Пристрій для вимірювання рефракційних аберацій ока
Номер патенту: 66936
Опубліковано: 15.06.2004
Автори: Молебний Василь Васильович, Ластер Ламар Фредерік (молодший), Колєнов Сергій Олександрович, Ільченко Леонід Миколайович, Смірнов Євгеній Миколайович
Формула / Реферат
1. Пристрій для вимірювання рефракційних аберацій ока, що має в своєму складі канал зондування, вимірювальний канал та канал нормування, причому канал зондування складається з послідовно встановлених: лазера, першого та другого дифракційних однокоординатних дефлекторів, селектора першого порядку дифракції та колімаційної лінзи, причому селектор першого порядку дифракції виконано у вигляді телескопа за схемою Кеплера з апертурною діафрагмою, встановленою у точці збігу фокусів вхідної та вихідної лінз, точку переднього фокуса колімаційної лінзи розташовано в площині вихідної зіниці телескопа, кожен однокоординатний дефлектор має у своєму складі акусто-оптичний кристал, керований цифровим синтезатором частот через вихідний підсилювач-драйвер, після колімаційної лінзи перед оком пацієнта встановлено поляризаційний розділювач, ортогональний вихід якого зорієнтовано до вимірювального каналу, а вимірювальний канал складається з об'єктива, позиційно чутливого фотоприймача, встановленого в його фокальній площині і своїм виходом з'єднаного з блоком обробки та відображення інформації на основі комп'ютера, сполученого керуючими зв'язками з лазером, дефлекторами та каналом нормування, який відрізняється тим, що між акусто-оптичними кристалами однокоординатних дефлекторів встановлено телескоп переносу еквівалентного центра відхилення променів першим дефлектором в еквівалентний центр відхилення променів другим дефлектором так, що вхідну зіницю телескопа переносу суміщено з еквівалентним центром відхилення променів акусто-оптичним кристалом першого дефлектора, а вихідну зіницю телескопа переносу й вхідну зіницю селектора першого порядку дифракції суміщено з еквівалентним центром відхилення променів акусто-оптичним кристалом другого дефлектора.
2. Пристрій за п. 1, який відрізняється тим, що телескоп переносу виконано у вигляді схеми Кеплера і в нього введено апертурну діафрагму, встановлену в точці збігу заднього фокуса вхідної лінзи та переднього фокуса вихідної лінзи телескопа переносу.
3. Пристрій за п. 2, який відрізняється тим, що апертурну діафрагму телескопа переносу виконано у вигляді щілини, своєю довшою стороною орієнтованої уздовж напряму відхилення променів першим дефлектором.
4. Пристрій за пп. 2 і 3, який відрізняється тим, що телескоп переносу виконано з циліндричних лінз, меридіональну вісь яких орієнтовано уздовж напряму відхилення променів першим дефлектором.
5. Пристрій за пп. 2 і 3, який відрізняється тим, що в телескопі переносу та в селекторі першого порядку дифракції навколо апертурних діафрагм поза зоною першого порядку дифракції обох напрямів відхилення світлових променів встановлено світлові пастки, наприклад, у вигляді поглинальних поверхонь, що сходяться під гострим кутом.
Додаткова інформація
Назва патенту англійськоюDevice for measuring refraction aberrations of eye
Автори англійськоюIlchenko Leonid Mykolaiovych
Назва патенту російськоюУстройство для измерения рефракционных аберраций глаза
Автори російськоюИльченко Леонид Николаевич
МПК / Мітки
МПК: A61B 3/00, A61B 3/14, A61B 3/10
Мітки: вимірювання, аберацій, ока, рефракційних, пристрій
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/11-66936-pristrijj-dlya-vimiryuvannya-refrakcijjnikh-aberacijj-oka.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Пристрій для вимірювання рефракційних аберацій ока</a>
Попередній патент: Спосіб створення нерухомого з’єднання типу довгомірна втулка – вал з буртиком
Наступний патент: Струмознімальний ковзний елемент
Випадковий патент: Спосіб визначення щільності ґрунту