G01B 11/30 — для вимірювання шорсткості або нерівностей поверхонь

Номер патенту: 111088

Опубліковано: 25.10.2016

Автори: Кудряшов Володимир Олексійович, Клещов Максим Геннадійович, Клещов Геннадий Михайлович, Коломієць Леонід Володимирович

МПК: G01N 3/56, G02B 27/48, G01B 11/30 ...

Мітки: системі, спосіб, основі, приладів, зносу, вимірювання, активного, лазерних, використанням, інструменту, виробництва, реалізації, методу, інтегрованої, корегування, штампів, автоматизації

Формула / Реферат:

Спосіб реалізації активного методу вимірювання і корегування зносу інструменту з використанням лазерних приладів на основі інтегрованої системи автоматизації виробництва штампів, що полягає у використанні оптичних методів вимірювання та автоматичного управління корегуванням за зоною обробки деталей, який відрізняється тим, що застосовують розроблений вимірювальний канал активного лазерного приладу, що дає можливість візуально представити...

Номер патенту: 109043

Опубліковано: 10.08.2016

Автори: Сірко Зіновій Степанович, Головач Валентин Михайлович, Головач Роман Валентинович

МПК: G01B 11/30

Мітки: дерев'яної, поверхні, контролю, спосіб, шорсткості

Формула / Реферат:

Спосіб контролю шорсткості дерев'яної поверхні, який здійснюється шляхом подачі пучка світлового випромінювання під кутом до нормалі досліджуваної поверхні, яку переміщують щодо пучка випромінювання, приймають відбите від поверхні випромінювання оптоелектронним приймачем, отримують із заданим кроком зображення вимірюваної поверхні, обчислюють різницю між двома послідовними значеннями електронних даних, що характеризують два послідовні...

Номер патенту: 106862

Опубліковано: 10.05.2016

Автори: Краснов Володимир Миколайович, Смолич Денис Вікторович, Сагідаєв Юрій Магомедович, Кіреєв Максим Еріданович, Скрипець Андрій Васильович

МПК: G01B 11/30, E01C 23/01

Мітки: пристрій, комплексний, конструкцій, аеродрому, діагностики, поверхонь, параметрів

Формула / Реферат:

Комплексний пристрій для діагностування параметрів поверхонь конструкцій аеродрому, який включає до себе колісну базу, встановлене на ній джерело когерентного випромінювання, лінзу, яка фокусує падаючий промінь, послідовно розташовані в площині тріангуляції збиральну лінзу та фотоприймач, реєструвальний блок, блок визначення кутового положення колісної бази відносно горизонту, датчик кутового положення, встановленого на колесі та...

Номер патенту: 110587

Опубліковано: 12.01.2016

Автори: Стельмах Олександр Устимович, Пільгун Юрій Вікторович, Смирнов Євген Миколайович, Колєнов Сергій Олександрович

МПК: F41G 11/00, G01B 11/30, G02B 21/00 ...

Мітки: пристрій, реалізації, параметрів, рельєфу, визначення, поверхні, спосіб

Формула / Реферат:

1. Спосіб визначення параметрів рельєфу поверхні, з використанням методу диференційно-фазової профілометрії і/або профілографії, який відрізняється тим, що сканування досліджуваної поверхні здійснюють двома світловими пучками, що утворені завдяки почерговому розщепленню світлового пучка у кожному з двох акустооптичних дефлекторів зі зміщенням у просторі та по частоті, по двох взаємоортогональних напрямках із суміщенням центрів сканування за...

Номер патенту: 109574

Опубліковано: 10.09.2015

Автори: Павліков Володимир Володимирович, Гайдачук Олександр Віталійович, Аксьонов Євген Олександрович, Шматко Олександр Олександрович, Волосюк Валерій Костянтинович, Зворський Валентин Іванович

МПК: G01B 11/30

Мітки: спосіб, параметрів, шорсткої, безконтактного, вимірювання, пристрій, поверхні

Формула / Реферат:

1. Спосіб вимірювання параметрів шорсткої поверхні, який полягає в тому, що когерентним випромінюванням утворюють на досліджуваній поверхні засвічену область, реєструють спекл-зображення з двох кутів матричними оптичними приймачами, з подальшою обробкою в ЕОМ, який відрізняється тим, що досліджувану поверхню освітлюють трьома сформованими та суміщеними когерентними променями з різними довжинами хвиль, реєструють повноколірні...

