Патенти з міткою «прозорих»

Номер патенту: 119255

Опубліковано: 25.09.2017

Автори: Шевченко Костянтин Леонідович, Головчанська Олександра Дмитрівна, Яненко Олексій Пилипович, Шульга Віталій Анатолійович

МПК: G01J 1/00

Мітки: фотометричний, вимірювач, поглинальної, слабкої, прозорих, здатності, матеріалів

Формула / Реферат:

Фотометричний вимірювач поглинальної здатності матеріалів, який містить джерело світлового потоку, комірку з досліджуваним зразком та фотоприймач в складі фотоелемента і вимірювального блока, який відрізняється тим, що додатково введено джерело світлового потоку, виконане у вигляді двох максимально рознесених за частотою світлодіодів, виходи яких направлені на комірку з об'єктом дослідження, мікроконтролер, модулятор та ключ, причому перший...

Номер патенту: 119051

Опубліковано: 11.09.2017

Автори: Хребтов Олег Дмитрович, Котляров Валерій Павлович, Олійник Володимир Григорович

МПК: B23K 26/00

Мітки: матеріалів, лазерної, заготівках, циліндричних, прозорих, отворів, спосіб, обробки

Формула / Реферат:

Спосіб лазерної обробки циліндричних отворів в заготівках із прозорих матеріалів, що включає розташування заготівки на столі лазерної технологічної установки на шляху лазерного променя, енергію якого концентрують оптичною системою на поверхню заготівки та подачею одного або декількох імпульсів лазерної енергії виконують обробку отвору, починаючи з поверхні, яка протилежна тій, що обернена до оптичної системи, який відрізняється тим, що під...

Номер патенту: 99475

Опубліковано: 10.06.2015

Автори: Ліптуга Анатолій Іванович, Маслов Володимир Петрович, Качур Наталія Володимирівна, Кислий Володимир Павлович

МПК: G01N 21/39

Мітки: діапазоні, оптичному, якості, матеріалів, прозорих, контролю, спосіб, випромінювання

Формула / Реферат:

Спосіб контролю якості матеріалів, прозорих в оптичному діапазоні випромінювання, при якому поліровану пластину, виготовлену із матеріалу, що контролюється, опромінюють випромінюванням, довжина хвилі якого відповідає діапазону прозорості матеріалу, за допомогою фотоприймального пристрою реєструють спектр випромінювання, що пройшло через зразок, який відрізняється тим, що контроль зразка проводять не менше 2-х разів, причому перший раз зразок...

Номер патенту: 97517

Опубліковано: 25.03.2015

Автори: Худякова Олена Павлівна, Котляров Велерій Павлович

МПК: H01S 3/20

Мітки: лазерним, матеріалах, установка, прозорих, отворів, променем, пробивання

Формула / Реферат:

Установка для пробивання отворів лазерним променем в прозорих матеріалах, що включає в себе лазер з блоком живлення, фокусуючу лінзу, робочий стіл для закріплення деталей, виконаний з центральним отвором та з встановленим під ним світлофільтром та фотоприймачем, а також з'єднані між собою блок вимірювання потужності випромінювання та блок керування лазером, один з виходів котрого з'єднаний з блоком живлення, яка відрізняється тим, що...

Номер патенту: 95934

Опубліковано: 12.01.2015

Автори: Качур Наталія Володимирівна, Маркіна Ольга Миколаївна

МПК: G01N 25/72

Мітки: матеріалів, оптично, прозорих, контролю, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб контролю оптично прозорих матеріалів, який включає опромінювання ґратки, формування зображення, що пройшло через зразок, що контролюється, реєстрацію зображення ґратки за допомогою оптико-електронної цифрової камери та порівняльного аналізу зображення ґратки, що сформовано через еталонний зразок та зразок, що контролюється, яка відрізняється тим, що зображення ґратки, що пройшло через зразок оптичного матеріалу, формується в оптичному...

