Спосіб оцінки клініко-технологічної якості силіконового відбиткового матеріалу

Завантажити PDF файл.

Формула / Реферат

Спосіб оцінки клініко-технологічної якості силіконового відбиткового матеріалу, який включає вимір та послідовний якісно-дихотомічний аналіз фізико-механічних показників спеціально виготовлених зразків, який відрізняється тим, що якість оцінюють з урахуванням розмірної точності відбитка, яку визначають в умовах натурного експерименту, після чого виконують кількісну оцінку клініко-технологічної якості по узагальненому показнику, який визначають по формулі QСМ=1-((І1/І0+S1/S0+K1/K0...N1/N0)·Gst·log2 Gst/N), де QCM - узагальнений показник клініко-технологічної якості силіконового відбиткового матеріалу; І0, S0, K0, N0 - нормативні значення фізико-механічних показників; І1, S1, K1 - виміряні відповідні показники фізико-механічних властивостей силіконового відбиткового матеріалу; N - загальна кількість врахованих фізико-механічних показників силіконового відбиткового матеріалу; Gst - показник розмірної точності модельного відбитка; і, коли QСМ знаходиться у межах 0,995÷1,005, роблять висновок про клініко-технологічну якість силіконового відбиткового матеріалу, і навпаки.

Текст

Спосіб оцінки клініко-технологічної якості силіконового відбиткового матеріалу, який включає вимір та послідовний якісно-дихотомічний аналіз фізико-механічних показників спеціально виготовлених зразків, який відрізняється тим, що якість оцінюють з урахуванням розмірної точності відбитка, яку визначають в умовах натурного експериме 3 лу при стисканні (К1, Н/мм) визначають по результатах вимірів зусилля (F), що передається експериментальному зразку відомого діаметра (d) за формулою K1=4F/pd2. Вищезгаданий спосіб є найбільш близьким по технічній суті та результату, який може бути досягнуто, тому його обрано за прототип. В основу корисної моделі покладено задачу удосконалення способу оцінки клінікотехнологічної якості силіконового відбиткового матеріалу шляхом додаткового урахування розмірної точності відбитка, визначену в умовах натурного експерименту. Задача, яку покладено в основу корисної моделі, вирішується тим, що у способі оцінки клінікотехнологічної якості силіконового відбиткового матеріалу, який включає вимір та послідовний якісно-дихотомічний аналіз фізико-механічних показників спеціально виготовлених зразків, згідно з корисною моделлю, якість оцінюють з урахуванням розмірної точності відбитка, яку визначають в умовах натурного експерименту, після чого виконують кількісну оцінку клініко-технологічної якості по узагальненому показнику, який визначають по формулі QСМ=1-((І1/І0+S1/S0+K1/K0...N1/N0)·Gst·log2 Gst/N), де QСМ - узагальнений показник клінікотехнологічної якості силіконового відбиткового матеріалу; І0, S0, К0, N0 - нормативні значення фізико-механічних показників; І1, S1, K1 - виміряні відповідні показники фізико-механічних властивостей силіконового відбиткового матеріалу; N - загальна кількість врахованих фізико-механічних показників силіконового відбиткового матеріалу; Gst показник розмірної точності модельного відбитка; і коли QСМ, знаходиться у межах 0,995÷1,005 роблять висновок про клініко-технологічну якість силіконового відбиткового матеріалу; і навпаки. Якість відбиткового матеріалу - узагальнене поняття, яке включає простоту застосування та нешкідливість матеріалу для здоров'я пацієнта, а також його здатність відповідати вимогам щодо фізико-механічних властивостей (Аболмасов Н.Г., Аболмасов Н.Н., Бычков В.А., Аль-Хаким А. Ортопедическая стоматология: Руководство для врачей и студентов - М.: МЕДпресс-информ, 2002. 576с); додатковою вимогою до відбиткового матеріалу, уразі виготовлення незнімних ортопедичних конструкцій є висока розмірна точність щодо відображення взаєморозташування та, власне, розмірів окремих компонентів протезного ложа. Підвищення точності оцінки клінікотехнологічної якості силіконових матеріалів для отримання стоматологічних відбитків досягають тим, що комплексно враховують фізико-механічні та клініко-технологічні властивості, що відповідає сучасним вимогам до стоматологічних матеріалів та, додатково - ураховують показник розмірної точності відбитку. Останнє відіграє вирішальну роль у підвищенні ефективності та якості стоматологічного лікування, а також у технологічному забезпеченні стоматологічного лікування, особливо у разі виготовлення незнімних конструкцій. Спосіб виконують наступним чином: безпосередньо у натуральних виробничих умовах, для виготовлених зразків, на яких вимірюються фізико 45911 4 механічні показники, після виготовлення відбиткової маси матеріалу по технології, зазначеній у інструкції виробника, готують необхідну кількість спеціальних експериментальних зразків для визначення фізико-механічних властивостей: деформації відбитку при стисканні, відновлення відбитку після деформації стисканням, міцності відбитку при згинанні. Для визначення показника деформації (S1, %) при стисканні, виготовляють відбиток у вигляді пластинки визначених розмірів та розраховують S1 по результатах виміру висоти цього відбитку (h) та, повторно, його висоти після стискання (h2) із застосуванням формули S1=100(hh2)/h. Для визначення відновлення відбитку після деформації стискування (І1, %), виготовляють відбитки у циліндричній формі визначеної висоти та діаметра та розраховують її