Патенти з міткою «відбиткового»

Номер патенту: 72133

Опубліковано: 10.08.2012

Автори: Гризодуб Василь Іванович, Бок Юрій Валентинович, Гризодуб Дмитро Васильович

МПК: A61C 9/00

Мітки: підбору, альгінатного, індивідуального, спосіб, відбиткового, матеріалу

Формула / Реферат:

Спосіб індивідуального підбору альгінатного відбиткового матеріалу шляхом визначення стану оточуючих зуби тканин та кодування визначених ознак, який відрізняється тим, що при первинному огляді пацієнта оцінюють рухомість зубів, наявність вираженого екватора та піднутрень зубів, вираженість блювотного рефлексу, сухість слизової оболонки, клас точності протезування та рентегенологічно визначають ступінь атрофії альвеолярного пародонту, після...

Номер патенту: 46304

Опубліковано: 10.12.2009

Автори: Філатов Ігор Вікторович, Довгопол Юрій Іванович, Черняєв Святослав Володимирович, Янішен Ігор Володимирович, Шкляр Сергій Петрович, Голік Віктор Павлович

МПК: A61B 10/00

Мітки: матеріалу, спосіб, відбиткового, якості, оцінки

Формула / Реферат:

Спосіб оцінки якості відбиткового матеріалу, що включає вимір та послідовний якісно-дихотомічний аналіз фізико-механічних показників спеціально виготовлених зразків, який відрізняється тим, що додатково оцінюють знезаражувальну активність стоматологічного матеріалу, після чого виконують кількісну оцінку за узагальненим показником якості, який визначають за формулою QСМ=1-((I1/І0+S1/S0+К1/К0...N1/N0)∙Z∙log2Z/n), де QСМ -...

Номер патенту: 45911

Опубліковано: 25.11.2009

Автори: Ярина Ігор Миколайович, Янішен Ігор Володимирович, Голік Віктор Павлович, Шкляр Сергій Петрович

МПК: A61B 10/00

Мітки: силіконового, матеріалу, оцінки, спосіб, якості, відбиткового, клініко-технологічної

Формула / Реферат:

Спосіб оцінки клініко-технологічної якості силіконового відбиткового матеріалу, який включає вимір та послідовний якісно-дихотомічний аналіз фізико-механічних показників спеціально виготовлених зразків, який відрізняється тим, що якість оцінюють з урахуванням розмірної точності відбитка, яку визначають в умовах натурного експерименту, після чого виконують кількісну оцінку клініко-технологічної якості по узагальненому показнику, який...

Номер патенту: 15874

Опубліковано: 17.07.2006

Автор: Король Дмитро Михайлович

МПК: A61C 13/00

Мітки: штифта, конструкція, відбиткового, діагностичного

Формула / Реферат:

Конструкція діагностичного відбиткового штифта, що містить внутрішньокісткову голкоподібну частину, яка відрізняється тим, що додатково в конструкцію введена надкісткова частина, діаметр надкісткової частини діагностичного штифта дорівнює діаметру з'єднувальної шайби, розміщеної в підокосній частині внутрішньокістково-підокісного імплантата, на надкістковій частині виконані ретенційні насічки.

Номер патенту: 4276

Опубліковано: 17.01.2005

Автори: Голік Віктор Павлович, Томілін В'ячеслав Геннадійович, Шкляр Сергій Петрович, Янішен Ігор Володимирович

МПК: A61B 10/00, A61C 9/00

Мітки: спосіб, матеріалу, оцінки, технологічної, стоматологічного, відбиткового, якості

Формула / Реферат:

Спосіб оцінки технологічної якості відбиткового стоматологічного матеріалу, який включає вимір та послідовний якісно-дихотомічний аналіз фізико-механічних показників спеціально виготовлених зразків, який відрізняється тим, що технологічну якість оцінюють за показником пилоутворення, який вимірюють на різних етапах застосування відбиткового стоматологічного матеріалу, після чого виконують кількісну оцінку за узагальненим показником...