідини таким чином, що фронт хвилі розсіяного світла вже не є плоским і відхиляється від напрямку лазерного пучка.
Пристрій для вимірювання геометричних параметрів діамантів
Номер патенту: 12051
Опубліковано: 25.12.1996
Автори: Срочинський Анатолій Йосипович, Житницький Олександр Піневич
МПК: G01B 9/08
Мітки: параметрів, геометричних, діамантів, вимірювання, пристрій
Формула / Реферат:
Устройство для измерения геометрических параметров бриллиантов, содержащее объектив, окуляр, визирную сетку, направленную измерительную сетку, установленную на направляющей с возможностью линейного перемещения относительно визирной сетки, и отсчетное приспособление линейного перемещения измерительной сетки, образующие микроскоп, основание и кристаллодержатель, установленный на основании с возможностью линейного перемещения и поворота...