Номер патенту: 95615

Опубліковано: 25.12.2014

Автори: Маслов Володимир Петрович, Маркіна Ольга Миколаївна, Качур Наталія Володимирівна

МПК: G01N 15/10

Мітки: визначення, прозорих, розмірів, об'єктів, мікромасштабних, спосіб, геометричних

Формула / Реферат:

Спосіб визначення геометричних розмірів мікромасштабних прозорих об'єктів, який полягає у скануванні зображення, вимірюванні величини сигналу в вибраних точках по площині зображення об'єкта, що перевищує рівень шуму, до побудови контуру об'єкта, що вимірюється, за показником сигнал/шум, який відрізняється тим, що перед вимірюванням геометричних розмірів об'єктів після джерела освітлення встановлюють фіксовано поляризатор, а перед об'єктивом...

Номер патенту: 105298

Опубліковано: 25.04.2014

Автори: Чечко Володимир Євгенійович, Тюрин Олександр Валентинович, Ткаченко Володимир Григорович, Попов Андрій Юрійович

МПК: G01B 9/021

Мітки: спекл-інтерферометрії, складових, прозорих, двокомпонентних, імерсійний, мікрооб'єктів, фазомодульованої, спосіб, методом, визначення, багатокомпонентних

Формула / Реферат:

Імерсійний спосіб визначення складових двокомпонентних та багатокомпонентних прозорих мікрооб′єктів методом фазомодульованої cпекл-інтерферометрії, що включає освітлювання об′єкта когерентним оптичним випромінюванням лазера для формування світлової об′єктної хвилі зі спекловим характером, здійснення просторового суміщення світлової об′єктної хвилі та світлової опорної хвилі для формування сумарної світлової хвилі,...

Номер патенту: 87369

Опубліковано: 10.02.2014

Автори: Котляров Валерій Павлович, Волковська Марина Василівна

МПК: B23K 26/02

Мітки: лазерної, випромінювання, спосіб, прозорих, лазерного, заготовок, обробки, матеріалів

Формула / Реферат:

Спосіб лазерної обробки заготовок із прозорих для лазерного випромінювання матеріалів, при якому заготовку встановлюють на столі, поверхні якого під зоною обробки надають поглинальної здатності, а лазерний промінь фокусують на цю поверхню, який відрізняється тим, що як матеріал з високою поглинальною здатністю використовують суспензію порошку тугоплавкого металу в рідині, для чого в столі попередньо виконують отвір і суспензією заповнюють...

Номер патенту: 103393

Опубліковано: 10.10.2013

Автори: Дзюбенко Михайло Іванович, Кісельов Володимир Костянтинович, Радіонов Володимир Петрович

МПК: G01N 21/41, H01S 3/00

Мітки: показника, речовин, прозорих, заломлення, спосіб, визначення

Формула / Реферат:

Спосіб визначення показника заломлення прозорих речовин, за яким через еталонну речовину з відомим показником заломлення і досліджувану речовину пропускають випромінювання та за різницею фазових швидкостей випромінювання в еталонній і досліджуваній речовинах визначають показник заломлення досліджуваної речовини, який відрізняється тим, що еталонною речовиною і досліджуваною речовиною по черзі заповнюють одну і ту ж кювету, поміщену в...

Номер патенту: 82914

Опубліковано: 27.08.2013

Автори: Ткаченко Володимир Григорович, Чечко Володимир Євгенійович, Попов Андрій Юрійович, Тюрин Олександр Валентинович

МПК: G01B 9/021

Мітки: імерсійного, спекл-інтерферометрії, допомогою, двокомпонентних, прозорих, фазомодульованої, мікрооб'єктів, складових, спосіб, визначення, багатокомпонентних

Формула / Реферат:

Спосіб імерсійного визначення складових двокомпонентних та багатокомпонентних прозорих мікрооб'єктів за допомогою фазомодульованої спекл-інтерферометрії, що включає освітлювання об'єкта когерентним випромінюванням, здійснення просторового суміщення об'єктної спекл-хвилі та опорної хвилі для формування сумарної хвилі, здійснення просторової фільтрації сумарної хвилі, реєстрування інтенсивності сумарної хвилі, реєструють два набори спеклограм,...

