Спосіб компенсації впливу випромінювання стороннього джерела на результати виміру яскравості оптичного поля об’єкта у твердій і рідкій фазах

Спосіб компенсації впливу випромінювання стороннього джерела на результати виміру яскра 38844 мент переходу об'єкта з рідкої фази у тверду при виключенні впливу випромінювання стороннього джерела, а також за рахунок використання роздільних коефіцієнтів для твердої і рідкої фаз, що дозволяє підвищити точність компенсації. Поставлена задача досягається тим, що в способі компенсації впливу випромінювання стороннього джерела на результати виміру яскравості оптичного поля об'єкта у твердій і рідкій фазах, який полягає в тому, що сигнал про яскравість у даній точці поверхні об'єкта формують як різницю між сигналом, утвореним сумарним випромінюванням об'єкта і стороннього джерела, і сигналом, утвореним випромінюванням стороннього джерела з коефіцієнтом ослаблення. Новим є те, що коефіцієнт ослаблення визначають по об'єкту в момент фазового переходу його поверхні з рідкої фази у тверду при виключенні впливу стороннього джерела. Визначення коефіцієнта ослаблення сигналу від стороннього джерела в момент переходу об'єкта з рідкої фази у тверду і використання роздільних коефіцієнтів ослаблення для рідкої і твердої фаз дозволяє підвищити точність визначення коефіцієнта ослаблення, відмовитися від використання еталонного об'єкта, усун ути похибки від невідповідності значень коефіцієнтів випромінювальної спроможності об'єкта в рідкій eр і твердій фазах eт значенням коефіцієнтів випромінювальної спроможності еталонних джерел випромінювання, та тим самим підвищити точність компенсації. На малюнку подана діаграма зміни у часі сигналу СЕП АЕ(t), що відповідає сумарному випромінюванню об'єкта і стороннього джерела і сигналу СЕП Ад(t), що відповідає випромінюванню стороннього джерела. Розглянемо спосіб компенсації за допомогою наведеної "діаграми. По мірі нагрівання об'єкта, наприклад електронно-променевою пушкою, відбувається експоненціальне зростання сигналу АЕ(t) до значення АЕТ=А0Т+QT, де: А0Т - компонента сигналу, обумовлена власним випромінюванням фрагмента поверхні у твердій фазі, QT - додаткова компонента за рахунок відбиття від поверхні випромінювання стороннього джерела (електрода). У момент tф1 переходу з твердої фази в рідку амплітуда сигналу АЕ(t) падає до значення AЕР=A0Р+QР, де: АОР - компонента сигналу, обумовлена власним випромінюванням фрагмента поверхні в рідкій фазі, QР - додаткова компонента. Потім знову наступає експоненціальне зростання сигналу AE(t) до моменту tП. У цей момент виключають вплив випромінювання стороннього джерела на формування сигналу, наприклад, виключають електрод, і сигнал АД(t) зменшується до рівня шумів. Об'єкт охолоджується і кристалізуєть ся. Сигнал AE(t) зменшується до значення А0P і в момент tф2 переходу з рідкої фази у тверду стрибком збільшується до значення А0T, яке обумовлене тільки власним випромінюванням об'єкта. Різниця АET і А0T обумовлена долею відбитого випромінювання і визначає, компоненту QT, для об'єкта у твердій фазі. Аналогічно різниця АЕР і АОР визначає компоненту Q P. Відповідно до засобу об'єкт нагрівають. У момент фазового переходу tф1 фіксують значення сигналу АЕ(tФ1)=АЕТ для твердої й АЕ(tФ1)=АЕР для рідкої фаз. Потім електрод виключають, нагрів припиняється і виключається вплив випромінювання стороннього джерела (електрода). У момент tФ2 переходу об'єкта у тверду фаз у фіксують значення сигналу АЕ(tФ 2)=АЕP для рідкої й АЕ(tФ2)=АЕТ для твердої фаз. Для твердої фази коефіцієнт ослаблення випромінювання стороннього джерела визначають як: A - A OT k T = ET . AД Аналогічно для рідкої фази: A - A OP k P = EP . AД Значення сигналу про яскравість об'єкта у твердій або рідкій фазі формують ж різницю сигналів А=А Е(t)-k×АД(t), де: k=kT , kP - коефіцієнт ослаблення для відповідної фази. При цьому способі визначення коефіцієнта ослаблення проводиться окремо при яскравостях, що відповідають яскравостям твердої і рідкої фаз і усувається джерело додаткових похибок, що полягає в невідповідності значень коефіцієнтів випромінювальної спроможності матеріалу в рідкій eP і твердій eТ фазах значенням коефіцієнтів випромінювальної спроможності еталонних джерел випромінювання. Таким чином, поставлена задача удосконалення засобу компенсації впливу стороннього джерела на результати виміру яскравості оптичного поля об'єкта за рахунок підвищення точності визначення коефіцієнта ослаблення випромінювання стороннього джерела досягається тим, що коефіцієнт ослаблення визначається по об'єкту в момент фазового переходу його поверхні з рідкої фази у тверду при виключенні впливу випромінювання стороннього джерела. Тим самим усувається принциповий недолік, властивий усім засобам аналізу оптичних полів, утворених сумішшю власного й відбитого випромінювання в яких використовується калібрування перетворювача. 2 38844 Фіг. __________________________________________________________ ДП "Український інститут промислової власності" (Укрпатент) Україна, 01133, Київ-133, бульв. Лесі Українки, 26 (044) 295-81-42, 295-61-97 __________________________________________________________ Підписано до друку ________ 2001 р. Формат 60х84 1/8. Обсяг ______ обл.-вид. арк. Тираж 50 прим. Зам._______ ____________________________________________________________ УкрІНТЕІ, 03680, Київ-39 МСП, вул. Горького, 180. (044) 268-25-22 ___________________________________________________________ 3