Пристрій для поверхневої лазерної обробки

Винахід відноситься до галузі машинобудування, зокрема до лазерної обробки матеріалів. Найбільш близьким до заявленого є пристрій для лазерної поверхневої обробки (Авт. свід. №803.277* МПК 7 26/00, 1980р.п.), який складається з лазера, системи дзеркал з механічним приводом, що направляють частину випромінювання пучка на поверхню заготовки, аналізатора відбитого променя та координатного столу. Недоліком цього пристрою є наявність складного механізму повороту дзеркал, викликана необхідністю забезпечення обробки заготовки у різних напрямах. В основу винаходу покладено удосконалення пристрою шляхом виключення механізму повороту дзеркал та використання дзеркала конічної форми що забезпечує спрощення конструкції та підвищення продуктивності пристрою. Поставлена задача вирішується тим, що в пристрої для поверхневої лазерної обробки, що містить лазер, фокусуючу лінзу, дзеркало для направлення частини випромінювання на заготовку, аналізатор відбитого променя, а також координатний стіл, зв'язаний з аналізатором, новим є те, що дзеркало виконано у вигляді кільця з дзеркальною конічною поверхнею, а реєструючий елемент аналізатора виконано у вигляді секціонованого кільця, робоча поверхня якого оптично пов'язана із дзеркалом через поверхню заготовки. На кресленні зображено пристрій для поверхневої лазерної обробки. Пристрій складається з лазера 1, співвісно з ним установленої фокусуючої лінзи 2 та дзеркала 3, виконаного у вигляді кільця з дзеркальною конічною поверхнею, причому його діаметр менше діаметра сфокусованого пучка. У стакані 4 по різьбі пересувається кільцевий реєструючий елемент 5, під'єднаний до аналізатора 7, який підключено до приводу координатного столу 8 та блока живлення лазера 9. Пристрій працює наступним чином. Заготовка 6 пересувається на координатному столі 8. Пучок випромінювання від лазера 1, сфокусований лінзою 2, фокусується на заготовці 6 у зоні обробки, а периферійна частина направляється на заготовку 6 у вигляді кільця довкола зони обробки, яке відбивається від поверхні заготовки 6 на реєструючий елемент 5. В залежності від поглинальної здатності поверхні заготовки 6 буде змінюватись і сигнал реєструючого елементу 5. Відмінність сигналу від заданого рівня обчислює аналізатор 7, який видає відповідні команди корекції на блок живлення 9 лазера або привід координатного столу 8.