Пристрій для знаходження центра магнітного відбитка

Пристрій для знаходження центра магнітного відбитка, що містить однощілинну потокочутливу магнітну головку зчитування, сигнальна обмотка якої зв'язана з індикатором через послідовно з'єднані фазовий детектор, перший пороговий елемент та логічний елемент І, а також другий пороговий елемент, зв'язаний зі схемою НІ, збуджувач та амплітудний детектор, виходом зв'язаний через послідовно з'єднані другий пороговий елемент та схему НІ з другим входом логічного елемента І, а 3 59567 підключено до збуджувача, а вимірювальну обмотку зв'язано з амплітудним детектором, тригер, виходи якого зв'язано з додатковими входами індикатора, а входи з'єднано з третім та четвертим пороговими елементами, входи яких підключено до виходу другого фазового детектора, зі входом якого сполучено вимірювальну обмотку, згідно корисної моделі, пристрій обладнано додатковими другим та третім логічними елементами І, перші входи яких підключено до виходу першого порогового елемента, другі входи з'єднано з виходами третього та четвертого порогових елементів, а виходи приєднано до додаткових входів індикатора. Суть корисної моделі пояснюється кресленням (фіг. 1), де зображено пристрій для знаходження центра магнітного відбитка, що містить носій 1, однощілинну потокочутливу магнітну головку 2 зчитування, збуджувач З, перший та другий фазові детектори 4 та 5, амплітудний детектор 6, порогові елементи 7-10, логічний елемент НІ 11, тригер 12, логічний елементи І 13-15 та індикатор 16. Однощілинна потокочутлива магнітна головка 2 зчитування містить сигнальну 15 та вимірювальну 16 обмотки та обмотку збудження 17. На фіг. 2 показані діаграми роботи пристрою. Пристрій для знаходження центра магнітного відбитка працює наступним чином. Попередньо магнітною головкою для поздовжнього запису (не показано) на носій 1 наноситься магнітний відбиток. При русі керованого об'єкта вздовж носія 1, на якому розташована однощілинна потокочутлива магнітна головка 2 зчитування, на виході першого фазового детектора 4 з'являється сигнал, еквівалентний горизонтальній складовій напруженості H магнітного поля відбитка (епюра гр , фіг. 1), на виході другого фазового детектора 5 - сигнал, зчиH таній за схемою градієнтометра (епюра гр , фіг. 1), а на виході амплітудного детектора 6 - сигнал, Hгр Hгр еквівалентний модулю кривої (епюра , фіг. 1). При переміщенні керованого об'єкта у напрямку «Уперед» у точці α спрацьовують другий поро 4 говий елемент 10 з порогом спрацювання  (епюра u10 , фіг. 1) та третій пороговий елемент  з порогом спрацювання - 8 (епюра u 8 , фіг. 2), що спричиняє подачу команди УПЕРЕД 1 (епюра u 8 , фіг. 1), на додатковий вхід індикатора 16 та вироблення тригером 12 по виходу 12-1 сигналу з ознакою руху УПЕРЕД (епюра u12 1 , фіг. 2), який подається на індикатор 16 і зберігається на час перебування однощілинної потокочутливої магнітної головки 2 зчитування у вузькій зоні центра магнітного відбитку, коли з'являється імпульс на виході логічного елемента І 13 (епюра u13 , фіг. 2), оскільки на його входах присутні сигнали з порогового елемента 7 (епюра u 7 , фіг. 1) та з логічного елемента НІ 11 (епюра u11 , фіг. 1). При перевищенні сигналом з першого фазового детектора 4 порога спрацювання  вмикається перший пороговий елемент 7, при цьому на виході другого логічного елемента І 14 формується команда на зниження швидкості рухомого об'єкта УПЕРЕД 2 (епюра u14 ,фіг. 1), яка подається на додатковий вхід індикатора 16. При переміщенні керованого об'єкта у напрямку «Назад» пристрій працює аналогічно, тільки міняється черговість спрацювання третього та четвертого порогових елементів 8 та 9 і вироблення тригером 12 сигналів u12 1 та u12  2 (епюри u8  u12  2 , фіг. 2). При цьому видається сигнал з ознакою руху НАЗАД (епюра u12  2 ,фіг. 2), подаються команда НАЗАД 1 (епюра u 9 , фіг. 1) та команда на зниження швидкості НАЗАД 2 (епюра u15 , фіг. 1) на додаткові входи індикатора 16. Пропонована корисна модель забезпечить високу точність знаходження центра магнітного відбитка. 5 Комп’ютерна верстка І.Скворцова 59567 6 Підписне Тираж 24 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601