Номер патенту: 100915

Опубліковано: 10.08.2015

Автори: Стельмах Олександр Устимович, Смирнов Євген Миколайович, Пільгун Юрій Вікторович, Колєнов Сергій Олександрович

МПК: A61B 8/08, G02B 21/00, F41G 11/00, G01B 11/30 ...

Мітки: пристрій, рефракції, дослідження, об'єктів

Формула / Реферат:

Пристрій для дослідження рефракції об'єктів, який містить джерело випромінювання, як джерело випромінювання може бути використаний лазер, перший та другий акустооптичні дефлектори, першу та другу оптичні системи, об'єктив та фотоприймач, які з'єднані між собою послідовно та механічно і встановлені по ходу світлового пучка таким чином, що мають загальну оптичну вісь, по два генератори керуючих сигналів для кожного акустооптичного дефлектора,...

Номер патенту: 99040

Опубліковано: 12.05.2015

Автори: Колєнов Сергій Олександрович, Смирнов Євген Миколайович, Стельмах Олександр Устимович, Пільгун Юрій Вікторович

МПК: G02B 21/00, G01B 11/30

Мітки: параметрів, поверхні, пристрій, визначення, рельєфу

Формула / Реферат:

Пристрій для визначення параметрів рельєфу поверхні, що являє собою пристрій для диференційно-фазової профілометрії та/або профілографії, який містить джерело випромінювання, як джерело випромінювання може бути використаний лазер, виконану з можливістю розширення світлового пучка першу оптичну систему, встановлені по ходу світлового пучка на загальній оптичній осі щонайменше два акустооптичних дефлектори і виконану з можливістю звуження...

Номер патенту: 99039

Опубліковано: 12.05.2015

Автори: Колєнов Сергій Олександрович, Пільгун Юрій Вікторович, Стельмах Олександр Устимович, Смирнов Євген Миколайович

МПК: G01B 11/30, G02B 21/00

Мітки: параметрів, об'єкта, визначення, поверхні, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб визначення параметрів рельєфу поверхні, з використанням методу диференційно-фазової профілометри і/або профілографи, який відрізняється тим, що сканування досліджуваної поверхні здійснюють двома світловими пучками, що утворені завдяки почерговому розщепленню світлового пучка у кожному з двох акустооптичних дефлекторів зі зміщенням у просторі та по частоті, по двох взаємоортогональних напрямках із суміщенням центрів сканування за...

Номер патенту: 98226

Опубліковано: 27.04.2015

Автори: Кіреєв Максим Еріданович, Краснов Володимир Миколайович, Скрипець Андрій Васильович, Сагідаєв Юрій Магомедович, Смолич Денис Вікторович

МПК: G01B 11/30

Мітки: шорсткості, конструкцій, вимірювач, поверхонь, аеродрому

Формула / Реферат:

Вимірювач шорсткості поверхонь конструкцій аеродрому, який містить джерело когерентного випромінювання, лінзу, яка фокусує падаючий промінь, послідовно розташовані в площині тріангуляції збиральну лінзу та фотоприймач, реєструвальний блок та флеш-пам'ять, який відрізняється тим, що використовується оптико-електронна система сканування, принцип дії якої ґрунтується на тріангуляційному методі вимірювань, де як приймальний канал...

Номер патенту: 89022

Опубліковано: 10.04.2014

Автор: Маркіна Ольга Миколаївна

МПК: G01B 11/30

Мітки: спосіб, вимірювання, поверхні, шорсткості, маркіної

Формула / Реферат:

Спосіб вимірювання шорсткості поверхні, в якому поверхню, що контролюють, освітлюють лазерним променем у видимій ділянці спектра, а потім порівнюють дзеркальну та дифузну складові відбитого під кутом, що дорівнює куту падіння, випромінювання, який відрізняється тим, що зображення відбитого випромінювання фіксують телевізійною камерою та подають на дисплей комп'ютера (ноутбука, планшета тощо), а потім на комп'ютерному зображенні визначають...

