Спосіб електричних випробувань дискретних елементів

Номер патенту: 4074

Опубліковано: 27.12.1994

Автор: Ляшенко Купріян Феоктистович

Завантажити PDF файл.

Формула / Реферат

Способ электрических испытаний дискретных элементов, заключающийся в том, что на выход испытуемого дискретного элемента в закрытом состоянии подают от нагрузки заданный уровень напряжения, а на управляемый вход элемента подают импульсы, отличающийся тем, что напряжение от нагрузки подают на группу объединенных своими выходами однотипных элементов, импульсы на каждый элемент группы подают с временными интервалами, обеспечивающими поочередное отпирание элементов с последующим циклическим повторением процесса отпирания первого элемента после запирания последнего, сопротивление нагрузки шунтируют дополнительной цепью, сопротивление которой изменяют при переходе элемента из одного состояния в другое таким образом, что при закрытом состоянии элемента оно имеет минимальное значение, а при открытом - максимальное, а при изменении числа элементов в группе осуществляют настройку цепи.

Текст

Изобретение относится к области электрических испытаний дискретных элементов автоматики и систем управления (в дальнейшем - элементы) и может быть использовано для испытания и технологического прогона элементов на заводах-изготовителях, а также потребителями элементов. Известен способ испытания элементов, заключающий в том, что на выход испытуемого элемента в закрытом состоянии подают заданный уровень напряжения, на управляющий вход элемента подают импульсы, ограничивают ток через элемент заданным первым значением, синхронно с подачей импульсов на управляющий вход элемента формируют второе значение тока через элемент, совпадающее с первым заданным значением по направлению, превосходящее его по величине и удовлетворяющее условию І2=Iном-I1, где Іном - номинальный ток при электрических испытаниях элемента, I1 - первое заданное значение тока через элемент, І2 - второе значение тока через элемент. Хотя данный способ приводит к значительному сокращению потерь электроэнергии по сравнению с другими, однако и ему присущи недостатки известных способов испытаний отдельных элементов - существенные аппаратурные и энергетические затраты. Снижению этих затрат могла бы способствовать реализация способа испытания групп однотипных элементов. Однако при увеличении количества элементов в группе возрастает влияние суммарного остаточного тока, что не позволило до сих пор реализовать такой способ. Задачей данного изобретения является создание способа электрических испытаний дискретных элементов, который обеспечивает, компенсацию влияния суммарного остаточного тока, что приводит к снижению аппаратурных и энергетических затрат. Поставленная задача решается тем, что в способе электрических испытаний дискретных элементов заключающийся в том, что на выход испытуемого дискретного элемента в закрытом состоянии подают от нагрузки заданный уровень напряжения, а на управляемый вход элемента подают импульсы, согласно изобретению, напряжение от нагрузки подают на группу объединенных своими выходами однотипных элементов, импульсы на каждый элемент группы подают с временными интервалами, обеспечивающими поочередное отпирание элементов с последующим циклическим повторением процесса отпирания первого элемента после запирания последнего, сопротивление нагрузки шунтируют дополнительной цепью, сопротивление которой изменяют при переходе элемента из одного состояния в другое таким образом, что при закрытом состоянии элемента оно имеет минимальное значение, а при открытом - максимальное, а при изменении числа элементов в гр уппе осуществляют настройку цепи. Устройство поясняется чертежом. На фиг. 1 показана схема устройства, реализующего предлагаемый способ; на фиг. 2 - временная диаграмма подачи управляющих сигналов. Согласно способу (фиг. 1) к группе однотипных элементов (или каналов элемента) подключают одинаковую нагрузку. Время, в течение которого каждый элемент находится в открытом состоянии t1, и время закрытого состояния элементов t2 (фиг. 2) принимаются равными соответствующим значениям t1 и t2 известной схемы испытания. По истечение времени цикла Тц процесс выдачи управляющих сигналов повторяется. Критериями, определяющими количество элементов в группе, являются: 1. Заданная длительность цикла Тц : Tц ³ n(t 1 + t 2 ) (1) где n - количество элементов в группе. 2. Допускаемое значение снижения напряжения питания DU доп на выходах закрытых элементов вследствие падения напряжения на нагрузке R1 при протекании суммарного остаточного тока: DU доп ³ R 1 × O ост ., ( 2) где Іост. - суммарный остаточный ток, определяемый по формуле: Iост = n × I ост. (3) Допустимое количество элементов в группе принимается равным меньшему значению n, определяемому по формулам (1) и (2) после их преобразования. С целью увеличения количества элементов в группе необходимо скомпенсировать влияние суммарного остаточного тока, особенно элементов на переменном токе, в которых остаточный ток значительно превышает остаточный ток в элементах на постоянном токе. Для этого сопротивление нагрузки R1 шунтируют сопротивлением, параметры которого дискретно изменяются в зависимости от состояния элементов. В закрытом состоянии элементов его сопротивление низкое, а в открытом состоянии элемента - высокое и практически не оказывает шунтир ующе го действия на сопротивление нагрузки R1. В количестве такого сопротивления применен трансформатор TV1, первичная обмотка которого W1 включена встречно по отношению к обмотке W2 и подключена параллельно сопротивлению нагрузки, а вторичная обмотка W2 подключена одним выводом к источнику питания, а другим - через коммутатор Z - к общей шине (OШ) (фиг. 1). Обозначив напряжение питания нагрузки: U = Uмакс × sinw t (4) Остаточный ток определяется: Iост = I ост × макс × sin(w t + j1 ) (5) где j 1 - угол сдвига фаз между напряжением питания нагрузки и остаточным током. Ток компенсации в обмотке W2 определится: Iком = I комп × макс × sin(wt + j 2 ) (6) При равенстве токов Iкомп=I остаточному (в том случае, если Iком.макс = I ост.макс : j1 = j 2 ) и одинаковых параметрах обмоток W1 и W2 суммарный магнитный поток в магнитопроводе трансформатора будет равен нулю. В этом случае изменение магнитного потока по времени равно нулю, следовательно, противоЭДС равна нулю, т.е. dФ e = -k = 0, (7 ) dt где k - коэффициент пропорциональности. Обмотка трансформатора W1 имеет только активную составляющую r общего сопротивления, величина которого незначительная, т.е. r

Дивитися

Додаткова інформація

Назва патенту англійською

Method for electric testing discrete elements

Автори англійською

Liashenko Kuprian Feoktistovych

Назва патенту російською

Способ электрических испытаний дискретных элементов

Автори російською

Ляшенко Куприян Феоктистович

МПК / Мітки

МПК: G01R 31/28

Мітки: спосіб, елементів, випробувань, дискретних, електричних

Код посилання

<a href="https://ua.patents.su/2-4074-sposib-elektrichnikh-viprobuvan-diskretnikh-elementiv.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб електричних випробувань дискретних елементів</a>

Подібні патенти