Смірнов Євгеній Миколайович
Пристрій для вимірювання рефракційних аберацій ока
Номер патенту: 66936
Опубліковано: 15.06.2004
Автори: Ільченко Леонід Миколайович, Молебний Василь Васильович, Колєнов Сергій Олександрович, Ластер Ламар Фредерік (молодший), Смірнов Євгеній Миколайович
МПК: A61B 3/10, A61B 3/00, A61B 3/14 ...
Мітки: аберацій, вимірювання, пристрій, ока, рефракційних
Формула / Реферат:
1. Пристрій для вимірювання рефракційних аберацій ока, що має в своєму складі канал зондування, вимірювальний канал та канал нормування, причому канал зондування складається з послідовно встановлених: лазера, першого та другого дифракційних однокоординатних дефлекторів, селектора першого порядку дифракції та колімаційної лінзи, причому селектор першого порядку дифракції виконано у вигляді телескопа за схемою Кеплера з апертурною діафрагмою,...