Пристрій для вимірювання щільності розподілу прискорених заряджених частинок у пучку

Завантажити PDF файл.

Формула / Реферат

Пристрій для вимірювання щільності розподілу прискорених заряджених частинок у пучку, що містить збиральний електрод, емітуючий електрод, який складається з ізольованих одна від одної та розташованих в одній площині паралельних смуг, кожна з яких з'єднана з вимірювальним пристроєм, який відрізняється тим, що емітуючий електрод виконаний з можливістю обертання у своїй площині.

Текст

Пристрій для вимірювання щільності розподі лу прискорених заряджених частинок у пучку, що містить збиральний електрод, емітуючий електрод, який складається з ізольованих одна від одної та розташованих в одній площині паралельних смуг, кожна з яких з'єднана з вимірювальним пристроєм, який відрізняється тим, що емітуючий електрод виконаний з можливістю обертання у своїй площині. Пропонований пристрій має відношення до області вимірювальної* апаратури для іонізуючих випромінювань та може бути використаний у прискорювальній техніці при визначенні щільності розподілу заряджених частинок у пучку. Відомий пристрій для вимірювання щільності розподілу прискорених заряджених частинок у пучку [авт. свід. СРСР №1101009, G01T 1/29, 2000J [1]. Пристрій містить вимірювачі інтенсивності заряджених частинок у вигляді смуг із нанесеними на них напівпровідниковим р-n перехідним шаром Смуги розташовані в ортогональних площинах, установлені на каретках та орієнтовані своїми площинами паралельно осі пристрою (осі пучка). Кожна зі смуг з'єднана з вимірювальним пристроєм (осцилографом). Потік прискорених заряджених частинок, проходячи крізь напівпровідникові шари на смузі, вибиває із шару носії заряду. На поверхні шару виникає електричний сигнал, пропорційний числу заряджених частинок, які пройшли крізь шар. При одночасному руху смуг поперек пучка регіструється зміна амплітуди електричного сигналу з кожної зі смуг, тобто вимірюється функція розподілу числа частинок у пучку. Проте через те, що сигнал, який поступає зі смуг, характеризує загальну кількість заряджених частинок, що пройшли крізь смугу, а не розподіл їх уздовж її поверхні, у такому пристрою неможливо отримати повну картину ЩІЛЬНОСТІ розподілу заряджених частинок у пучку за перерізом Це обумовлює недостатню інформативність відомого пристрою Відомий пристрій для вимірювання щільності розподілу прискорених заряджених частинок у пучку [авт. свід. СРСР №174282, Н05Н 7/00, 2000] [2], вибраний як прототип Пристрій містить збиральні електроди, розміщені між ними емітуючи електроди, кожній з яких складається з ізольованих одна від одної та розташованих в одній площині паралельних смуг Кожна зі смуг з'єднані з вимірювальним пристроєм. Електроди установлено в площинах, паралельних між собою. Смуги одного з емітуючих електродів розташовані перпендикулярно відносно смуг другого емітуючого електрода та з'єднані з комутуючим пристроєм, який забезпечує почергове підключення кожної смуги до електровимірювального приладу При проходженні пучка прискорених заряджених частинок крізь кожну зі смуг у ній виникають вторинні електрони, число яких пропорційно числу заряджених частинок, які пройшли крізь смугу Визначення щільності розподілу прискорених заряджених частинок полягає у вимірюванні струмів, які проходять крізь кожну зі смуг. Проте, також як і у пристрої [1], сигнал, який поступає від кожної зі смуг, характеризує загальну кількість заряджених частинок, які пройшли крізь смугу, а не розподіл їх уздовж її поверхні, що обумовлює низьку інформативність пристрою [2]. В основу корисної моделі поставлена задача створити такий пристрій для вимірювання ЩІЛЬНОСТІ розподілу прискорених заряджених частинок у пучку, який у порівнянні із пристроєм, обраним як прототип, давало можливість проводити вимірювання з більшою інформативністю. Поставлена задача вирішується у пристрою для вимірювання ЩІЛЬНОСТІ розподілу прискорених CM со ю 5820 заряджених частинок у пучку, який містить збиральний електрод, емітуючии електрод, який складається з ізольованих одна від одної та розташованих в одній площині паралельних смуг, кожна з яких з'єднана з вимірювальним пристроєм згідно з корисною моделлю емітуючии електрод виконаний з можливістю обертання у своїй площині. Завдяки тому, що кожна зі смуг може обертатись у площині емітуючого електрода, з'явилась можливість вимірювати число заряджених частинок, які проходять крізь смугу, при різних її положеннях у площині емітую чого електрода ( число положень задається кроком переміщення смуг при обертанні на 180"). Електричні сигнали, які поступають від кожної зі смуг емггуючого електрода у кожному їх положенні, дають можливість отримати більш повну картину щільності розподілу прискорених заряджених частинок у пучку, що обумовлює більш високу інформативність вимірювань за допомогою пропонованого пристрою На кресленні зображена схема пропонованого пристрою для вимірювання щільності розподілу прискорених заряджених частинок у пучку. Пристрій містить збиральний електрод 1, після якого, у напрямку поширення пучка 2, установлено емітуючии електрод 3, який складається з ізольо Комп'ютерна верстка А Крулевський ваних одна від одної та розташованих в одній площині паралельних смуг 4. Електрод 3 механічно сполучений з проводом обертання (на кресленні не показаний). Кожна зі смуг 4 з'єднана з вимірювальним пристроєм 5, який у свою чергу з'єднаний обчислювальною машиною 6. Робота пристрою основана на ефекті вторинної електронної емісії. Збиральний 1 та емітуючии З електроди ставлять на шляху пучка 2 прискорених заряджених частинок паралельно між собою та перпендикулярно осі пучка 2. На збиральний електрод 1 подають позитивну напругу до +100 В За допомогою приводу електроду 3 блок смуг 4 повертають на 180° із заданим шагом У фіксованому положенні смуг 4 вимірюють кут повороту емітуючого електрода 3 та величини струмів на кожної зі смуг Вимірювані значення поступають до обчислювальної машини 6, у якій за допомогою математичних методів комп'ютерної томографії обчислюється щільність розподілу заряджених частинок у поперечному перерізу пучка та положення пучка відносно емітуючого електрода Таким чином пропонований пристрій має, у порівнянні із пристроєм, обраним як прототип, дає можливість проводити вимірювання з більшою інформативністю. Підписне Тираж 28 прим Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул Урицького, 45, м Київ, МСП, 03680, Україна ДП 'Український інститут промислової власності", вул. Глазунова, 1, м Київ - 4 2 01601

Дивитися

Додаткова інформація

Назва патенту англійською

Device for measuring the frequency distribution of accelerated charged particles in the particle beam

Назва патенту російською

Устройство для измерения плотности распределения ускоренных заряженных частиц в пучке

МПК / Мітки

МПК: G01T 1/34

Мітки: пристрій, розподілу, вимірювання, пучку, прискорених, заряджених, щільності, частинок

Код посилання

<a href="https://ua.patents.su/2-5820-pristrijj-dlya-vimiryuvannya-shhilnosti-rozpodilu-priskorenikh-zaryadzhenikh-chastinok-u-puchku.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Пристрій для вимірювання щільності розподілу прискорених заряджених частинок у пучку</a>

Подібні патенти