Номер патенту: 85637

Опубліковано: 25.11.2013

Автори: Григоренко Ігор Володимирович, Давиденко Олександр Петрович, Бєлєвцова Анастасія Станіславівна, Кондрашов Сергій Іванович

МПК: G01B 11/30

Мітки: лазерної, контролю, якості, деталей, виміру, системі, розмірів, пристрій, поверхні, геометричних

Формула / Реферат:

Пристрій для контролю лазерної системи виміру геометричних розмірів та якості поверхні деталей, що містить лазерний канал, фокусуючу двоопуклу лінзу, світлоподільну лінзу, фокусуючі системи, еталонну за геометричними розмірами поверхню, системи відбиваючих дзеркал, світлоприймач, який відрізняється тим, що містить тестові зразкові ділянки фіксованого розміру, нанесені на еталонну поверхню, оптичний атенюатор, кубик Луммера-Бродхуна та блок...

Номер патенту: 82215

Опубліковано: 25.07.2013

Автори: Шумаков Ігор Валентинович, Секретна Вікторія Миколаївна, Раківненко Дмитро Валерійович

МПК: G01C 7/00, G01B 11/30, G01C 9/00 ...

Мітки: прилад, бетонної, хвилястості, рівності, вимірювання, підлоги

Формула / Реферат:

Прилад для вимірювання рівності і хвилястості бетонної підлоги, переважно промислової бетонної підлоги складських будівель, що містить блок для переміщення приладу, корпус, вимірювальний блок з датчиком нахилу та джерелом живлення, та обчислювальний блок, який відрізняється тим, що блок для переміщення приладу виконаний як координатно-настановний блок, що включає жорстко закріплені між собою горизонтально орієнтовану платформу з двома...

Номер патенту: 80017

Опубліковано: 13.05.2013

Автори: Чередніков Олег Миколайович, Павленко Петро Миколайович

МПК: G01B 11/30

Мітки: шорсткості, поверхні, спосіб, вимірювання

Формула / Реферат:

Спосіб вимірювання шорсткості поверхні, який полягає в тому, що досліджувану поверхню поміщають під об'єктив металографічного мікроскопа та освітлюють збоку під гострим кутом приблизно з тією ж інтенсивністю, що й спрямоване по нормалі до поверхні металографічне освітлення, який відрізняється тим, що освітлення здійснюють у двох напрямках, перпендикулярних один до одного, при цьому за допомогою відеокамери одержують шість цифрових фотографій...

Номер патенту: 77992

Опубліковано: 11.03.2013

Автори: Назаров Юрій Федорович, Тихоненко Віра Вікторівна, Шкілько Анатолій Максимович, Компанієць Ігор Валерійович, Моргунов Володимир Вікторович

МПК: G01B 11/30

Мітки: металевих, контролю, спосіб, якості, дзеркал, поверхні

Формула / Реферат:

Спосіб контролю якості поверхні металевих дзеркал, який полягає в тому, що на контрольовану поверхню направляють світлове випромінювання, реєструють світлове випромінювання, який відрізняється тим, що методом динамічного конденсатора вимірюють величину контактної різниці потенціалів між еталонним електродом і контрольованою поверхнею, встановлюють кореляцію між відбивною здатністю і величиною контактної різниці потенціалів, визначають...

Номер патенту: 93622

Опубліковано: 25.02.2011

Автори: Шульце Стефан, Розенталь Дітер, Зудау Петер, Факерт Райнер, Шустер Інго, Шумахер Вілфрід, Вайнерт Андреас

МПК: G01B 11/30, B21B 38/00, G01N 21/89, B21B 37/68 ...

