Спосіб визначення лінійної щільності волокнистих матеріалів
Номер патенту: 53463
Опубліковано: 11.10.2010
Автори: Кузьміна Тетяна Олегівна, Москаленко Богдан Іванович, Гілязетдінов Рубіль Нуртдінович, Толмачов Володимир Сергійович, Коропченко Сергій Петрович
Формула / Реферат
Спосіб визначення лінійної щільності волокнистих матеріалів, що включає випромінювання крізь матеріал, який відрізняється тим, що як випромінююче середовище використовують інфрачервоне випромінювання постійної інтенсивності, яке проходить крізь шар волокнистого матеріалу.
Текст
Спосіб визначення лінійної щільності волокнистих матеріалів, що включає випромінювання крізь матеріал, який відрізняється тим, що як випромінююче середовище використовують інфрачервоне випромінювання постійної інтенсивності, яке проходить крізь шар волокнистого матеріалу. (19) (21) u201003573 (22) 29.03.2010 (24) 11.10.2010 (46) 11.10.2010, Бюл.№ 19, 2010 р. (72) ТОЛМАЧОВ ВОЛОДИМИР СЕРГІЙОВИЧ, КУЗЬМІНА ТЕТЯНА ОЛЕГІВНА, ГІЛЯЗЕТДІНОВ РУБІЛЬ НУРТДІНОВИЧ, КОРОПЧЕНКО СЕРГІЙ ПЕТРОВИЧ, МОСКАЛЕНКО БОГДАН ІВАНОВИЧ 3 53463 дальшому зменшить похибку визначення лінійної щільності та підвищить ефективність вимірювань. Для реалізації запропонованого способу (Фіг.) волокнистий матеріал 1, у вигляді спеціально підготовленого шару, розташовують між джерелом випромінювання 2 - інфрачервоним світлодіодом та фотоприймачем 3 - інфрачервоним фото діодом, підключеним до підсилювача 4. Після вмикання електричного струму, джерелом випромінювання 2 створюється інфрачервоне випромінювання постійної інтенсивності, що проходить крізь волокнистий матеріал 1 протягом 510сек. Фотоприймач 3 фіксує інфрачервоне ви Комп’ютерна верстка Н. Лиcенко 4 промінювання та перетворює його в постійний струм, який підсилюється за допомогою електронного підсилювача 4 та перетворюється в постійну напругу, вихідне значення якої фіксується за допомогою вольтметра 5. Отримане вихідне значення напруги є пропорційним до освітленості фотоприймача. Використання даного способу дозволяє підвищити стабільність протікання процесу визначення лінійної щільності волокнистого матеріалу, збільшити ефективність і точність вимірювань, зменшити час на визначення якісних показників сировини. Підписне Тираж 26 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюMethod for determination of linear density of fiber materials
Автори англійськоюTolmachov Volodymyr Serhiiovych, Kuzmina Tetiana Olehivna, Hiliazetdinov Rubil Nurtdinovych, Koropchenko Serhii Petrovych, Moskalenko Bohdan Ivanovych
Назва патенту російськоюСпособ определения линейной плотности волокнистых материалов
Автори російськоюТолмачов Владимир Сергеевич, Кузьмина Татьяна Олеговна, Гилязетдинов Рубиль Нуртдинович, Коропченко Сергей Петрович, Москаленко Богдан Иванович
МПК / Мітки
МПК: G01B 11/00
Мітки: спосіб, волокнистих, матеріалів, щільності, визначення, лінійної
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/2-53463-sposib-viznachennya-linijjno-shhilnosti-voloknistikh-materialiv.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб визначення лінійної щільності волокнистих матеріалів</a>
Попередній патент: Пристрій для очищення рідких середовищ
Наступний патент: Спосіб визначення об’єму і площі ураження тканин при відмороженні
Випадковий патент: Установка для ремонту свердловин