Номер патенту: 79455

Опубліковано: 25.04.2013

Автори: Кущовий Сергій Миколайович, Богдан Олександр Володимирович, Венгер Євген Федорович, Маслов Володимир Петрович, Качур Наталія Володимирівна, Кузіч Юрій Сергійович, Порєв Володимир Андрійович

МПК: G01B 21/00

Мітки: матеріалів, пристрій, прозорих, лазерного, контролю

Формула / Реферат:

Пристрій лазерного контролю прозорих матеріалів, що містить джерело лазерного випромінювання, довжина хвилі якого відповідає діапазону прозорості матеріалу, що контролюється, оптичні елементи та приймач, який відрізняється тим, що після зразка встановлена лінза або об'єктив, а потім екран, на якому фіксується зображення поперечного перерізу лазерного випромінювання.

Номер патенту: 79291

Опубліковано: 25.04.2013

Автори: Котляров Валерій Павлович, Запорожець Тетяна Вікторівна

МПК: B23K 26/18, B23K 26/14

Мітки: прозорих, спосіб, гравіювання, матеріалів, лазерного, виробах

Формула / Реферат:

Спосіб лазерного гравіювання виробів із прозорих матеріалів, при якому оброблювану поверхню попередньо покривають матеріалом, який добре поглинає лазерне випромінювання, який відрізняється тим, що гравіювання виконують за декілька переходів, причому перед його початком і перед кожним черговим переходом заготовка або ділянка її поверхні розміщується послідовно в електростатичному полі і камері із завислими в газовому потоці мікрочастинками з...

Номер патенту: 73734

Опубліковано: 10.10.2012

Автори: Венгер Євген Федорович, Кущовий Сергій Миколайович, Сердега Борис Кирилович, Маслов Володимир Петрович, Матяш Ігор Євгенійович, Порєв Володимир Андрійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: вимірювання, оптичному, якості, кристалів, сапфір, контролю, прозорих, діапазоні, пристрій

Формула / Реферат:

Пристрій контролю якості кристалів, прозорих в оптичному діапазоні вимірювання, що містить напівпровідниковий лазер, фазові пластини, утримувач зразка, модулятор поляризації та фотоелектронний приймач, який відрізняється тим, що одна фазова пластина розташована безпосередньо перед зразком, який контролюється, а друга - після нього.

Номер патенту: 69942

Опубліковано: 25.05.2012

Автори: Маслов Володимир Петрович, Ляпін Олександр Миколайович, Венгер Євген Федорович, Качур Наталія Володимирівна

МПК: G01N 21/31

Мітки: прозорих, спосіб, дефектів, контролю, кристалах

Формула / Реферат:

Спосіб контролю дефектів у прозорих кристалах за величиною потужності випромінювання, що пройшло через зразок вздовж його осі, який відрізняється тим, що між зразком та приладом, що контролює потужність випромінювання встановлюється аналізатор, що обертається навколо осі розповсюдження випромінювання, результати вимірів порівнюються з вимірами еталонного зразка, в якому немає дефектів чи їх рівень визначено виробником або замовником як...

Номер патенту: 95483

Опубліковано: 10.08.2011

Автор: Рінглайєн Джеймс А.

МПК: G01B 11/06

Мітки: контейнерів, некруглих, здійснення, вимірювання, бічної, товщини, спосіб, пристрій, стінки, прозорих

Формула / Реферат:

1. Пристрій для контролю товщини бічної стінки некруглого прозорого контейнера, до складу якого входить:конвеєр (14) для утримування контейнера (12) в стійкому положенні і обертання контейнера навколо його осі (16);джерело світла (18) для спрямовування світлового випромінювання на бічну стінку контейнера на вказаному конвеєрі;фотодетектор (24), призначений для детектування світлового випромінювання (44, 42), відбитого...

