Спосіб вимірювання товщини слизової оболонки на верхівці альвеолярного відростка у ділянках відсутніх зубів
Номер патенту: 17900
Опубліковано: 16.10.2006
Автори: Ступницький Ростислав Миколайович, Стиранівська Оксана Ярославівна
Формула / Реферат
Спосіб вимірювання товщини слизової оболонки на верхівці альвеолярного відростка у ділянках відсутніх зубів, що включає проведення ортопантомографії та вимірювання на ортопантомограмі товщини слизової оболонки, яка відповідає відстані від кісткового зображення верхівки беззубого альвеолярного відростка до рентгеноконтрастної лінії, який відрізняється тим, що виготовляють пластмасову капу, на внутрішній поверхні якої вздовж верхівки беззубого альвеолярного відростка утворюють заглиблення, яке заповнюють рідким цинк-фосфатним цементом, ззовні прикріплюють за допомогою клею металевий дріт товщиною 1 мм, накладають капу в ротовій порожнині, проводять ортопантомографію та вимірюють на ортопантомограмі товщину слизової оболонки, яка відповідає відстані від кісткового зображення верхівки беззубого альвеолярного відростка до рентгеноконтрастної лінії цементу.
Текст
Спосіб вимірювання товщини слизової оболонки на верхівці альвеолярного відростка у ділянках відсутніх зубів, що включає проведення ортопантомографії та вимірювання на ортопантомограмі товщини слизової оболонки, яка відповідає відстані від кісткового зображення верхівки беззубого 3 17900 товщини слизової оболонки, яка відповідає відстані від кісткового зображення верхівки беззубого альвеолярного відростка до рентгенконтрастної лінії, згідно з корисною моделлю, виготовляють пластмасову капу, на внутрішній поверхні якої вздовж верхівки беззубого альвеолярного відростка утворюють заглиблення, яке заповнюють рідким цинк-фосфатним цементом, ззовні прикріплюють за допомогою клею металевий дріт товщиною 1мм, накладають капу в ротовій порожнині, проводять ортопантомографію та вимірюють товщину слизової оболонки, яка відповідає відстані від кісткового зображення верхівки беззубого альвеолярного відростка до рентгенконтрастної лінії цементу. У запропонованому способі використовують капу, виготовлену методом пресування з термопластичної листової пластмаси (типу органічного скла) за методикою Е.Я. Вареса [5]. Дана капа точно відображає рельєф протезного ложа, проста, дешева і швидка у виконанні, має достатню міцність і не деформується. Металевий дріт товщиною 1мм, прикріплений на зовнішній поверхні капи, запропоновано для того, щоб визначити коефіцієнт збільшення розмірів на ортопантомограмі. Цей коефіцієнт враховується при вимірюванні товщини слизової оболонки. Запропонований спосіб ілюструється зображенням ортопантомограми щелеп (фотографія), де 1 - товщина слизової оболонки на верхівці альвеолярного відростка у ділянці відсутніх зубів, 2 кісткове зображення верхівки беззубого альвеолярного відростка, 3 - лінія рентгенконтрастного цинк-фосфатного цементу, 4 - лінія металевого дроту. Спосіб вимірювання товщини слизової оболонки на верхівці альвеолярного відростка у ділянках відсутніх зубів здійснюють наступним чином. На внутрішній поверхні капи у ділянці відсутніх зубів вздовж верхівки альвеолярного відростка утворюють диском заглиблення, яке заповнюють Комп’ютерна верстка А. Рябко 4 рентгенконтрастним рідким цинк-фосфатним цементом. Гнучкий металевий дріт діаметром 1мм фіксують на зовнішній поверхні капи за допомогою клею. Капу накладають у ротовій порожнині пацієнта і проводять ортопантомографію. На отриманій ортопантомограмі, що зображена на малюнку, вимірюють товщину слизової оболонки (1), яка відповідає відстані від кісткового зображення верхівки беззубого альвеолярного відростка (2) до лінії цементу (3), розміщеного у пластмасовій капі, з урахуванням коефіцієнта збільшення розмірів, характерного для відповідного ортопантомографа. Коефіцієнт збільшення отримують шляхом визначення співвідношення між реальною товщиною дроту (1мм) і виміряною на ортопантомограмі (4). Спосіб вимірювання товщини слизової оболонки на верхівці альвеолярного відростка щелепи у беззубих ділянках апробовано на 5 пацієнтах з частковою відсутністю зубів. У всіх випадках отримано позитивний результат. Запропонований спосіб простий і швидкий у виконанні, безпечний для пацієнта і дозволяє достатньо точно виміряти товщину слизової оболонки на верхівці альвеолярного відростка у ділянках відсутніх зубів. Джерела інформації: 1. Суров О.Н. Зубное протезирование на имплантатах. - М., 1993. - С.93-94. 2. Патент України №61283, МПК А61С19/04, 19/05; опубл. 17.11.2003; Бюл. №11. 3. Рентгендиагностика заболеваний челюстнолицевой области: Руководство для врачей / Под ред. Н.А. Рабухиной, Н.М. Чупрыниной. - М.: Медицина, 1991. - С.106-108. 4. Патент РФ №2215497, МПК А61С13/00, 19/04; опубл. 10.11.2003; Бюл. №11. 5. Варес Э.Я. и др. Штампование и прессование пластмассы при изготовлении зубных протезов / Под ред. Э.Я. Вареса. - Л.: Медицина, 1986. С.30-34. Підписне Тираж 26 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюMethod for measuring thickness of mucosa at top of alveolar process in area of lacking teeth
Автори англійськоюStyranivska Oksana Yaroslavivna, Stupnytskyi Rostyslav Mykolaiovych
Назва патенту російськоюСпособ измерения толщины слизистой оболочки на верхушке альвеолярного отростка в участках отсутствующих зубов
Автори російськоюСтиранивская Оксана Ярославовна, Ступницкий Ростислав Николаевич
МПК / Мітки
МПК: A61C 19/04, A61B 6/14
Мітки: спосіб, альвеолярного, зубів, товщини, ділянках, верхівці, вимірювання, слизової, відсутніх, оболонки, відростка
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/2-17900-sposib-vimiryuvannya-tovshhini-slizovo-obolonki-na-verkhivci-alveolyarnogo-vidrostka-u-dilyankakh-vidsutnikh-zubiv.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб вимірювання товщини слизової оболонки на верхівці альвеолярного відростка у ділянках відсутніх зубів</a>
Попередній патент: Спосіб діагностики непереносимості аспірину
Наступний патент: Автомобільний кондиціонер
Випадковий патент: Спосіб одержання ненасиченого дімера альфа-метилстиролу для регулювання росту полімерного ланцюга