Мітки: поверхонь, способом, лиття, безперервного, одержаних, виявлення, виробах, спосіб, дефектів, класифікації

Формула / Реферат:

1. Спосіб виявлення та класифікації дефектів поверхонь на виробах, одержаних способом безперервного лиття, з використанням топографічної інформації про зовнішній вигляд поверхонь, одержаних способом безперервного лиття, причому дефекти і/або порушення цілісності визначають з точним позиціонуванням, оцінюють за місцеположенням та протяжністю і, відповідно до результатів оцінки, перед подальшою обробкою виробу усувають або запобігають за...

Номер патенту: 92239

Опубліковано: 11.10.2010

Автори: Третяк Олег Васильович, Єременко Вадим Олексійович, Карплюк Олександр Іванович, Лисоченко Сергій Васильович, Примаченко Іван Андрійович, Жарких Юрій Серафимович

МПК: G01B 11/30

Мітки: механічної, кремнію, спосіб, пластин, кристалоструктури, шорсткості, визначення, глибини, оброблених, поверхні, порушень

Формула / Реферат:

Спосіб визначення шорсткості поверхні і глибини порушень кристалоструктури механічно оброблених пластин кремнію, що включає опромінення зразка світлом і реєстрацію характеристик відбитої зразком частини опромінення, який відрізняється тим, що опромінення здійснюють в області прозорості кремнію інфрачервоним світлом з довжиною хвиль 1,3-27 мкм, а шорсткість поверхні і глибину порушень кристалоструктури визначають за величиною довгохвильової...

Номер патенту: 91253

Опубліковано: 12.07.2010

Автори: Кляйнлох Юрген, Кірххофф Штефан, Бліссенбах Дітер, Карлхофф Крістоф

МПК: G01B 11/24, G01B 9/00, G01B 11/14, G01B 11/30 ...

Мітки: футерівки, металургійної, плавильної, вогнетривкої, контролю, зносу, спосіб, посудини

Формула / Реферат:

1. Спосіб контролю вогнетривкої футерівки (6) металургійної плавильної місткості (1) за допомогою лазерного сканера (2), який містить лазерну головку (3) для випромінювання лазерних променів, які можуть бути відхилені у вертикальному і горизонтальному напрямках;приймальний засіб (5) поблизу лазерної головки (3) для прийому лазерних променів (4), відбитих від вогнетривкої футерівки (6) для визначення їх напрямку і часу...

Номер патенту: 48502

Опубліковано: 25.03.2010

Автори: Жарких Юрій Серафимович, Єременко Вадим Олексійович, Карплюк Олександр Іванович, Лисоченко Сергій Васильович, Третяк Олег Васильович, Примаченко Іван Андрійович

МПК: G01B 11/30

Мітки: шару, приповерхневого, товщини, мікродефектного, визначення, кремнію, пластинах, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб визначення товщини приповерхневого мікродефектного шару на пластинах кремнію, що включає опромінення зразка світлом і реєстрацію характеристик відбитої зразком частини опромінення, який відрізняється тим, що опромінення проводять в області прозорості кремнію інфрачервоним світлом з довжиною хвиль 1,3-27 мкм, а товщину приповерхневого мікродефектного шару на пластинах кремнію визначають за величиною довгохвильової межі густини шумів...

Номер патенту: 86765

Опубліковано: 25.05.2009

Автори: Хоффманн Дітер, Брінкманн Андреас, Вальтер Міхель Й., Хоффманн Манфред

МПК: B61K 9/00, G01B 11/24, G01B 11/00 ...

Мітки: тіла, визначення, динамічного, профілю, спосіб, твердого, безконтактного

Формула / Реферат:

1. Спосіб безконтактного динамічного визначення профілю (Р) твердого тіла (1, 1а), зокрема визначення зносу, що виник на твердому тілі (1, 1а), при цьому тверде тіло (1, 1а) являє собою обертально-симетричне колесо (1а) транспортного засобу, в основному, циліндричної або кільцеподібної основної форми, в якому щонайменше один створений лазерним пристроєм (2) світловий промінь, розширений до лінійної світлової смуги (3, 3а, 3b, 3с, 3c1, 3с2,...