Номер патенту: 57495

Опубліковано: 25.02.2011

Автори: Качур Наталія Володимирівна, Венгер Євген Федорович, Маслов Володимир Петрович

МПК: G01N 23/02

Мітки: діапазоні, прозорих, спосіб, якості, кристалічних, оптичному, контролю, випромінювання, лазерного, матеріалів

Формула / Реферат:

Спосіб лазерного контролю якості кристалічних матеріалів, прозорих в оптичному діапазоні випромінювання, в якому випромінювання проходить через зразок, потрапляє на прилад, що фіксує пропускання випромінювання, який відрізняється тим, що зразок опромінюють лазерним випромінюванням з довжиною хвилі, що відповідає діапазону прозорості цього кристалу, вимірюють розподіл потужності випромінювання, яке пройшло через зразок, і порівнюють з...

Номер патенту: 56200

Опубліковано: 10.01.2011

Автори: Качур Наталія Володимирівна, Венгер Євген Федорович, Локшин Михайло Маркович, Гаврилов Валерій Олександрович, Маслов Володимир Петрович, Кіндрась Олександр Петрович

МПК: G01N 25/72

Мітки: іч, діапазоні, інфрачервоному, контролю, якості, випромінювання, кристалічних, прозорих, спосіб, матеріалів

Формула / Реферат:

Спосіб контролю якості кристалічних матеріалів, прозорих в інфрачервоному (ІЧ) діапазоні випромінювання, в якому випромінювання проходить через зразок, потрапляє на прилад, що фіксує пропускання ІЧ випромінювання, який відрізняється тим, що зразок опромінюють лазерним випромінюванням з довжиною хвилі, що відповідає діапазону прозорості цього кристалу, вимірюють величину потужності випромінювання, яке пройшло через зразок, і порівнюють з...

Номер патенту: 56199

Опубліковано: 10.01.2011

Автори: Ліптуга Анатолій Іванович, Маслов Володимир Петрович, Прохорович Анатолій Вікторович, Качур Наталія Володимирівна

МПК: G01N 25/72

Мітки: іч, прозорих, заготовок, кристалічних, оптичних, діапазоні, контролю, матеріалів, спосіб, інфрачервоному, випромінювання

Формула / Реферат:

Спосіб контролю якості кристалічних матеріалів, прозорих в інфрачервоному (14) діапазоні випромінювання, в якому випромінювання проходить через зразок, потрапляє на прилад, що фіксує пропускання ІЧ-випромінювання, який відрізняється тим, що від початку кристалічного злитка на відстані 0,20,3 D (де D - діаметр злитка) від затравочного кристалу вирізають вздовж осі росту...

Номер патенту: 92199

Опубліковано: 11.10.2010

Автори: Сорокіна Людмила Олександрівна, Кондратов Владислав Тимофійович

МПК: G01N 21/25

Мітки: оптично, пристрій, спосіб, вимірювань, вологості, здійснення, прозорих, матеріалів, надлишкових, листових

Формула / Реферат:

1. Cпосіб надлишкових вимірювань вологості оптично прозорих листових матеріалів, оснований на вимірюванні напруги U1 зміщення вимірювального каналу, почерговому пропусканні нормованого за значенням потужності потоку Ф0 оптичного випромінювання через зразки оптично прозорого листового матеріалу з нормованою за значенням концентрації С0 та невідомою за значенням концентрації Сх вологості, перетворенні послаблених потоків оптичного...

