Колєнов Сергій Олександрович

Номер патенту: 110587

Опубліковано: 12.01.2016

Автори: Стельмах Олександр Устимович, Пільгун Юрій Вікторович, Смирнов Євген Миколайович, Колєнов Сергій Олександрович

МПК: G01B 11/30, F41G 11/00, G02B 21/00 ...

Мітки: параметрів, визначення, рельєфу, пристрій, спосіб, поверхні, реалізації

Формула / Реферат:

1. Спосіб визначення параметрів рельєфу поверхні, з використанням методу диференційно-фазової профілометрії і/або профілографії, який відрізняється тим, що сканування досліджуваної поверхні здійснюють двома світловими пучками, що утворені завдяки почерговому розщепленню світлового пучка у кожному з двох акустооптичних дефлекторів зі зміщенням у просторі та по частоті, по двох взаємоортогональних напрямках із суміщенням центрів сканування за...

Номер патенту: 100915

Опубліковано: 10.08.2015

Автори: Смирнов Євген Миколайович, Пільгун Юрій Вікторович, Колєнов Сергій Олександрович, Стельмах Олександр Устимович

МПК: A61B 8/08, G01B 11/30, F41G 11/00 ...

Мітки: рефракції, пристрій, об'єктів, дослідження

Формула / Реферат:

Пристрій для дослідження рефракції об'єктів, який містить джерело випромінювання, як джерело випромінювання може бути використаний лазер, перший та другий акустооптичні дефлектори, першу та другу оптичні системи, об'єктив та фотоприймач, які з'єднані між собою послідовно та механічно і встановлені по ходу світлового пучка таким чином, що мають загальну оптичну вісь, по два генератори керуючих сигналів для кожного акустооптичного дефлектора,...

Номер патенту: 99040

Опубліковано: 12.05.2015

Автори: Смирнов Євген Миколайович, Пільгун Юрій Вікторович, Стельмах Олександр Устимович, Колєнов Сергій Олександрович

МПК: G02B 21/00, G01B 11/30

Мітки: рельєфу, визначення, параметрів, пристрій, поверхні

Формула / Реферат:

Пристрій для визначення параметрів рельєфу поверхні, що являє собою пристрій для диференційно-фазової профілометрії та/або профілографії, який містить джерело випромінювання, як джерело випромінювання може бути використаний лазер, виконану з можливістю розширення світлового пучка першу оптичну систему, встановлені по ходу світлового пучка на загальній оптичній осі щонайменше два акустооптичних дефлектори і виконану з можливістю звуження...

Номер патенту: 99039

Опубліковано: 12.05.2015

Автори: Смирнов Євген Миколайович, Пільгун Юрій Вікторович, Стельмах Олександр Устимович, Колєнов Сергій Олександрович

МПК: G02B 21/00, G01B 11/30

Мітки: спосіб, об'єкта, параметрів, визначення, поверхні

Формула / Реферат:

Спосіб визначення параметрів рельєфу поверхні, з використанням методу диференційно-фазової профілометри і/або профілографи, який відрізняється тим, що сканування досліджуваної поверхні здійснюють двома світловими пучками, що утворені завдяки почерговому розщепленню світлового пучка у кожному з двох акустооптичних дефлекторів зі зміщенням у просторі та по частоті, по двох взаємоортогональних напрямках із суміщенням центрів сканування за...

Номер патенту: 66936

Опубліковано: 15.06.2004

Автори: Молебний Василь Васильович, Колєнов Сергій Олександрович, Смірнов Євгеній Миколайович, Ластер Ламар Фредерік (молодший), Ільченко Леонід Миколайович

МПК: A61B 3/14, A61B 3/00, A61B 3/10 ...

Мітки: вимірювання, пристрій, ока, аберацій, рефракційних

Формула / Реферат:

1. Пристрій для вимірювання рефракційних аберацій ока, що має в своєму складі канал зондування, вимірювальний канал та канал нормування, причому канал зондування складається з послідовно встановлених: лазера, першого та другого дифракційних однокоординатних дефлекторів, селектора першого порядку дифракції та колімаційної лінзи, причому селектор першого порядку дифракції виконано у вигляді телескопа за схемою Кеплера з апертурною діафрагмою,...