Номер патенту: 41192

Опубліковано: 12.05.2009

Автори: Ткаченко Микола Анатолійович, Кліменко Галина Петрівна, Пономаренко Олександр Валерійович, Мішура Євгенія Володимирівна

МПК: G01B 11/30

Мітки: оптичний, неруйнівного, різальних, поверхні, прилад, передньої, контролю, пластин, форми

Формула / Реферат:

Оптичний прилад для неруйнівного контролю форми передньої поверхні різальних пластин, що містить джерело випромінювання, систему лінз, світлонепрозору шторку, який відрізняється тим, що вміщує трубу Ньютона, а як джерело випромінювання містить одномодовий лазер.

Номер патенту: 39972

Опубліковано: 25.03.2009

Автори: Закієв Вадим Ісламович, Юцкевич Святослав Сергійович, Ігнатович Сергій Ромуальдович, Закієв Іслам Мусаєвич

МПК: G01B 9/02, G01B 11/30

Мітки: тривимірний, профілометр, безконтактний

Формула / Реферат:

Безконтактний тривимірний профілометр, що містить джерело білого світла, світловіддільник, призначений для формування опорного й вимірювального пучків випромінювання, еталонне дзеркало, встановлене в ході опорного пучка випромінювання, ПЗЗ матрицю (прилад з зарядовим зв'язком) із системою обробки інформації, встановлену у ході суміщених пучків випромінювання, який відрізняється тим, що засіб для зміни оптичної різниці ходу між опорним і...

Номер патенту: 83895

Опубліковано: 26.08.2008

Автори: Воробель Роман Антонович, Гапонюк Ярослав Васильович

МПК: G01B 11/30, G01B 11/08

Мітки: параметрів, спосіб, трубі, варіанти, пристрій, обчислення, оптико-електронний

Формула / Реферат:

1. Спосіб визначення параметрів труби, який полягає у тому, що послідовно в часі формують світлову площину, яку направляють на поверхню труби, утворюють на цій поверхні світлову криву, формують зображення цієї світлової кривої на фотосенсорі формувача зображення, який розташовують паралельно до світлової площини на наперед заданій віддалі, розбивають зображення світлової кривої на послідовність елементів зображення, який відрізняється тим, що...

Номер патенту: 26857

Опубліковано: 10.10.2007

Автори: Тимчик Григорій Семенович, Заверуха Людмила Олександрівна

МПК: G01B 11/30

Мітки: деталі, структури, пристрій, контролю

Формула / Реферат:

Пристрій для контролю структури деталі, що містить послідовно розташовані на одній оптичній осі лазер, модулятор, коліматор і кореляційну систему із двох Фур'є-об'єктивів, який відрізняється тим, що модулятор виконаний у вигляді комірок Фарадея, одна із них розташована між лазером і коліматором, за яким розташовані введена призма - куб для розділення пучка випромінювання на два взаємно перпендикулярних напрямки, в одному з яких послідовно...

Номер патенту: 79146

Опубліковано: 25.05.2007

Автори: Гапонюк Ярослав Васильович, Воробель Роман Антонович

МПК: G01B 11/08, G01B 11/30

Мітки: виробів, вимірювання, оптико-електронною, діаметра, циліндричних, системою, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб вимірювання діаметра циліндричних виробів оптико-електронною системою, який полягає в перетворенні фотоелектронного зображення двовимірної кривої на фоточутливій площині в дискретний набір його елементів, з яких формують групи по три елементи, який відрізняється тим, що до перетворення фотоелектронного зображення двовимірної кривої в дискретний набір елементів послідовно в часі формують світлову площину, освітлюють цією світловою...

