Пристрій для дослідження властивостей робочої поверхні інструменту

1. Пристрій для дослідження властивостей робочої поверхні інструменту, що містить станину, на якій встановлено вимірювальний блок з мікроскопом, оправку для закріплення інструменту, встановлену з можливістю обертання, який відрізняється тим, що оправка для закріплення інструменту розташована вертикально і має можливість обертання навколо вертикальної осі та встановлювального осьового переміщення. 2. Пристрій за п. 1, який відрізняється тим, що оправка встановлена з можливістю додаткового встановлювального переміщення в горизонтальній площині. (19) (21) u200512700 (22) 28.12.2005 (24) 15.06.2006 (46) 15.06.2006, Бюл. № 6, 2006 р. (72) Виноградова Олена Петрівна, Майстренко Анатолій Львович, Свешніков Ігор Аркадійович, Медведєв Вадим Дмитрович, Людвиченко Петро Герасимович (73) ІНСТИТУТ НАДТВЕРДИХ МАТЕРІАЛІВ ІМ. В.М.БАКУЛЯ НАН УКРАЇНИ, Виноградова Олена Петрівна, Майстренко Анатолій Львович, Свешніков Ігор Аркадійович, Медведєв Вадим Дмитрович, Людвиченко Петро Герасимович 3 15217 4 Завдяки встановлювальному переміщенню них зерен), якими оснащується досліджуваний оправки відносно вертикальної осі, можна викориінструмент 13, розміщений в оправці, яка складастовувати інструменти для дослідження властивоється з обмежувального кільця 15, накидної гайки стей їх робочої поверхні з досить значною різни14 , пересувної плити 6 і стопорної гайки 17, двох цею вертикальних габаритних розмірів, тобто, співвісних стояків: рухомого у вертикальному наздійснювати переміщення по вертикалі в більш прямку стояка 16 і нерухомого стояка 18 відносно широкому діапазоні, ніж дозволяють регулюючі перехідної плити 4, жорстко закріпленої за допомеханізми мікроскопу. могою болтового з’єднання на опорній плиті 3, що Можливість додаткового встановлювального має можливість при обертанні рукоятки 7 за допопереміщення в горизонтальній площині збільшує могою черв’ячного конічного редуктора 2, здійснюступінь свободи оправки в горизонтальній площивати повільні регульовочні переміщення; крім того, ні, що забезпечує використання інструментів для оправка 14-18 має можливість фіксованого встадослідження його робочої поверхні зі значною різновлювального переміщення в горизонтальній ницею горизонтальних габаритних розмірів, тобто, площині завдяки виконанню у пересувній плиті 6 здійснювати переміщення по горизонталі в більш повздовжніх, наскрізних пазів і розміщених в них широкому діапазоні, ніж дозволяють регулюючі фіксуючих болтів 5. механізми мікроскопу. Пристрій працює так. На кресленнях проілюстровано пристрій, де на Досліджуваний інструмент 13, встановлюється Фіг.1 зображено вид збоку, а на Фіг.2 розріз А-А на на базову площадку А рухомого стояка 16 оправки Фіг.1. 14-18, відбувається встановлювальне переміщенПристрій для дослідження властивостей робоня досліджуваного інструмента 13 в горизонтальчої поверхні інструменту містить станину 1 , на якій ній площині і наступне його закріплення фіксуючивстановлено вимірювальний блок , що складаєтьми болтами 5; встановлювальне переміщення ся з мікроскопа МІН-9 12, призначеного для дослідосліджуваного інструмента 13 відносно вертикадження непрозорих об’єктів у відбитому і полярильної осі відбувається так: він піднімається на незованому світлі і регулюючих механізмів (не обхідну висоту безпосередньо під окуляр мікроспоказано), які за допомогою маховичків 8-11 встакопа 12 (відстань від робочої поверхні інструменту новлюють положення окуляра мікроскопа 12 у до окуляра мікроскопа 12 не повинна перевищувапросторі, а саме: маховичок 10, необхідний для ти 1мм) завдяки викручуванню рухомого стояка 16 грубої настройки мікроскопа 12 по висоті в межах з нерухомого стояка 18, потім центрується обме50мм , маховичок 8 забезпечує переміщення окужувальним кільцем 15, фіксується стопорною гайляра мікроскопа 12 в горизонтальній площині по кою 17 і закріплюється за допомогою накидної гайширині по осі х (Фіг.2) досліджуваного інструмента ки 14 на рухомому стояку 16 оправки 14-18. 13, маховичок 9, забезпечує переміщення окуляра Досліджуваний інструмент 13 жорстко закріпмікроскопа 12 в горизонтальній площині по довжилений в оправці 14-18 , повільно переміщується ні по осі у (фіг,2) досліджуваного інструмента 13, навколо своєї осі при обертанні рукоятки 7 завдяки маховичок 11, завдяки якому відбувається мікровикористанню черв’ячно-конічного редуктора 2, що метрична настройка мікроскопа 12 для вимірюзабезпечує вивчення змін властивостей робочої вання вильоту зерен алмазів (відстані від поверхні поверхні по колу досліджуваного інструмента 13. зв’язуючого матеріалу матриці до вершин алмаз 5 Комп’ютерна верстка А. Крижанівський 15217 6 Підписне Тираж 26 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601