Номер патенту: 49480

Опубліковано: 26.04.2010

Автори: Пекар Григорій Соломонович, Сингаївський Олександр Федорович, Локшин Михайло Маркович, Кіндрась Олександр Петрович, Качур Наталія Володимирівна, Венгер Євген Федорович, Маслов Володимир Петрович

МПК: G01N 25/72

Мітки: випромінювання, спосіб, діапазоні, прозорих, матеріалів, інфрачервоному, об`ємного, контролю, іч

Формула / Реферат:

Спосіб контролю якості матеріалів, прозорих в ІЧ діапазоні випромінювання, що включає реєстрацію температурного поля зразка за допомогою тепловізійної системи, який відрізняється тим, що зразок додатково опромінюють ультразвуковими коливаннями від УЗ товщиноміра, а реєстрацію температурного поля здійснюють після ІЧ опромінювання через тест-систему, яка виконана у вигляді ґратки з плівкового матеріалу, що відбиває ІЧ випромінювання, яка...

Номер патенту: 49479

Опубліковано: 26.04.2010

Автори: Кіндрась Олександр Петрович, Качур Наталія Володимирівна, Ляпіна Алла Борисівна, Венгер Євген Федорович, Марічева Ірина Леонідовна, Локшин Михайло Маркович, Маслов Володимир Петрович, Родічев Юрій Михайлович

МПК: G01N 25/72

Мітки: спосіб, матеріалів, прозорих, випромінювання, контролю, оптичному, діапазоні

Формула / Реферат:

Спосіб контролю якості матеріалів, прозорих в оптичному діапазоні випромінювання, що включає реєстрацію зображення за допомогою оптикоелекронної цифрової камери, який відрізняється тим, що оптичне зображення створюють у вигляді ґратки, а реєстрацію зображення здійснюють після проходження випромінювання через тест-систему, яка складається зі зразка оптичного матеріалу, та другої ґратки, ідентичної першій, поверненої відносно першої ґратки,...

Номер патенту: 43410

Опубліковано: 10.08.2009

Автори: Плахотнюк Максим Миколайович, КРАВЧЕНКО ЮРІЙ СТЕПАНОВИЧ, Осадчук Володимир Степанович, Осадчук Олександр Володимирович

МПК: H01L 21/70

Мітки: прозорих, напівпровідників, параметрів, мікроелектронний, пристрій, контролю, оптично

Формула / Реферат:

Мікроелектроний пристрій для контролю параметрів оптично прозорих напівпровідників, який містить джерело світла, оптично зв'язане з фокусуючою системою, джерело живлення і систему контактів, з'єднаних із зразком, який відрізняється тим, що в нього введено мікроелектронний частотний перетворювач, що містить дільник напруги з двох резисторів, польовий та біполярний транзистори, індуктивність, ємність, резистор і два джерела постійної напруги,...

Номер патенту: 38990

Опубліковано: 26.01.2009

Автори: Ляпіна Алла Борисівна, Локшин Михайло Маркович, Качур Наталія Володимирівна, Венгер Євген Федорович, Марічева Ірина Леонідовна, Маслов Володимир Петрович

МПК: G01N 25/72

Мітки: іч, діапазоні, матеріалів, спосіб, контролю, інфрачервоному, прозорих, випромінювання

Формула / Реферат:

Спосіб контролю якості матеріалів, прозорих в ІЧ-діапазоні випромінювання, який включає реєстрацію температурного поля зразка за допомогою тепловізійної системи, який відрізняється тим, що реєстрацію температурного поля здійснюють після ІЧ-опромінювання через тест-систему, яка виконана у вигляді ґратки з плівкового матеріалу, що відбиває ІЧ-випромінювання, з кількістю пар ліній 0,5-5 на мм, яка нанесена на підкладку з матеріалу, що пропускає...

Номер патенту: 84589

Опубліковано: 10.11.2008

Автори: Кондратов Владислав Тимофійович, Сорокіна Людмила Олександрівна

МПК: G01N 21/01, G01N 9/24

Мітки: надлишкових, матеріалів, спосіб, листових, вологості, вимірювань, оптично, прозорих

Формула / Реферат:

Спосіб надлишкових вимірювань вологості оптично прозорих листових матеріалів, заснований на формуванні нормованого за значенням потужності потоку Ф0 направленого оптичного випромінювання із заданою довжиною хвилі , де  - ширина спектра оптичного випромінювання при k2=2, на якій має місце поглинання...