Номер патенту: 15217

Опубліковано: 15.06.2006

Автори: Свешніков Ігор Аркадійович, Людвиченко Петро Герасимович, Виноградова Олена Петрівна, Майстренко Анатолій Львович, Медведєв Вадим Дмитрович

МПК: G01B 11/30

Мітки: властивостей, дослідження, пристрій, поверхні, робочої, інструменту

Формула / Реферат:

1. Пристрій для дослідження властивостей робочої поверхні інструменту, що містить станину, на якій встановлено вимірювальний блок з мікроскопом, оправку для закріплення інструменту, встановлену з можливістю обертання, який відрізняється тим, що оправка для закріплення інструменту розташована вертикально і має можливість обертання навколо вертикальної осі та встановлювального осьового переміщення.2. Пристрій за п. 1, який...

Номер патенту: 64509

Опубліковано: 16.05.2005

Автори: Вербицький Володимир Павлович, Кравченко Вілен Йосипович

МПК: G01B 11/30, G01B 11/00

Мітки: шорсткості, пристрій, поверхні, визначення

Формула / Реферат:

Спосіб цілеспрямованого пошуку деяких ендогенних факторів ризику розвитку пієлонефриту у дітей, що передбачає вивчення вихідного вегетативного тонусу згідно тестування за О.М. Вейном, адаптованого для дитячого віку, який відрізняється тим, що визначення необхідності поглибленого обстеження дитини на предмет наявності нейрогенних розладів сечовипускання та оксалатної дисметаболічної нефропатії проводять на основі попереднього встановлення...

Номер патенту: 55793

Опубліковано: 16.05.2005

Автори: Кравченко Вілен Йосипович, Соколов Володимир Олександрович

МПК: G01B 21/00, G01B 11/00, G01B 11/30, G01B 11/24 ...

Мітки: пристрій, контролю, форми, виробу

Формула / Реферат:

1. Пусковий пристрій дихального апарата з хімічно зв'язаним киснем, що має кисневмісний брикет, ініціювальну ампулу, що включає еластичну півсферу із фланцем, конічний ніж із ситалу, який закріплений усередині півсфери, ініціювальну рідину й еластичну мембрану, яка герметично прикріплена до фланця півсфери фіксатором у вигляді відбортованої кришки з відігнутими вусиками і центральним отвором, а також руйнівний механізм у вигляді корпуса,...

Номер патенту: 56727

Опубліковано: 15.05.2003

Автори: Банахевич Юрій Володимирович, Дзюбик Андрій Романович, Кичма Андрій Олексійович

МПК: G01N 29/00, G01B 11/30

Мітки: контролю, поверхні, пристрій, дефектів

Формула / Реферат:

1. Пристрій для контролю дефектів поверхні, який містить блок обстеження, встановлений з можливістю переміщення по поверхні та з’єднаний із блоком керування, який відрізняється тим, що блок обстеження виконаний у вигляді пари кареток із спільною ланцюговою передачею, кожна з яких містить одну і більше штанг із закріпленими на ній оптичними віддалемірами.2. Пристрій за п. 1, який відрізняється тим, що оптичні віддалеміри встановлені з...

Номер патенту: 53172

Опубліковано: 15.01.2003

Автори: Безвесільна Олена Миколаївна, Старцев Сергій Михайлович, Зайцев Юрій Іванович

МПК: G01B 11/30

Мітки: контролю, граней, багатогранних, спосіб, площинності, призм

Формула / Реферат:

1. Спосіб контролю площинності граней багатогранних призм, який полягає в тому, що на контрольовану грань направляють колімоване світлове випромінювання, який відрізняється тим, що розбивають грань на задані ділянки, з використанням відбитого випромінювання вимірюють плоскі кути між нормалями до різних ділянок контрольованої грані і за отриманими значеннями кутів роблять висновок про відхилення від площинності.2. Спосіб за п. 1, який...

Номер патенту: 49709

Опубліковано: 16.09.2002

Автори: Максимяк Петро Петрович, Дем'яновський Геннадій Валерійович, Ангельський Олег В'ячеславович

МПК: G01B 11/30

Мітки: пристрій, поверхні, вимірювання, шорсткості

Формула / Реферат:

Пристрій для вимірювання шорсткості поверхні, що містить джерело випромінювання, коліматор, який складається з мікрооб'єктива, діафрагми та об'єктива, поляризаційний куб, чвертьхвильову пластинку, два кристалічні клини, що утворюють плоскопаралельну пластину, головні оптичні осі клинів, поляризатор та фотоприймач, який відрізняється тим, що як джерело випромінювання використовують напівпровідниковий лазер, як поляризаційний куб та поляризатор...

