Ляпін Олександр Миколайович

Номер патенту: 69942

Опубліковано: 25.05.2012

Автори: Ляпін Олександр Миколайович, Венгер Євген Федорович, Маслов Володимир Петрович, Качур Наталія Володимирівна

МПК: G01N 21/31

Мітки: прозорих, кристалах, спосіб, контролю, дефектів

Формула / Реферат:

Спосіб контролю дефектів у прозорих кристалах за величиною потужності випромінювання, що пройшло через зразок вздовж його осі, який відрізняється тим, що між зразком та приладом, що контролює потужність випромінювання встановлюється аналізатор, що обертається навколо осі розповсюдження випромінювання, результати вимірів порівнюються з вимірами еталонного зразка, в якому немає дефектів чи їх рівень визначено виробником або замовником як...