Кошовий Олексій Анантолійович
Спосіб 3d контролю якості кристалічних матеріалів
Номер патенту: 65556
Опубліковано: 12.12.2011
Автори: Порєв Володимир Андрійович, Венгер Євген Федорович, Маслов Володимир Петрович, Качур Наталія Володимирівна, Кущовий Сергій Миколайович, Кошовий Олексій Анантолійович
МПК: G01N 25/72
Мітки: кристалічних, спосіб, якості, матеріалів, контролю
Формула / Реферат:
Спосіб контролю якості кристалічних матеріалів, що включає опромінення лазерним випромінюванням зразка матеріалу з довжиною хвилі, що відповідає діапазону прозорості цього кристалу, вимірювання величини потужності випромінювання, яке пройшло через зразок, і порівняння з величиною потужності випромінювання цього лазера, що пройшло через еталонний зразок, який відрізняється тим, що зразок, що контролюється, встановлюють на координатний стіл...