Пристрій для параметричного діагностування інформаційних систем

Номер патенту: 24523

Опубліковано: 10.07.2007

Автор: Кулік Анатолій Степанович

Завантажити PDF файл.

Формула / Реферат

Пристрій для параметричного діагностування інформаційних систем, що містить інформаційну шину, шину результату, блок допускового контролю, два блоки пам'яті, причому виходи першого блока пам'яті з'єднані з першою групою входів блока допускового контролю, який відрізняється тим, що містить блок оцінки параметрів, аналізатор значень параметрів, блок класифікаційної обробки, третій блок пам'яті, причому інформаційна шина з'єднана з першою групою входів блока оцінки параметрів, виходи якого з'єднані з першою групою входів аналізатора значень параметрів, виходи другого блока пам'яті з'єднані з другими групами входів блока оцінки параметрів та аналізатора значень параметрів, виходи аналізатора значень параметрів з'єднані з другою групою входів блока допускового контролю, виходи якого з'єднані з першою групою входів блока класифікаційної обробки, виходи третього блока пам'яті з'єднані з другою групою входів блока класифікаційної обробки, виходи якого з'єднані шиною результату.

Текст

Пристрій для параметричного діагностування інформаційних систем, що містить інформаційну шину, шину результату, блок допускового контролю, два блоки пам'яті, причому виходи першого блока пам'яті з'єднані з першою групою входів блока допускового контролю, який відрізняється тим, що містить блок оцінки параметрів, аналіза 3 24523 виходи якого з'єднані з першою групою входів аналізатора значень параметрів, виходи другого блоку пам'яті з'єднані з другими групами входів блоку оцінки параметрів та аналізатора значень параметрів, виходи аналізатора значень параметрів з'єднані з другою групою входів блоку допускового контролю, виходи якого з'єднані з першою групою входів блоку класифікаційної обробки, виходи третього блоку пам'яті з'єднані з другою групою входів блоку класифікаційної обробки, виходи якого з'єднані шиною результату. Заявлена система має новий склад елементів, та нову організацію взаємозв'язків між ними, тобто містить нову сукупність ознак, які забезпечують нові технічні властивості системи. Технічний результат, як наслідок цих властивостей - розширені функціональні можливості пристрою, а саме спроможність раннього визначення відмов системи в режимі її функціонування. На Фіг.1 представлена функціональна схема системи параметричного діагностування, яка містить інформаційну шин у 1, блок оцінки параметрів 2, блок пам'яті 3, аналізатор значень параметрів 4, блок допускового контролю 5, блок пам'яті 6, блок класифікаційної обробки 7, блок пам'яті 8, шину результату 9, причому виходи першого інформаційна шина 1 з'єднана з першою групою входів блоку оцінки параметрів 2, виходи якого з'єднані з першою групою входів аналізатора значень параметрів 4, виходи друго го блоку пам'яті 3 з'єднані з другими групами входів блоку оцінки параметрів 2 Комп’ютерна в ерстка А. Крулевський 4 та аналізатора значень параметрів 4, блоку пам'яті 6 з'єднані з першою групою входів блоку допускового контролю 5, виходи аналізатора значень параметрів 4 з'єднані з другою групою входів блоку допускового контролю 5, виходи якого з'єднані з першою групою входів блоку класифікаційної обробки 7, виходи третього блоку пам'яті 8 з'єднані з другою гр упою входів блоку класифікаційної обробки 7, виходи якого з'єднані шиною результату 9. Працює система параметричного діагностування таким чином. Блок оцінки параметрів 2 аналізує значення сигналів, що поступають на інформаційну шину 1, опис теоретичної моделі, що записана у блоці пам'яті 3, та формує оцінку параметрів на основі змін вхідних та вихідних сигналів. Аналізатор значень параметрів 4 виявляє характерні відмінності та зміни значень параметрів. Блок допускового контролю 5 виконує розрахунок параметрів відмов та визначає відхилення параметрів відмов відносно Їх номінальних значень, що записані у блоці пам'я ті 6. Блок класифікаційної обробки 7 на підставі результатів, отриманих у блоці допускового контролю 5 та множини відмов, що записана у блоці пам'яті 8, формує на шині результату 9 інформацію про місце відмови, величину та причину відмов. Заявлена система має ширші функціональні можливості, а саме - спроможність параметричного діагностування та раннього визначення відмов системи в режимі її функціонування. Підписне Тираж 26 прим. Міністерство осв іт и і науки України Держав ний департамент інтелектуальної в ласності, вул. Урицького, 45, м. Київ , МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислов ої в ласності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601

Дивитися

Додаткова інформація

Назва патенту англійською

Device for the parametric diagnostics of an information system

Автори англійською

Kulik Anatolii Stepanovych

Назва патенту російською

Устройство для параметрической диагностики информационной системы

Автори російською

Кулик Анатолий Степанович

МПК / Мітки

МПК: G06F 15/00

Мітки: інформаційних, пристрій, систем, діагностування, параметричного

Код посилання

<a href="https://ua.patents.su/2-24523-pristrijj-dlya-parametrichnogo-diagnostuvannya-informacijjnikh-sistem.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Пристрій для параметричного діагностування інформаційних систем</a>

Подібні патенти