Кущовий Сергій Миколайович

Пристрій лазерного контролю прозорих матеріалів

Завантаження...

Номер патенту: 79455

Опубліковано: 25.04.2013

Автори: Кузіч Юрій Сергійович, Кущовий Сергій Миколайович, Венгер Євген Федорович, Порєв Володимир Андрійович, Богдан Олександр Володимирович, Маслов Володимир Петрович, Качур Наталія Володимирівна

МПК: G01B 21/00

Мітки: лазерного, пристрій, матеріалів, контролю, прозорих

Формула / Реферат:

Пристрій лазерного контролю прозорих матеріалів, що містить джерело лазерного випромінювання, довжина хвилі якого відповідає діапазону прозорості матеріалу, що контролюється, оптичні елементи та приймач, який відрізняється тим, що після зразка встановлена лінза або об'єктив, а потім екран, на якому фіксується зображення поперечного перерізу лазерного випромінювання.

Застосування плоского або телевізійного екрана в стані включення в електричну мережу живлення персонального комп’ютера або телевізора як джерела поляризованого випромінювання

Завантаження...

Номер патенту: 78911

Опубліковано: 10.04.2013

Автори: Маслов Володимир Петрович, Венгер Євген Федорович, Кущовий Сергій Миколайович, Качур Наталія Володимирівна, Семенець Олександр Іванович

МПК: G02F 1/13

Мітки: стані, випромінювання, живлення, екрана, застосування, включення, електричну, джерела, плоского, персонального, мережу, телевізора, поляризованого, телевізійного, комп'ютера

Формула / Реферат:

Застосування плоского дисплейного або телевізійного екрана в стані включення в електричну мережу живлення персонального комп'ютера або телевізора як джерела поляризованого випромінювання.

Спосіб визначення усадки клею

Завантаження...

Номер патенту: 78675

Опубліковано: 25.03.2013

Автори: Маслов Володимир Петрович, Венгер Євген Федорович, Качур Наталія Володимирівна, Кущовий Сергій Миколайович, Богдан Олександр Володимирович, Порєв Володимир Андрійович, Кузіч Юрій Сергійович

МПК: G01B 11/00, G01J 1/00

Мітки: усадки, спосіб, визначення, клею

Формула / Реферат:

Спосіб визначення усадки клею, що включає неруйнівний метод контролю величини усадки клею, який відрізняється тим, що геометричні розміри плями клею вимірюють засобами телевізійного мікроскопа до і після полімеризації.

Пристрій “сапфір” контролю якості кристалів, прозорих в оптичному діапазоні вимірювання

Завантаження...

Номер патенту: 73734

Опубліковано: 10.10.2012

Автори: Порєв Володимир Андрійович, Венгер Євген Федорович, Маслов Володимир Петрович, Кущовий Сергій Миколайович, Сердега Борис Кирилович, Матяш Ігор Євгенійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: сапфір, якості, діапазоні, кристалів, прозорих, контролю, вимірювання, оптичному, пристрій

Формула / Реферат:

Пристрій контролю якості кристалів, прозорих в оптичному діапазоні вимірювання, що містить напівпровідниковий лазер, фазові пластини, утримувач зразка, модулятор поляризації та фотоелектронний приймач, який відрізняється тим, що одна фазова пластина розташована безпосередньо перед зразком, який контролюється, а друга - після нього.

Пристрій вимірювання внутрішніх механічних напружень в оптичних деталях

Завантаження...

Номер патенту: 73418

Опубліковано: 25.09.2012

Автори: Венгер Євген Федорович, Кущовий Сергій Миколайович, Порєв Володимир Андрійович, Прохорович Анатолій Вікторович, Сердега Борис Кирилович, Маслов Володимир Петрович

МПК: G01N 21/21

Мітки: механічних, пристрій, вимірювання, напружень, внутрішніх, оптичних, деталях

Формула / Реферат:

Пристрій вимірювання внутрішніх механічних напружень в оптичних деталях, який містить напівпровідниковий лазер, лінзу, утримувач зразка, модулятор поляризації, компенсаційну фазову пластину та фотоелектронний приймач, який відрізняється тим, що утримувач зразка має нагрівальний елемент та термопару для контролю температури зразка.

Спосіб 3d контролю якості кристалічних матеріалів

Завантаження...

Номер патенту: 65556

Опубліковано: 12.12.2011

Автори: Качур Наталія Володимирівна, Порєв Володимир Андрійович, Маслов Володимир Петрович, Кошовий Олексій Анантолійович, Кущовий Сергій Миколайович, Венгер Євген Федорович

МПК: G01N 25/72

Мітки: матеріалів, якості, кристалічних, спосіб, контролю

Формула / Реферат:

Спосіб контролю якості кристалічних матеріалів, що включає опромінення лазерним випромінюванням зразка матеріалу з довжиною хвилі, що відповідає діапазону прозорості цього кристалу, вимірювання величини потужності випромінювання, яке пройшло через зразок, і порівняння з величиною потужності випромінювання цього лазера, що пройшло через еталонний зразок, який відрізняється тим, що зразок, що контролюється, встановлюють на координатний стіл...