Установка для рентгенофлуоресційного аналізу сипких матеріалів

Установка для рентгенофлуоресційного аналізу сипких матеріалів, яка має корпус, рентгенівську 33886 поверхнях корпусу 1 - механізми 14 для включення перемикачів 13. З допомогою перемикачів 13 і механізмів 14 рентгенівська трубка 6 підключається до блоку живлення 8. Працює установка для рентгенофлуоресційного аналізу сипких матеріалів таким чином. Кювети 5 з підготовленими зразками розміщують у заглиблення 4 утримувача 2. Утримувач 2 переміщують в напрямній корпусу 1 і установлюють в одне з фіксованих положень, при якому кювета 5 з пробою потрапляє під детектор 7 і рентгенівську трубку 6. При цьому механізм 14 включає перемикач 13 і на рентгенівську тр убку 6 подається відповідна напруга від джерела живлення 8, в наслідок чого буде збуджува тись рентгенівське випромінювання визначуваного елемента в пробі, але не буде збуджуватись флуоресценція елементів з більшими атомними номерами, ніж у визначуваного елемента. При фіксованому положенні утримувача 2 установлюється також відповідна відстань між детектором 7 і поверхнею аналізуючого зразка, при якій флуоресційне випромінювання від елементів з меншими, ніж у визначуваного, атомними номерами буде значно сильніше поглинатися шаром повітря, що знаходиться між пробою і детектором 7. Таким чином, вилучення характеристичного випромінювання визначуваного елементу з боку високих енергій відбувається з допомогою подачі відповідної напруги на рентгенівську тр убку, а з боку низьких енергій - за допомогою встановлювання відповідної відстані між детектором і поверхнею зразка. Для визначення вмісту іншого елемента в пробі утримувач 2 встановлюють в інше фіксоване положення, при якому відповідним перемикачем 13 за допомогою механізму 14 на рентгенівську трубку 6 від джерела живлення 8 подається інша напруга і при цьому встановлюється інша відстань між поверхнею зразка і детектором. Кожний східець 3 утримувача 2 виготовляють такої висоти, щоб в необхідну кількість разів послабити шаром повітря між зразком і детектором флуоресценцію випромінювання елементів з атомними номерами меншими, ніж у визначуваного елемента. Товщина шару повітря між детектором і поверхнею аналізуючого зразка легко розраховується. Оптимальна напруга живлення рентгенівської трубки для кожного елемента визначається з таблиці порогів збуджування рентгенівської флуоресценції з урахуванням наявності елементів з більшими атомними номерами в аналізуючих зразках. Таким чином, пропонований винахід дозволяє розширити можливості одноканальних бездифракційних рентгенофлуоресційних аналізаторів. Особливо ефективне застосування винаходу, якщо визначувані елементи відрізняються величиною атомного номеру на дві і більше одиниці. Застосування пропонованого винаходу дозволяє зменшити кількість аналізаторів в аналітичних лабораторіях, ліквідувати простої апаратури, яка налаштована на визначення тільки одного елементу і в цілому отримати значний економічний ефект. 2 33886 Фіг. 1 Фіг. 2 __________________________________________________________ ДП "Український інститут промислової власності" (Укрпатент) Україна, 01133, Київ-133, бульв. Лесі Українки, 26 (044) 295-81-42, 295-61-97 __________________________________________________________ Підписано до друку ________ 2001 р. Формат 60х84 1/8. Обсяг ______ обл.-вид. арк. Тираж 50 прим. Зам._______ ____________________________________________________________ УкрІНТЕІ, 03680, Київ-39 МСП, вул. Горького, 180. (044) 268-25-22 ___________________________________________________________ 3