Спосіб вимірювання стійкості електронного пристрою

Спосіб вимірювання стійкості електронного пристрою, підключеного до джерела зовнішнього електроживлення, за яким вимірюють час загасання перехідного процесу, виникаючого в пристрої, який відрізняється тим, що перехідний процес викликають вмиканням джерела зовнішнього електроживлення пристрою, а стійкість електронного пристрою вважають рівною величині, зворотній виміряному часу загасання перехідного процесу. (19) (21) a200601384 (22) 13.02.2006 (24) 25.04.2008 (46) 25.04.2008, Бюл.№ 8, 2008 р. (72) РОЗОРІНОВ ГЕОРГІЙ МИКОЛАЙОВИЧ, U A, МЕЛЕШКО МИКОЛА АНДРІЙОВИЧ, U A (73) НАЦІОНАЛЬНИЙ АВІАЦІЙНИЙ УНІВЕРСИТЕТ, U A (56) SU 104464, 09.09.1954 SU 122546, 07.12.1958 SU 748304, 15.07.1980 RU 2028004 C1, 27.01.1995 DE 3115498 A1, 17.02.1983 3 82538 строю, підключеного до джерела зовнішнього електроживлення, згідно з яким вимірюють час загасання перехідного процесу, виникаючого в ньому, новим є те, що перехідний процес викликають вмиканням джерела зовнішнього електроживлення пристрою, а стійкість вважають рівній величині, зворотній виміряному часу загасання перехідного процесу. Пропонований спосіб не потребує зовнішнього збуджуючого сигналу та визначення всіх внутрішніх зв’язків і частотних характеристик ланцюгів досліджуємого пристрою в розімкненому та в замкненому стані. Суть винаходу полягає в наступному. Для вимірювання стійкості складного електронного пристрою вмикають джерело зовнішнього електроживлення цього пристрою і одночасно починають вимірювати час загасання перехідного процесу (реакцію пристрою), викликаного дією джерела енергії. Час загасання перехідного процесу можна виміряти, наприклад, за допомогою пристрою, структурна схема якого показана на Фігурі. Пристрій складається із шини 1 електроживлення, до якої через ключ 2 приєднаний складний електронний пристрій 3. До виходу пристрою 3 підключений одним входом граничний елемент 4, інший вхід якого приєднаний до шини 5 вибору граничного рівня. До виходу елемента 4 підключений нульовим входом тригер 6, одиничний вхід якого приєднаний до виходу ключа 2. До виходу тригера 6 підключений одним входом двовходовий елемент І 7, до іншого входу якого підключений тактовий генератор 8 імпульсів. До ви ходу елемента І 7 підключений таймер 9. Складний електронний пристрій 3 підключають до шини 1 електроживлення за допомогою швидкодіючого ключа 2. Одночасно тригер 6 встановлюється в одиничний стан і дозволяє проходження Комп’ютерна в ерстка В. Клюкін 4 через елемент І 7 імпульсів, що виробляються тактовим генератором 8. Ці імпульси надходять у таймер 9, що вимірює час існування перехідного процесу в пристрої 3 шляхом підрахунку тактових імпульсів. Перехідний процес (напруга, струм), що виникає на виході електронного пристрою 3 при подачі на нього електроживлення, подається на граничний елемент 4 (наприклад, компаратор), де порівнюється за рівнем з наперед заданим граничним рівнем (напругою, струмом) який формується в шині 5. Сигналом порівняння, що формує елемент 4, тригер 6 встановлюється в нульовий стан. Таким чином, імпульси, що вироблюються тактовим генератором 8 проходять через елемент І 7 тільки від моменту включення електроживлення до моменту рівності рівня перехідного процесу з заданим граничним рівнем. Це і визначає час існування перехідного процесу. По визначенню, стійким називається електронний пристрій, який після збудження його джерелом енергії „зрештою забуває, що його збудили, і повертається в стан спокою” [див. Мэзон З., Циммерман М. Электронные пени, сигналы и системы. -М.: Иностранная литература, 1963.- 617с. - на cтop.327]. Чим стійкіший електронний пристрій, тим швидше він повертається в стан спокою. Отже, величина зворотна часу загасання перехідного процесу, тобто часу, за який пристрій повертається в стан спокою, є мірою його стійкості. Відповідно до способу, що пропонується можна вимірювати стійкість електронних пристроїв будь-якої складності і конфігурації на дію різних джерел енергії для різних видів перехідних процесів, при цьому не потрібно зовнішнього джерела тестового сигналу, знання внутрішніх зв’язків випробуваною пристрою і тим більше їх порушення. Підписне Тираж 26 прим. Міністерство осв іт и і науки України Держав ний департамент інтелектуальної в ласності, вул. Урицького, 45, м. Київ , МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислов ої в ласності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601