Коваленко Микола Йосипович

Тримач зразків

Завантаження...

Номер патенту: 78238

Опубліковано: 15.03.2007

Автори: Гнап Богдан Арленович, Коваленко Микола Йосипович, Онищенко Вячеслав Володимирович, Гнап Арлен Карпович, Прохоров Георгій Валерійович

МПК: G21K 5/00

Мітки: тримач, зразків

Формула / Реферат:

Тримач зразків для радіаційних випробовувань при дистанційних вимірах статичних і динамічних параметрів надвисокочастотних діодів в робочих режимах детектування, генерування і змішувальному режимі, що містить три камери, який відрізняється тим, що як дві камери використані два нерухомі резонатори, а третя камера - одна змінна надвисокочастотна камера, при цьому в сполучній конструкції розміщені кронштейни з підшипниками і тримач р-n переходів...

Пристрій для дистанційного дослідження зразків

Завантаження...

Номер патенту: 63158

Опубліковано: 15.01.2004

Автори: Храмов Євгеній Пилипович, Прохоров Георгій Валерійович, Гнап Арлен Карпович, Коваленко Микола Йосипович

МПК: G21K 5/00

Мітки: пристрій, дистанційного, дослідження, зразків

Формула / Реферат:

Пристрій для дистанційного дослідження зразків, що містить тримачі досліджуваних приладів і комутаційні елементи, який відрізняється тим, що являє собою єдину сполучну конструкцію, в якій розміщені три блоки, які можуть переміщуватися в просторі: верхній, що має корпус, коаксіальні і штепсельні розніми та коаксіальний кабель, з'єднуючи його із середнім блоком, який складається з корпусу, коаксіальних рознімів та електромагнітної муфти і...

Спосіб аналізу та контролю поля високоенергетичного випромінювання

Завантаження...

Номер патенту: 51923

Опубліковано: 16.12.2002

Автори: Коваленко Микола Йосипович, Храмов Євгеній Пилипович, Гнап Арлен Карпович

МПК: G01R 29/00

Мітки: спосіб, аналізу, поля, високоенергетичного, контролю, випромінювання

Формула / Реферат:

Спосіб аналізу та контролю поля високоенергетичного випромінювання, оснований на тому, що для вимірювання та контролю флюенса нейтронів, дози -квантів в об'єктах і частинах об`єктів складної форми, які знаходяться під впливом проникаючого випромінювання, використовують датчик та контрольно-вимірювальний прилад, який відрізняється тим, що датчик розміщують у важкодоступних...

Пристрій для вимірювання площі рослинних листків

Завантаження...

Номер патенту: 41676

Опубліковано: 17.09.2001

Автори: Гнап Арлен Карпович, Коваленко Микола Йосипович

МПК: G11B 7/00

Мітки: листків, пристрій, площі, рослинних, вимірювання

Формула / Реферат:

Пристрій для вимірювання площірослинних листків, який складається з джерела світла, віддзеркалюючої поверхні, матового скла, світлофільтра, блока світлочутливих елементів, індикатора величини площі, блока живлення.

Спосіб контролю початкових фаз зсуву поверхневих шарів грунту

Завантаження...

Номер патенту: 41636

Опубліковано: 17.09.2001

Автори: Коваленко Микола Йосипович, Гнап Арлен Карпович

МПК: G02F 1/29, G02F 1/35

Мітки: поверхневих, грунту, фаз, спосіб, початкових, шарів, зсуву, контролю

Формула / Реферат:

Спосіб контролю початкових фаз зсуву поверхневих шарів грунту, який включає подачу сигналу лазерного променя почергово на відзеркалюючі поверхні контрольованих точок, прийом відбитого променя світлочутливими елементами на фотолінійці, реєстрацію відхилення відбитого променя фотолінійкою, по якому судять про відхилення контрольованої точки поверхневих шарів грунту від початкового положення.

Конденсаційний гігрометр

Завантаження...

Номер патенту: 33997

Опубліковано: 15.02.2001

Автори: Гнап Арлен Карпович, Коваленко Микола Йосипович

МПК: G01N 21/01, G01N 19/00, G01N 25/66 ...

Мітки: конденсаційний, гігрометр

Текст:

...властивостей дзеркальних поверхонь 3, 15 установлення рівноважного стану диференціального підсилювача 9 здійснюється введенням у світловий потік оптичного або електричного компенсатора 6, 12. При досягненні точки роси температура першої дзеркальної поверхні 3 підтримується на рівні, що перевищує температуру точки роси на задану величину, а температура другої дзеркальної поверхні 15 підтримується нижче температури точки роси також на...

Спосіб виготовлення мікронних прецизійних діафрагм

Завантаження...

Номер патенту: 33501

Опубліковано: 15.02.2001

Автори: Гнап Арлен Карпович, Коваленко Микола Йосипович

МПК: G21K 5/04

Мітки: мікронних, прецизійних, спосіб, виготовлення, діафрагм

Текст:

...Па ср\Г зображена схема прецизійної діафрагми, ле І дрп, 2 захисний шар, 3 - корпус діафрагми. Запропонований спосіб здійснюється таким чином береться алюмінієвий дріт діаметром 50 мкм, закріплюється в тефлонових затискачах і розмішається в травникові такого складу 2% соляної кислоти, 49% азотної кислоти. 49% метилового спирту Процес хімічного травлення і полірування ло потрібного ліамеїтп контролюсться ошичним мікроскопом Після...