по результатах виміру висоти (h) відбитків до стискання, а також стиснувши відбиток до висоти 0,7h та знявши зусилля, через визначений термін вимірюють відновлену висоту (h3) відбитка, після чого із використанням формули I1=100(1-(h-h3)/h) розраховують показник відновлення висоти відбитка після деформації. Міцність відбитку при згинанні (К, Н/мм) визначають по результатах вимірів зусилля (F) у місці перегину відбитка діаметром (d) із використанням формули K1=4F/pd2. Для визначення розмірної точності, в умовах натурного експерименту отримують відбиток зі спеціально виготовленої та метрологічно вивіреної сталевої моделі елементів протезного ложа. Після чого, застосовуючи стандартизовану процедуру, по відбитку з цієї сталевої моделі виконують виливку гіпсової моделі та виконують аналіз розмірної відповідності гіпсової моделі - металевій. За результатами цих вимірів, у відомій послідовності та використовуючи стандартну процедуру, визначають ступінь розмірної відповідності металевої та гіпсової моделей, відображенням чого слугує багатовимірний коефіцієнт розмірної точності (Gst) гіпсової моделі протезного ложа. По отриманню цих даних, виконують кількісну оцінку клініко-технологічної якості силіконового відбиткового матеріалу по узагальненому показнику, який визначають по формулі QСМ=1((І1/І0+S1/S0+K1/K0...N1/N0)·Gst·log2 Gst/N), де QСМ узагальнений показник клініко-технологічної якості силіконового відбиткового матеріалу; І0, S0, К0, N0 нормативні значення фізико-механічних показників; І1, S1, K1 -виміряні відповідні показники фізикомеханічних властивостей силіконового відбиткового матеріалу; N - загальна кількість врахованих фізико-механічних показників силіконового відбиткового матеріалу; Gst -показник розмірної точності модельного відбитка; і коли QСМ, знаходиться у межах 0,995÷1,005 роблять висновок про клініко технологічну якість силіконового відбиткового матеріалу; і навпаки. Приклад, який ілюструє спосіб. Для оцінки клініко - технологічної якості силіконового відбиткового матеріалу, безпосередньо у натуральних виробничих умовах, за інструкцією виробника визначають фізико-механічні показники: деформації відбитку при стисканні, відновлення відбитку після деформації стисканням, міцності відбитку 5 45911 при згинанні та розмірну точність. Для цього виготовляють чотири експериментальних зразки. Перший зразок, на якому проводилось визначення деформації при стисканні (S, %) виготовлено висотою h=20,0мм; після його затвердіння, використовуючи пластомір відтворювали тиск величиною 125г впродовж 30сек, після чого виміряли його висоту (h2=18,9мм) та із застосуванням формули S1=100(h-h2)/h=100(20,0-18,9)/20,0=5,0%. Другий зразок висотою h=20,0мм; після його затвердіння, використовуючи пластомір стискали (впродовж 5сек) до досягнення висоти 14,0мм (0,7h), після чого, через 2,0хв, виміряли відновлену висоту (h3=19,7мм) відбитка та розрахували показник відновлення після стискання застосовуючи формулу I1=100(1-(h-h3)/h)=100(1-(2019,7)/20)=98,5%. Третій зразок, висотою 20,0мм та діаметром (d) 12,5мм, після затвердіння стискали зі швидкістю 100,0Н/хв та вимірювали зусилля (F) у зоні перегину відбитка, після чого використовуючи формулу K1=4F/pd2=0,78Н/мм2 одержали значення міцності відбитку на згинання. Для визначення розмірної точності, після отримання відбитку Комп’ютерна верстка О. Рябко 6 зі спеціально виготовленої та метрологічно вивіреної стальної моделі елементів протезного ложа, застосувавши стандартизовану процедуру виливки гіпсової моделі, виміряли індикаторні відстані на гіпсовій моделі. Після цього, за результатами вимірів, у відомій послідовності та використовуючи стандартну процедуру, визначили ступінь розмірної відповідності металевої та гіпсової моделі, яка у вираженні багатовимірного коефіцієнту розмірної точності склала Gst=0,998. Після цього, згідно з формулою корисної моделі оцінюємо клініко-технологічу якість силіконового відбиткового матеріалу по узагальненому показнику QСМ=1-((І1/І0+S1/S0+K1/K0...N1/N0)·Gst·log2 Gst/N)=1,-((98,5/95,0+5,0/5,0+0,78/0,35)·0,998·log2 0,998/3)=1-((1,03+1,00+2,23)·0,002/3)=1-0,004= =0,996. Отже, оскільки значення QCМ знаходиться у передбачених формулою корисної моделі межах, можна зробити висновок про задовільну клінікотехнологічну якість силіконового матеріалу для отримання стоматологічних відбитків. Підписне Тираж 28 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601

Дивитися

Додаткова інформація

Назва патенту англійською

Method for assessing clinical and technological qualities of silicone materials for dental imprints

Автори англійською

Holik Viktor Pavlovych, Yaryna Ihor Mykolaiovych, Shklyar Sergiy Petrovich, Yanishen Ihor Volodymyrovych

Назва патенту російською

Способ оценки клинико-технологического качества силиконового оттискного материала

Автори російською

Голик Виктор Павлович, Ярина Игорь Николаевич, Шкляр Сергей Петрович, Янишен Игорь Владимирович

МПК / Мітки

МПК: A61B 10/00

Мітки: відбиткового, клініко-технологічної, спосіб, оцінки, матеріалу, силіконового, якості

Код посилання

<a href="https://ua.patents.su/3-45911-sposib-ocinki-kliniko-tekhnologichno-yakosti-silikonovogo-vidbitkovogo-materialu.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб оцінки клініко-технологічної якості силіконового відбиткового матеріалу</a>

Подібні патенти