Номер патенту: 22675

Опубліковано: 25.04.2007

Автори: КРАВЧЕНКО ЮРІЙ СТЕПАНОВИЧ, Плахотнюк Максим Миколайович

МПК: H01L 21/306

Мітки: травлення, спосіб, прозорих, плівок, індію, олова, плазмового, оксиду, оптично

Формула / Реферат:

Спосіб плазмового травлення оптично прозорих плівок оксиду індію та олова, при якому травлення проводять у плазмі, яку одержують високочастотним електромагнітним полем в реакційній камері при пониженому тиску газу та суміші основного газу-реагенту та інертного газу-носія аргону, який відрізняється тим, що як основний газ-реагент використовують тетрахлорид вуглецю, процес травлення здійснюють за рахунок взаємодії з поверхнею плівок оксиду...

Номер патенту: 59822

Опубліковано: 16.01.2006

Автори: Стародубов Яків Дмитрович, Метоліді Елеонора Миколаївна

МПК: G01J 3/00, G01N 21/01

Мітки: матеріалів, пристрій, прозорих, дослідження, оптично

Формула / Реферат:

An invention relates to the ferrous metallurgy. A method for controlled straightening and cooling of a wide metal strip, especially a steel strip or sheet metal, running out of a hot rolled mill, includes the using pinching rollers arranged in the moving direction of the strip behind vertical double rollers, said pinching rollers producing a tensile stress acting in a longitudinal direction, at that the metal strip or sheet metal is displaced...

Номер патенту: 11268

Опубліковано: 15.12.2005

Автори: Долина Віктор Георгійович, Ярош Наталія Василівна, Колосова Олена Петрівна, Варваров Олександр Федорович, Нагорна Діна Романівна, Гришко Віктор Федорович, Аракелян Георгій Арменакович

МПК: G01B 9/00, G01B 21/10

Мітки: вимірювання, розмірів, пристрій, прозорих, труб, геометричних

Формула / Реферат:

Пристрій для вимірювання геометричних розмірів прозорих труб, що містить послідовно і оптично з'єднані джерело світла (1), розсіювач (2), щілинну діафрагму (3), об'єктив (4), фотоприймач (5), а також послідовно з'єднані блок обробки відеосигналу (6), блок обчислень (7) і індикатор (8), який відрізняється тим, що пристрій додатково містить задавач струму (9), вхід якого з'єднаний з другим виходом блока обчислень (7), а вихід з'єднаний із...

Номер патенту: 3075

Опубліковано: 15.10.2004

Автори: Нікітін Вадим Едуардович, Ротнер Сергій Михайлович

МПК: C03C 23/00

Мітки: прозорих, зображень, формування, спосіб, зразках

Формула / Реферат:

Спосіб формування зображення в прозорому зразку, який включає фокусування в об'ємі зразка імпульсного лазерного випромінювання з щільністю потужності, яка перевищує поріг руйнування зразка, до утворення контрастних зон ушкодження, який відрізняється тим, що тривалість імпульсу лазерного випромінювання встановлюють не більше 10-8 сек.

Номер патенту: 42488

Опубліковано: 15.09.2004

Автор: Ахлестін Олександр Володимирович

МПК: G01B 11/28

Мітки: поверхнями, взаємодіючих, бічними, тіл, спосіб, плоскими, розмірів, поверхні, визначення, прозорих, контакту, фактичної

Формула / Реферат:

1. Спосіб визначення розмірів фактичної поверхні контакту взаємодіючих прозорих тіл з плоскими бічними поверхнями, що включає просвічування зони контакту, реєстрацію під кутом до бічної поверхні видимої площини контакту, вимірювання і перерахунок розмірів видимого контакту в фактичні по формулі:, де:

Номер патенту: 53767

Опубліковано: 17.02.2003

Автори: Маковецький Олександр Олександрович, Бідний Віктор Михайлович, Драмарецький Вячеслав Михайлович, Маковецький Олександр Лаврович

