Пристрій для контролю зміни положення електропровідної або магнітодіелектричної поверхні

Пристрій для контролю зміни положення електропровідної або магнітодіелектричної поверхні, що містить сенсор у вигляді спіралеподібної пласкої котушки індуктивності, виготовленої як друкована плата, який відрізняється тим, що сенсор виконаний як група спіралеподібних пласких котушок, співвісно розміщених на заданій відстані одна від одної та виготовлених як багатошарова друкована плата, причому сенсор електрично зв'язаний з блоком вимірювання та контролю. (19) (21) u201102528 (22) 03.03.2011 (24) 12.12.2011 (46) 12.12.2011, Бюл.№ 23, 2011 р. (72) ЗАКРЕВСЬКИЙ ОЛЕКСАНДР ФРАНЦОВИЧ, МОВЧАНЮК АНДРІЙ ВАЛЕРІЙОВИЧ (73) НАЦІОНАЛЬНИЙ ТЕХНІЧНИЙ УНІВЕРСИТЕТ УКРАЇНИ "КИЇВСЬКИЙ ПОЛІТЕХНІЧНИЙ ІНСТИТУТ" 3 впливають на процес вимірювання. Виміряний імпеданс запам'ятовують в пам'яті мікропроцесорного блоку 6 та повторюють процедуру підключення кожної з котушок сенсора 3 до генератора 1 при розімкненні інших котушок, а виміряні значення імпедансу запам'ятовують в пам'яті мікропроцесорного блоку 6. На базі отриманих значень будують функціональну криву залежності приросту імпедансу від зміщення поверхні. Підвищення точності, чутливості та стабільності роботи пристрою забезпечуються тим, що вплив інших параметрів на значення імпедансу котушок в калібрувальній функціональній залежності вже врахований. До параметрів, які впливають на імпеданс котушок можна віднести: а) параметри матеріалу (електропровідність, магнітна проникність); б) непаралельність площини, в якій лежить сенсор, до площини поверхні; в) конечність габаритів поверхні у площині, що перпендикулярна осі, на якій розміщено сенсор; г) наявність дефектів на поверхні; д) випуклість на ввігнутість поверхні; е) локальна неоднорідність електропровідності або магнітної проникності; є) різна шорсткість поверхні; ж) наявність діелектричного шару на поверхні з наперед невідомою товщиною; з) температура; а також інші статичні або повільно змінювані фактори. У випадку повільної зміни наведених факторів, можна автоматично проводити періодичну корекцію калібрувальної залежності в процесі вимірювання. При калібруванні залежності імпедансу від відстані достатньо визначитися з двома крайніми положеннями поверхні: при щільному притисканні 65359 4 сенсора 3 до поверхні та при його розташуванні на максимально допустимій відстані, що забезпечується, наприклад, за допомогою попередньо виготовленої пластини певної товщини. За отриманими даними будують криву залежності імпедансу від відстані до поверхні. Контроль зміни положення поверхонь здійснюють наступним чином. Одна з котушок сенсора 3, що розміщений над об'єктом вимірювання, після проведення калібрування, підключається до генератора 1 за посередництвом перемикачів 2 мікропроцесорним блоком 6 та проводиться вимірювання значення імпедансу котушки сенсора у вихідному положенні, яке слугує точкою відліку зміщення об'єкта вимірювання, проводять моніторинг імпедансу котушки сенсора, за різницею якого з імпедансом котушки сенсора З у вихідному положенні та функціональної залежності "приріст імпедансу котушки-зміщення" визначають фактичне зміщення. Пристрій може бути застосований при контролі параметрів вібрації об'єкта вимірювання та визначення положення сенсора відносно об'єкта вимірювання. Джерела інформації: 1. Соболев B.C., Шкарлет Ю. М. Накладные и экранные датчики, Новосибирск, Сибирское отд. изд. "Наука", 1967. 2. Дякин В. В., Сандовский В. А. Теория и расчет накладных вихретоковых преобразователей. М.: Наука, 1981. 5 Комп’ютерна верстка І. Скворцова 65359 6 Підписне Тираж 23 прим. Державна служба інтелектуальної власності України, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601