Номер патенту: 39069

Опубліковано: 15.05.2001

Автори: Жданенко Олександр Васильович, Вербицький Володимир Павлович, Савенков Сергій Миколайович, Кравченко Вілен Іосипович

МПК: G02B 6/126, G02B 5/30, G01B 11/30 ...

Мітки: визначення, поверхні, шорсткості, спосіб

Формула / Реферат:

(21)  2001032056                                                                   Дата прийняття(54) (57)                                                                                      рішення                                                                                                   09 квітня 2001 р.Спосіб визначення шорсткості   поверхні , який полягає у тому, що на поверхню, яка досліджується, спрямовують...

Номер патенту: 32689

Опубліковано: 15.02.2001

Автор: Рабчевський Микола Борисович

МПК: G01B 11/30

Мітки: профілю, спосіб, вимірювання, поверхні

Формула / Реферат:

1. Спосіб вимірювання профілю поверхні, при якому дані вимірювань реєструють оптичне, який відрізняється тим, що для вимірювання профілю поверхні заповнюють світлопоглинаючою рідиною порожнину, утворену плоскою жорсткою прозорою пластиною та з'єднаною з нею по периметру еластичною мембраною, яка дифузне віддзеркалює світло, пластину притискають до вимірюваної поверхні так, щоб тиск рідини у порожнині забезпечив щільний контакт мембрани з...

Номер патенту: 30176

Опубліковано: 15.11.2000

Автори: Мельник Олена Миколаївна, Массальський Генріх Едуардович, Пающик Іван Іванович, Федоренко Юрій Іванович, Ільніцький Анатолій Юхимович

МПК: G01B 15/00, G01B 11/30

Мітки: зняття, поверхні, спосіб, рельєф, кулі, інформації, гільзи

Текст:

...0,5 с. По знятому масиву чисел на ПЕОМ будуються графічні та півтонові відображення рельєфу поверхні кулі та гільзи. До переваг способу, що пропонується, можна віднести наступне: 1. Можливість зняття інформації в 3-мірному вимірі по будь-якій кількості попе речних перерізів поверхні досліджуваного об'єкту. 2. Спрощення технології підготовки поверхні об'єкту до дослідження. 3. Значне скорочення часу проведення балістичної експертизи. 4....

Номер патенту: 27073

Опубліковано: 28.02.2000

Автори: ХЕГ Марк, ДЕВІДСОН Айєн Семюел, Райс Томас Жерард

МПК: G01B 11/30, G01N 21/93, G01N 21/88 ...

Мітки: виявлення, поверхневих, дефектів, пристрій

Формула / Реферат:

1. Устройство для обнаружения поверхностных дефектов цилиндрических объектов, содержащее три станции контроля качества и средства перемещения объекта от одной станции к другой, причем одна станция содержит средство проверки криволинейной поверхности объекта, а две другие содержат средства проверки торцов объекта, отличающееся тем, что средство перемещения объекта от первой станции контроля, содержащей средство для проверки первого торца...

Номер патенту: 25331

Опубліковано: 30.10.1998

Автори: Шайкевич Ігор Андрійович, Шарапа Андрій Іванович, Скирда Анатолій Сергійович, Титарчук Богдан Борисович

МПК: B31F 7/00, G01B 11/30

Мітки: пристрій, шорсткості, безконтактного, контролю, поверхні, паперу

Формула / Реферат:

Пристрій для безконтактного контролю шорсткості поверхні паперу, що містить розташовані по ходу променя лінзу, в фокальній площині якої розташоване джерело світла, поляризатор, розщеплюючу поляризаційну призму, фотоприймачі, блок обробки сигналів та реєструючий пристрій, який відрізняється тим, що він додатково містить систему двох лінз, які розташовані на відстаняхде L1 - відстань від центру першої лінзи до спрямовуючих...