МПК: G01N 21/17, G01J 1/42

Мітки: концентрації, середовищах, прозорих, оптично, спосіб, визначення, речовини

Формула / Реферат:

Спосіб визначення концентрації речовини в оптично прозорих середовищах, який включає просвічування зразка, що аналізується, вимірювання сигналу U, пропорційного інтенсивності випромінювання, яке пройшло через зразок, і визначення концентрації речовини, який відрізняється тим, що просвічування і вимірювання сигналу U здійснюють в умовах зміни товщини зразка з лінійною швидкістю 0,05-5 см/с, додатково вимірюють сигнал

Номер патенту: 42186

Опубліковано: 15.10.2001

Автори: Соколов Володимир Олександрович, Кравченко Вілен Йосипович

МПК: G01B 11/26

Мітки: матеріалів, деталей, прозорих, спосіб, клиновидності, визначення

Формула / Реферат:

1. Спосіб визначення клиновидності деталей з прозорих матеріалів, в якому здійснюють перетворення кута клиновидності деталі в зміну довжини хвилі випромінювання перестроюваного лазера з дисперсійним резонатором, вимірюють зміну довжини хвилі, по зміні довжини хвилі та дисперсії резонатора розраховують кут клиновидності деталі, який відрізняється тим, що вимірюють довжину хвилі випромінювання при відсутності деталі в резонаторі, вносять...

Номер патенту: 25733

Опубліковано: 30.10.1998

Автори: Пирх Василь Васильович, Баранов Олександр Миколайович, Палаєв Сергій Васильович, Крапивко Юрій Едуардович

МПК: G01B 11/16, G01N 21/00, G01B 9/00 ...

Мітки: прозорих, прецизійний, комплекс, середовищах, тиску, коливань, інфразвукових, вимірювальний

Формула / Реферат:

Прецизионный измерительный комплекс инфразвуковых колебаний давления в прозрачных средах, содержащий источник монохроматического сигнала, светоделитель, опорное плечо интерферометра, рабочее плечо интерферометра, фотоприемное устройство, электронную схему обработки сигналов, отличающийся тем, что в рабочем плече интерферометра Майкельсона использовано два герметичных участка, первый (внешний) участок имеет внешнюю гибкую диффузорную оболочку...

Номер патенту: 16736

Опубліковано: 29.08.1997

Автори: Кобзар-Зленко Валентин Андрійович, Загоруйко Юрій Анатолійович, Комарь Віталій Корнійович

МПК: C30B 29/48, C30B 33/00

Мітки: оптично, прозорих, кристалів, цинку, селеніду, одержання, спосіб

Формула / Реферат:

Способ получения оптически прозрачных кристаллов селенида цинка, включающий их на­грев в печи, отличающийся тем, что, с целью сни­жения коэффициента оптического поглощения излучения ИК-диапазона, кристалл последова­тельно перемещают в рабочем объеме печи через зоны трех нагревателей с профилями градиента температур, изменяющимися по синусоиде, при­чем профили градиента температур двух боковых и центрального нагревателей в проекции на...

Номер патенту: 7831

Опубліковано: 26.12.1995

Автори: Лагутін Ігор Григорович, Базаров Сергій Васильович, Косінов Генріх Андрійович, Іцкович Євген Олександрович, Троцай Віталій Федорович, Сіднєв Олександр Борисович, Іцкович Віктор Олександрович

МПК: G01M 11/02, G01N 23/02

Мітки: стійкості, дослідження, спосіб, оптично, прозорих, середовищ, радіаційної

Формула / Реферат:

Способ исследования радиационной стойко­сти оптически прозрачных сред, заключающийся в облучении исследуемой среды ионизирующим из­лучением и измерении изменений во времени на­веденного поглощения исследуемой средой оптического излучения в циклах облучения и вос­становления с регистрацией поглощенной дозы в цикле облучения и относительного коэффициента наведенного поглощения, отличающийся тем, что, с целью повышения информативности...